Способ анализа взвешенных частиц
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 507807
Автор: Матвеев
Текст
(51) М, Кл, б 01 И 15/02 Гасудератеенный номитет Совете Министрае СССР по делам изооретений н открытий(71) Заявитель Институт экспериментальной метеорологии(54) СПОСОБ АНАЛИЗА ВЗВЕШЕННЫХ ЧАСТИЦ 10 Изобретение относится к исследованиям"взвешенных частиц. Известен способ анализа взвешенных частиц, заключающийся в том, что исследуемые частицы облучают монохроматическим излучением, рассеянное излучение смешивают вают с опорным и подают на фотоприемник,11 елью изобретения является повышение точности анализа взвешенных частиц,Это достигается одновременным воздействием ца частицы зондирующего моно- частотного электромагнитного излучения и акустических колебаний.Под моночастотным электромагнитным излучением подразумевается монохромати ческое излучение или смешанное излучение, но промодулированное внешней частотой.Частицы различного размера в различной степени увлекаются колебаниями окружающей среды, т.е, скорость частицы однозначно определяется ее массой и размерок при неизменных параметрах воздейст- вующего акустического излучения. Зондирующее электромагнитное излучение должно быть монохроматичньтм или прзмодулировано постоянной частотой,Рассеиваясь на движущейся частице,зондирующее излучение меняет свою частотуили частоту модуляции (эффектДопплера) всоответствии со скоростью частицы в данном направлении и определяется размеромчастицы и массой.Проводя амплитудно-частотный анализрассеянного излучения, находят следующиехарактеристики частиц. Измеряя изменениечастоты рассеяннсго частицей электромаг-снитного излучения, находят с большой точностью радиус сферической частицы при из,вестной плотности вещества ча"тицы. Боль,шая степень точности обеспечивается ис 1 пользованием частотного метода анализа;рассеянного чзлучения, свободного от ошибок, присущих амплитудному методу,При известном размере частицы можнонайти плотность ее вещестза, также анализируя частоту рассеянного частицей излучения,Исследуя амплитуду рассеянного части:цей излучения, находят коэффициент отраже
СмотретьЗаявка
1986354, 08.01.1974
ИНСТИТУТ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЙ МЕТЕОРОЛОГИИ
МАТВЕЕВ ОЛЕГ МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 15/02
Метки: анализа, взвешенных, частиц
Опубликовано: 25.03.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-507807-sposob-analiza-vzveshennykh-chastic.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ анализа взвешенных частиц</a>
Предыдущий патент: Вибрационный вискозиметр
Следующий патент: Устройство для контроля параметров процессов горения
Случайный патент: Способ получения комбинированного уплотнения