Устройство для измерения малых разностей линейных размеров

Номер патента: 45073

Автор: Пилятовский

ZIP архив

Текст

Класс 42 Ь, 8, 26 М 4507:1 ОБРЕТЕНИ 1 ВТВгьОЕ ЮДЕТЕМТ 13 апреля вторскому свидетельству А. И. Пияитевского, заявленн 1935 года (спр. о перв.167439). даче авторского свидетельст ликовано ЗОноября 1935 года подлежащую сличению с первой, В слу.- чае расхождения в размерах между деталями расстояние между измеряемыми точками изображения на экране изменится на величину произведения разности в размерах деталей на линейное увеличение, В то же время расстояние между полученными точками изображений на экране, так как они проектируются самостоятельными объективами, не зависит от выбранного увеличения, а определяется положением объективов. Благодаря этому достигается то, что значительно увеличивается чувствительность прибора без сколько-нибудь заметного изменения номинальной величины измеряемого размера.Если, например, требуется проверить ряд одинаковых деталец 4, имеющих в. длинуа=50 мл с допуском а - +0.001 мм. Деталь 4 освещается источником света 5. Объективы 1 и 2 устанавливаются против соответствующих точек детали, расстояние между которыми подлежит измерению. Измеряем расстояние между проекциями этих точек на экране 3. Если теперь первую деталь заменить второй, то ее длина а, спроектируется на экране в виде изображения длиной Ь,. Вычислив величинуЬЬ= д, - Ь.т, как э и зная личени устроиства для измерения В некоторых случаях необходима очень точная проверка соблюдения допусков в линейных размерах деталей либо их разметки. Пользование обычными механическими измерительными инструментами мтангенциркулями, микрометрами и калибрами не всегда бывает возможно по причинам недостаточной их чувствительности, либо вследствие их конструктивной неприспособленности для данного типа измерений.Предлагаемое устройство дает возможность с очень большой точностью определять отклонения в размерах при очень больших отношениях размера к допуску порядка 10 - 10 и выШе.На чертеже изображена схема предлагаемого устройства.Перед измеряемой деталью 4 устанавливаются два объектива 1 и 2 так, чтобы каждый из них проектировал на экран 3 только лишь одну из точек или граней, расстояние между которыми подлежит измерению. Расстояние между объектом и экраном и фокусные расстояния объективов выбираются такими, чтобы при достаточной компактности всего устройства получить максимальное увеличение. Измерив расстояние между соответствующими точками изображений детали на экране, деталь убирают и на ее место устанавливают другую, (218) НИЕстей линейных размеро,из чертежа, можно определить отклонение размера второй детали.Предположим, что линейное увеличение равно т= 100.Таким образом, вместо того, чтобы измерить величинч а = 50 лм инструментом, имеющим чувствительность в 0,001 мм, применение описанного метода требует измерения тех же 50 мм измерительным инструментом чувствительностью, равной лишь 0,1 мм. Аналогичным образом могут быть произведены промеры между рисками либо выступами на деталях. Возможен также одновременный промер нескольких сопряженных размеров. Предмет изобретения,Устройство для измерения разностей линейных размеров, отличающееся применением двух независимых объектов 7 и 2, дающих на экране 3 изображения концов предмета 4, подвергающегося браковке по линейным размерам.

Смотреть

Заявка

167439, 13.04.1935

Пилятовский А. И

МПК / Метки

МПК: G01B 11/02

Метки: линейных, малых, размеров, разностей

Опубликовано: 30.11.1935

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-45073-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-malykh-raznostejj-linejjnykh-razmerov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения малых разностей линейных размеров</a>

Похожие патенты