Штанга для ударного бурения

Номер патента: 1441177

Опубликовано: 30.11.1988

Автор: Лаанеотс

МПК: G01B 7/06

Метки: мера, покрытия, толщины

...участок 6 покрытия 2,Показания толщиномера сравниваютлибо с аттестованной толщиной одногоподслоя меры при однопараметрическомизмерении толщины покрытия 2, либо ссуммарной аттестованной толщиной покрытия 2 при многопараметрическом измерении толщины покрытия, Могут бытьтакже промежуточные варианты, Еслитолщиномер измеряет в многослойномпокрытии 2 только толщину двух подслоев, то в этом случае при поверкетолщиномера сравнивается показаниетолщиномера с аттестованной толщинойдвух вышеназванных слоев меры,Для градуировки и понерки толщиномеров, измеряющих толщины оксидных покрытии, а также толщиномеров, измеряющих толщины покрытий, нанесенных диффузионным способом, нужны меры толщины с указанными покрытиями, Известные меры толщины покрытий...

Номер патента: 280873

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Митюк, Панарин, Правиков

МПК: G01B 15/02, G01N 23/207

Метки: покрытий, прибор, радиоизотопный, толщины

...винт 7 снабжен ограничителем,включающим в себя пружину 10 и фиксатор 11, На подвижной части 2 корпуса выполнена резьба, па которую навинчен корпус 12 с диафрагмой 13. На неподвижной части 1 15 корпуса расположены ручка 14 затвора 15с эталоном 1 б покрытия, перемещаемая в три фиксированных положения: нерабочее - настройка - работа, и оптическое устройство, состоящее из источника 17 света, зеркала 18 20 и линзы 19.Работает прибор следующим образом. Перед измерением толщины покрытия производят настройку прибора на эталон 1 б. Для этого ручкой 4 перемещают затвор 15 из не рабочего положения в положение настройки.Поворотом ручки 9 опускают подвижную часть 2 корпуса с источником Р-излучения и коллпматором 3, При достижении необходимого...

Номер патента: 1081516

Опубликовано: 23.03.1984

Авторы: Будкевич, Верстак, Дубровская, Короткина, Рутман

МПК: G01N 27/26

Метки: зон, композиционных, материалах, межфазных, многослойных, покрытиях, слоев, толщин

...электрохимического растворения подложки при постоянстве электрохимических параметров процесса, используя характер зависимости потенциала электрохимического растворения каждого слоя или зоны от времени, выявляют каждый слой (зону) и время его растворения, основываясь на регистрации соответствующих точек перегиба кривой зависимости электрохимического потенциала от времеви.Способ осуществляется следующим образом.1081516 Таблица 1 Опыт Слой ванадия Переходная зонаванадий-железо Слой железа 12, мкм Ъ ,мкм Г ч Ьз, мкм 0,828 0,833 0,836 1 2,006 2 2,000 3 2,010 0,404 0,403 0,405 0,172 0,173 0,174 4,185 0,7894,200 0,792 4,224 0,798 перегиба кривой зависимости потенциала электрохимического растворения от времени.Потенциалы...

Номер патента: 1710996

Опубликовано: 07.02.1992

Автор: Косовский

МПК: G01B 7/06

Метки: вихретоковых, градуировки, мера, поверки, покрытий, покрытия, толщиномеров, толщины, электромагнитных

...2.относительно рабочей поверхности основы. 55 профрезерован сквозной прямоуголъный1 нова 1 выполняется из немагнитного металла, например из сплава Д 16 Т. Для электрО- магнитных толщиномеров основа 1 изготавливается из стали 20 - стали 45. Мера дополнительно снабжена четырьмя одинаковыми цилиндрическими стержнями 3, диаметр которых равен толщине основания 1. Два стержня 3 закреплены по одному на торцах противоположных сторон основы 1, содержащих паз. Данные стержни размещены одинаково на торцовых сторонах основы 1 и смещены вверх так, чтобы их верхние образующие выступали над поверхностью основы 1 на величину, равную(4/5 -1/5)т, При этом верхние образующие стержней 3 параллельны между собой и рабочей поверхности основы 1. Два других...

Номер патента: 1795267

Опубликовано: 15.02.1993

Авторы: Власов, Кухаренко, Пупышев

МПК: G01B 7/06

Метки: пленочного, поверхности, покрытия, толщины

...определяют по отношению его веса к произведению площади образца на удельный вес материала покрытия. 1 ил. ляют фторопластовое покрытие от полиимидной пленки путем растворения последней в растворителе, взвешивают отделенное покрытие и рассчитывают его толщину по отношению веса отделенного покрытия к произведению площади образца нэ удельный вес материала покрытия,На чертеже показана схема устройства для реализации способа.Устройство содержит рулон 1 с полиимидной пленкой 2, ванну 3 с фторопластовой суспензией, вал 4, термокамеру 5, рулон пленки с покрытием 6, датчик толщины покрытия 7.Способ реализуют следующим образом, На полиимидную пленку 2 методом окунания в ванну 3 с водной суспензией фторопласта наносят слой суспенэии. В термокамере...