Устройство для исследования параметров листовых диэлектриков

Номер патента: 470737

Авторы: Вайнберг, Павельев, Стенина, Шуюкова

ZIP архив

Текст

пц 470237 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН Ия К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУСоюз Советских Социалистических Ресоублик(23) ПриоритетОпубликовано 15.05,75. Бюллетень Хе Государственнын номите Совета Министров СССР но делам изобретений 53) УДК 621.317.335,531крыт Дат ликования описания(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПАРАМЕТР ЛИСТОВЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВобретения Изобретение относится к технике СВЧ-измерений.Известно устройство для исследования параметров листовых диэлектриков, содержащее линейные многоканальные передающую и приемную антенны.Однако такое устройство обладает низкой чувствительностью и точностью измерений,С целью повышения чувствительности и точности измерений в предлагаемом устройстве между передающей и приемной антеннами установлен отражатель.На чертеже изображено предлагаемое устройство для исследования параметров листовых диэлектриков.Устройство состоит из линейной многоканальной передающей антенны 1, линейной многоканальной приемной антенны 2 и отражателя 3.Устройство работает следующим образом.Электромагнитные СВЧ-колебания из каждого канала передающей антенны 1 поступают на вход соответствующего канала приемной антенны 2 после взаимодействия с контролируемым изделием в виде суммы двух волн: первичной волны прямой связи между антеннами и вторичной волны, связанной с переизлучением отражателя 3. Перемещая отражатель 3 относительно антенны 1 и 2, плавно регулируется амплитуда и фаза вторичной волны. Прп достижении равенства амплитуд первичной и вторичной волн и их противофазности амплитуда СВЧ-колебаний на входе приемной антенны 2 в присутствии однородного листового диэлектрика резко уменьшается. Наличие даже малых амплитудных или фазовых дефектов в слое исследуемого диэлектрика нарушает баланс первичной и вторичной волн на входе приемной антенны 2, в результате чего резко повышается чувствительность и точность измерений.Устройство может использоваться в различных режимах исследования листовых диэлектриков: на прохождение, на отражение и при ортогональных номеризациях передающей и приемной антенны.Конструкция отражателя 3 может быть различной,Предмет изУстройство для исследования параметров листовых диэлектриков, содержащее линейные многоканальные передающую и приемную антенны, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности измерений, между антеннами установлен отражатель.470737 ПодписиССР Изд. Мо 1436 Тираж 902 сударственного комитета Совета Мин по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5

Смотреть

Заявка

1976479, 25.10.1973

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6303

ВАЙНБЕРГ ИРИНА АЛЕКСЕЕВНА, ВАЙНБЕРГ ЭДУАРД ИЛЬИЧ, ПАВЕЛЬЕВ ВИТАЛИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, СТЕНИНА ЛЮДМИЛА ПАВЛОВНА, ШУЮКОВА ВАЛЕНТИНА НИКОЛАЕВНА

МПК / Метки

МПК: G01N 23/24

Метки: диэлектриков, исследования, листовых, параметров

Опубликовано: 15.05.1975

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-470737-ustrojjstvo-dlya-issledovaniya-parametrov-listovykh-diehlektrikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для исследования параметров листовых диэлектриков</a>

Похожие патенты