Полимерная композиция

Номер патента: 1689815

Опубликовано: 07.11.1991

Авторы: Максимович, Тиханович

МПК: G01N 22/00

Метки: анизотропии, диэлектрических, механической, неразрушающего

...азимуту отраженной волны, поступает в блок 12. Блох 9 в соответствии с управляющим сигналом с модулятора 3 работает в двух режимах. В 35 первом, при облучении материала 4 линейно г(оляризованной электоомагнитной волной, плоскость поляризации котовой составляет 450 с плоскостью падения, с помощью блока 9 определяют отношение ми нимального значения сигнала к максимальному, которое дает значение коэффициента эллиптичности отраженной электромагнитной волны, поскольку анализатор 6 при вращении эллипса поляризации вращателем 5 в минимуме сигнала выделяет малую ось эллипса, а в максимуме - большую. Во втором режиме, при облучении материала 4 линейно поляризованной электромагнитной волной, плоскость поляризации которой составляет...

Номер патента: 623145

Опубликовано: 05.09.1978

Автор: Ястребов

МПК: G01N 23/24

Метки: анизотропии, диэлектрических, механической, неразрушающего

...взаимно перпендикулярных направлениях, т. е. о механической анпзотропии диэлектрического материала 9, равной Устройство, реализуюшее предложенныйспособ, содержит генератор волн СВЧ 1волноводные тракты 2, разветвитель 3, рефлектометры 4, индикаторы 5 рефлектометровантенну 6 неполяризованного СВЧ-излучения, антенну 7 поляризованного СВЧ-излучения, переходное вра шаюшееся волноводное сочленение 8, исследуемый диэлектрический материал 9, находяшийся в кювете 10 с плоским дном, прозрачным дляволн СВЧ, опорную раму 11 для кюветы 10поглошаюшую 12 и отражаюшую 13 подложки, основание 14 для крепления и поворотаподложек 12 и 13.Для осушествления предложенного способа с помошью указанного устройства включают генератор СВЧ волн 1 и, не...

Номер патента: 398583

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Заржецка, Ким, Тищенко, Юдкин

МПК: C08K 5/03, C08L 71/04

Метки: благод, диапазоне, диэлектрическими, иолифенилеиовых, композиция1изобретение, механическими, обладающих, относится, полимерная, свойствами, стабилизации, темиератур, термостабильная, хорошими, частот, широком, эфиров

...1.Пример 3. 50 гской вязкостью 0,751 г ди-а-нафтилкарбтана 0 сгто 1 35 суток осхо и 1 1 иПФОПФО+2%МЕП 1 ЛСНоиснафтола60 0 ПФО с характеристнчсв бензоле при 25 С)мат-и-аминофенил ме 360 305 346 55- ( 3в 15 раз по сравнению с исходным полимером,Введение производных к-цафтола в полифениленовые эфиры может быль осущктвле. но всеми нзвестнымн способами, в том числе таким простым и удобным, как сухое смешение в шаровой мельнице. Добавка производных а-нафтола не ухудшает диэлектрические свойства полифецилецовых эфиров.Полифенилсновые эфиры, стабилизированные производными я-нафтола, могут испо;изоваться, например, для получения лаков, пластифицированных композиций и т. и.П р и м е р 1. 50 г поли-(2,6-диметнл,4-фениленоксида) (ПФО) с...

Номер патента: 1288582

Опубликовано: 07.02.1987

Авторы: Андриевский, Теремов

МПК: G01N 29/00

Метки: свойств, физико-механических

...16, Генератор 14, например Г 3-7 А, возбуждает колебания верхнего излучающего пьезопреобразователя 3. Акустические колебания через звуко- провод 5 преобразователя 3, образец 16 и звукопровод 5 преобразователя 4 возбуждают последний. Электрический сигнал с выхода нижнего приемного пьезопреобразователя 4 поступает в регистратор 15 блока 2 измерения акустических характеристик, например осциллограф С 1-70. При помощи регистратора 15 фиксируется совпадение ,частоты генератора 14 с одной из собственных механических частот образца 16 и определяется нормальной модуль упругости, модуль сдвига и коэффициент внутреннего трения исследуемого материала. При помощи блока 10 измерения диэлектрических характеристик, например моста Е 8-4, подключенного...

Номер патента: 1147951

Опубликовано: 30.03.1985

Авторы: Дрозд, Матлин

МПК: G01N 3/42

Метки: свойств, физико-механических

...определения модуля 45 нормальной упругости.Цель изобретения - определение модуля нормальной упругости.Цель достигается тем, что согласно способу определения физико-меха нических свойств материала, заключающемуся в том, что при различных нагрузках внедряют индентор в поверхность образца, измеряют глубину восстановленных отпечатков, определяют 55 . динамический коэффициент твердости и физико-механические свойства материала образца, вдавливают индентор где Е,о. - модуль нормальной упругостии коэффициент Пуассона исследуемого материала;Е, 4.- то же, материала инден тора ,.К - радиус сферического индентора;с - фиксированный уровень вдавливания индентора;Ь - глубина остаточного отпечатка;НР - пластическая твердость исследуемого...