Способ определения времени проявления и оптимальной экспозиции
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(23) ПриоритетОпубликовано 30.11.75. Бюллетень44Дата опубликования описания 04.03.7 б Кл. О 03 с 5,0 осударствеииый комите овета Мннистров ССС по делам изобретений УДК 771.534,52(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ПРОЯВЛЕН И ОПТИМАЛЬНОЙ ЭКСПОЗИЦИИ2 отограф 1 ским относится к фцессам,особы определения воптимальной экспозицииавнения плотности испьплотностью эталонногополя.ощения и ускорения пркалу клина-компенсаторупенч атой шкалой пролучения равномерногох плотностей, а затемполе уравнивают с эталым полем путем сматора на целое числоитывают экспозицию. мени утем емо- нейоцесса а сообного серогополуонным ещения полей,На фнг. 1 показанамени проявления, налеция экспозиции.При осуществлениино выполняют следуюрительно экспонируютшкалу; полученное скрявляют, фиксируют иизображение серойвизуально вмесге склиньев-компенсаторовторых нарастает навстива серой шкалы, обмерное серое поле. хема определения вре фиг. 2 - схема опреде способа последова щие операции; пр серую ступенч ытое изображение промывают; негат шкалы рассматри набором ступенч плотность поле речу плотностям разуя в сумме ратую проивное вают атых и ко- нега- авноИзобретение способам и проИзвестны сп проявления и визуального ср го негатива с трально-серогоС целью упр ступенчатую ш вмещают со ст негатива до п поля суммарнь ченное серое нейтрально-сер клина-компенс по которому сч Далее наблюдают на просвет шкалу, представляющую собой сумму оптических плотностей испытуемого негатива и одного цз эталонных клиньев-компенсаторов. Рассматри вая одновременно все поля, обнаруживаютнарастание плотностей полей вправо илц влево, что является показателем перепроявления (фиг. 1,в) или недопроявления (фиг. 1,а) негатива по отношению к задан ному оптимальному коэффициенту контрастности (фиг, 1, б). Вводят поочередно,ряд клиньев-компенсаторов до получения равномерного серого поля и получают поправку во время проявления в процентах.15 Сопоставляя полученное равномерное серое поле с оптимальной эталонной плотностью, обнаруживают либо совпадение оптических плотностей негатива и компецсатора с эталонной, что свидетельствует о пра вильной экспозиции (фиг. 2, д), либо разницув плотностях, что указывает на недодержку (фиг. 2,г) или передержку (фиг. 2,е). Смещая компенсатор на одну - две ступени вправо или влево, добиваются равенства 25 плотностей негатива и компенсатора с эталонной плотностью и отсчитывают поправку в экспозицию.Определение поправок занимает несколькоминут и обеспечивает высокую точность бла годаря одновременному визуальному сопоставлению оптических плотностей., Батурина Техред Е. Митрофанова Корректор М. Лейзерм едактор Изд,2029 осударственного комитет по делам изобретений Москва, Ж.35, РаушскаПодписнов СССР апунова, 2 пография,Способ определения времени проявления и оптимальной экспозиции путем визуального сравнения плотности испытуемого негатива с плотностью эталонного нейтрально-серого поля, отличающийся тем, что, с целью упрощения и ускорения процесса, ступенчатую шкалу клина-компенсатора совмещают со ступенчатой шкалой пробного негатива до получения равномерного серого поля суммарных плотностей, а затем полученное серое поле уравнивают с эталонным нейтрально-се рым полем путем смещения клина компенсатора на целое число полей, по которому считывают экспозицию.Приоритет 02.04.73.
СмотретьЗаявка
2054589, 26.08.1974
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ЗЕМЕЛЬНЫХ РЕСУРСОВ
ТАМИЦКИЙ ЭРНЕСТ ДМИТРИЕВИЧ, ПЕЙРИК ВАЛЕНТИН СЕМЕНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G03C 5/02
Метки: времени, оптимальной, проявления, экспозиции
Опубликовано: 30.11.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-493760-sposob-opredeleniya-vremeni-proyavleniya-i-optimalnojj-ehkspozicii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения времени проявления и оптимальной экспозиции</a>
Предыдущий патент: Способ изготовления баритованной фотоподложки
Следующий патент: Испаритель аммиачной жидкости
Случайный патент: Ждущий мультивибратор