Способ исследования структурных изменений в материалах

Номер патента: 453619

Авторы: Горшков, Калантаров, Львов

ZIP архив

Текст

(22) Заявлено 04.0 М 23/00 присоединением заявкиГасударственный кастет Соввтв Иинистроо СССР оо делам изобретений н открытий(43) Опубликовано УДК 550.835(088,8 М 19 05. 76, Бюллетень ния описания 30.0(71) Заявитель 54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРНЫХ ИЗМЕНЕ В МАТЕРИАГАХИзвестны способы исследования струк-.турных изменений в материалах, ос 1 тованные на пропускании через образцы рентгеновских лучей и нейтронов. В обоих случаяхузкий пучок монохроматических излученийпропускают через образец, и пэ дифракционной каватине от иэошедылх изл 7 ченлйогеделяютструковрные изменения в образце,Однако эти способы ках правило, м-:лэчувствительны в случ:е тонких образ оз,особенно, если последние имеют малую - плотность (например, алюминий толилнэйв несколько микрон), что сужает диапазонфизических исследований материалов. цДля повышения чувствительнос:я измере:лня структурных изменений в тэн-.лх обэазцах пэ предлагаемому счособу через исследуемый материал до и после структурных изменений в нем, пропускают оскот.- .Оки деления тяжелых ядер, регистрируют ихтзердэтееьным каналовым детектэ.эом, например силикатным стеклом, и по изменению размеров или плотности следов, образо - .ихся эт осколков деления на по- д верхности детектора судят о соответствующем ему структурном изменении в материале.Предлагаемый способ позволяет наблк- дать структурные изменения в любых материалах толшинэй от долей дэ нескольких м%крэнСпособ был опробован на алюминиевой фола. е толшчной около 4 мкм. Известно чтэ з про"-ессе изготовления (прокатки) - фэл:,ги в ней созаются структурные нару 1- ления, которые ., в значительной степени ликвидируются, если фольгу подвергать термическому этжигу, Фольгу исследуют до и после ее отжига. Источником осколков де пения служит спонтанно деляшийся изотоп С -252, который наносят на металлическую пластину. Для идентификации осколов деления, прошедших через образец, применяется силикатное стекло. В этом случае относитет;ьные оазмеры следов, образовавшихся от осколков деления на пэверхнс(- сти стекла, находятся в прямэй зависимости эт энергии и величины заряда оскол- ков. Осколки, скэллцмирэванные в узкийСОСтааИТЕЛЬ Д гао(МР 10 а Корректор М,дейзерм,кн ТекрЕд М,СЕМЕНОВ редактор с 1 щуб 11 на Заказ 63-Ц 1 ИИИ 11 1 осуда 1 ственного коа 1 тета Сонета Микдст;оз СССР по делая изобретений и отк;ь.ткй Москва. 11305 раушскаа п.,б фцз 11 ПД 1 аунт С У С "Оп 1 П ф - па к пучок., прог 1 ускают в обоих случаях (до и после отжига фольги) через один и тот же участок образца перпендикулярно к его по= верхности и нап 1 завля 10 т нормально к поверхности одного и того же стекла, но в разныезопы. Отжиг фольги проводят при 501101 в течение 5 час. После облучен.1 Я стекло травят в плав 1 псовой кислоте. 3 каждой облуче 1 пзой зоне стекла в оезультате 1 громера около 50 следов, образовав 1 пихся от Д оско 111 сов деления, опредепйот средний размер следов. Так как в случае, когда осколки пада Т перпендикгл 1 га 10 к поверхности стекла, все следы от них приобретают круглу 10 форму уо 11 змерен 110 размеров, сзтсдов свод и,"ся к 15 измерени 10 их диамегров. Измепе 1 П 1 е диаметров проводится биолог 11 ческим микроскопом,окуляр которого имеет целительную и."калу, Эксперимснт показывает, аго в результате отжп;."а фольги средний гиаметр следов . 2 О увели 1 веется на 7 ю 1 гои то ности измезе 1 П 1 Я МЕНЕЕ 3.оо. Ь аналогичных опытах, но с той разил= цей, что вместо термического отжига алюминиевую фоп гу подвергают рад 11 ацнднному облучению, также наблюдается изменение среднего диаметра следов от осколков деления.Формула изобретения:Способ исследовании стоуктур 1.ъ 1 х изме. не 1 гий в материалах путем пропускания излучений через материал и измерения параметров прошедших излучений,о т. л ич Б 10 1 п и Й с я тем, что с целью и ОРы пзст. я чувствительности измерений ст,.зут:- турны, изменений и то "-их Об.-з:; - черепсследу ем 1 л м. ",фе риал ПО,Р коссе струк турных изменений в неь 1 1".Ооп 7 с."а:от оскс.кл деления т, желых ядер, регистрируют1и и .еит 11(ои 1 жрутот 1 ТПО 111 едшие . Осх.о"1, НППРИМЕЭ ТВЕРДОПЕГЬНЬ: :анаЛОВЬМ сЕЕ М тором и по иэменен 1 по парамет;03 осколков СУ 1 1, Р 0100, Вта,с 0.1 ИХ ч "ТУ 1 м менени;.х в и=педуемом об-:аз гнрал 109ПОД 1;,СДОЕ

Смотреть

Заявка

1815726, 04.08.1972

ГОРШКОВ В. К, ЛЬВОВ Л. Н, КАЛАНТАРОВ В. Д

МПК / Метки

МПК: G01N 23/00

Метки: изменений, исследования, материалах, структурных

Опубликовано: 25.05.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-453619-sposob-issledovaniya-strukturnykh-izmenenijj-v-materialakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования структурных изменений в материалах</a>

Похожие патенты