Способ измерения свч-мощности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
и 44 ВЗ 10ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОР СКОМУ СВИДВЯЛЬСТВУ Сасе СоветскСбцттаеюжесеейщублеейс) Заявлено 18,09 1)МК 21 08 с присоеднн (32) Приоритет Опубликовано 0 (45) Дата опубл Государственный номите Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий.Репша итовской СС физики полупроводников аявите 54)СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ С огрешредь вносит сличительНОСТЬ СВЧ = основ в полу вслед СВЧ = зсестен способ измерениямощности с использованиемой здс, Холла, возникающейпроводйиковой пластинкетвие воздействия на нееля Поскольку измеряемая э.д.с.Холла с СВЧ= мощностью связанаследующим образом:ч= см,-где С - некоторая константа,включающая размеры пластинки икоэффициент, зависящий от механизма рассеяния носителей тока в полупроводнике, а 1 м - подвижностьносителей тока, Изменение подвижности из-за изменения температуры окружающей среды или разогрева пластинки под действием СВЧмощности сказывается на точности определения СВЧ-мощности этимсрособом.Определение СВЧ - мощности поградуировочной кривой в свою очеЦель изобретения - повышени 5 точности измерения СВЧ-мощности - Достигается благодаря созданию в пощпроводниковой пластине дополнительный э.д.с. Холла, которой уравновешивают основную о э.д.с, Холла и определяют СВЧмощности по формулеСф 2 ЕОНО и где Ео - постоянное внешнееэлектрическое поле;НО - постоянное внешнеемагнитное поле.Способ состоит в слеем.В полупроводниковой пластине параллельно вектору напряженности электрического СВЧ -поля создают постоянное электрическое поле Н,в . Эти поля наводят в полУпроводниковой пластине допол
СмотретьЗаявка
1829004, 18.09.1972
ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ АН ЛИТ. ССР
ГАШКА КЕСТУТИС ИГНО, РЕПШАС КОНСТАНТИНАС КОНСТАНТИНО
МПК / Метки
МПК: G01R 21/08
Метки: свч-мощности
Опубликовано: 05.11.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-449310-sposob-izmereniya-svch-moshhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения свч-мощности</a>
Предыдущий патент: Измеритель электрических и неэлектрических величин
Следующий патент: Устройство для измерения скорости изменения частоты
Случайный патент: Станок для суперфиниширования деталей