Устройство для определения интегральной оптической плотности субмикроскопических объектов

ь 11 ь 483227 Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 04.01.74 (21) 1983583/26-25 М Кл Н 01137 у 2 исоединением заявки -Государственнььй комитет Совета Министров СССР(32) Приоритет -Опубликовано 05.09,75. БюллетеньДата опубликования описания 31.03.76(53) по делам изобретени и открытий2) Авторы изобрет Литинская и Ю Козлов ус(71) Заявитель Московский ордена Ленина и ордена Трудо Знамени государственный университет им. М о Красного(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯТЕГРАЛЬНОЙ ОПТИЧЕСКОЙ ПЛОТНОСТСУБМИКРОСКОПИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ ающую изображение ана на регистрирую На основазаписать, чторуемого вещеинтегралу гоотношения инка до и после Бера можно фотом етри. орционапьно логарифма онного пуч. ьи закона Бугера - общее количество тва в объекте про лощади объекта о енсивностей элект поглощения Изобретение относится к электронно-оптическим устройствам для определения интегральной оптической плотности субмикроскопических объектов, наблюдаемых в электроньсом микроскопе.5Известны устройства аналогичного назначения, содержащие комплекс аппаратуры, включая телевизионную систему, видеоусплительную и интегрирующую аппаратуру.Недостатками таких устройств являются 10 их сложность и высокая стоимость.Цель изобретения - упрощение устройст.ва, позволяющего измерять интегральную оптическую плотность объекта.Эта цель достигается введением в вакуум- ь 5 ный объем колонны электронного микроскопа дополнительного экрана, покрытого люмпно. фором с логарифмической световой характеристикой, и установкой впе вакуумной сп.стемы электронного микроскопа на одной о оптической оси последовательно друг за другом линзовой системы и фотоприемника,На чертеже приведена принципиальная схема устройства для определения интегральной оптической плотности субмикроскопиче ских объектов.Устройство содержит покрытый люминофором стеклянный экран 1, находящийся внутри вакуумного объема колонны 2 электронного микроскопа, линзовую систему 3, перед с люминесцентного экщий фотоприемник 4,Поток электронов, прошедший через объект, попадает на люминесцентный экран 1, находящийся внутри вакуумного ооъема колонны 2 электронного микроскопа в ьчссте формирования электронного изображения объ. екта. Преобразование интенсивности электронного пучка, падающего на люминесцентный экран 2, в световой поток осуществляется не. линейно, в соответствии с логарифмической световой характеристикой выбранного люминофора и подчиняется закону ослабления Бугера - Бера. Световой поток ослабляется в каждой точке изображения по световой характе. ристике, аппроксимирующей логарифмпческун кривую, Этим осуществляется операция логарифмирования в каждой точке изображения объекта.где А и В - новые константы,Таким образом, количество вещества вобъекте пропорционально разности двух измерений тока в цепи нагрузочного сопротивления фотоумножителя: первого - при проектировании на люминесцентный экран объ 1 Оекта, окруженного диафрагмои, и второго -нпри проектировании фона, окруженного тойже диафрагмой, Роль диафрагмы выполняетоправа люминесцентного экрана, Световойпоток от экрана передается на фотоприемниклинзовой системой,1 п= Еа ) - Во Устройство для определения интегральнойоптической плотности суб ми к рос копических объектов, содержащее электронный микроскоп и фотометрическую приставку, отличающееся тем, что, с целью ускорения процесса измерения и упрощения устройства, в колонну электронного микроскопа в плоскости изображения объекта введен дополнительный стеклянный экран, покрытый люминофором, а за шм на одной оптической оси расположены по ходу прохождения светового потока соби- ЗО дательная линза и фотоприемник.1сД оставитель Б. Текред Т. М Орловс Корректор В, Гутман ова е, ак аказ 170/342 Изд. М 99 ЦНИИПИ Государственного к по делам изоб Москва, Ж.35, РПодписноеов СССР Тираж 83 митета Совета Мини теиий и открытий ушскаи иаб, д. 4/5Тип, Харьк, фил. пред. Паген площадь диафрагмы;интенсивность электронного пучка до прохождения через объект;интенсивность электронного пучка в различных точках площади объекта после прохождения электронов через объект. Подинтегральпую функцию можно выразить в виде:1 п - =1 п - 1 п((о так как (, = сопй, то и 1 и(,= А, = сопз 1.В то же время известно, что где Е,- интенсивность светового потокас люминесцентного экрана;Во - некоторая постоянная величина. Для перехода к световой характеристике фотоумножителя используется пропорциональная зависимость между Е,и током в цепи нагрузки фотоумножителя (ф. Функции Е, ) и 1 п( делятся на коэффи.циент пропорциональности К, тогда: О А, и В, к э ккфй