Компенсирующее устройство

Номер патента: 1176221

Опубликовано: 30.08.1985

Авторы: Григорьев, Конев, Слободянюк

МПК: G01N 23/223

Метки: атомными, большими, варианты, его, номерами, рентгеноспектрального, содержания, средними, флуоресцентного, элементов

...излучения анода стандартным образцом, содержащим определяемый элемент, рассчитывают методом наименьшихквадратов значение регрессионного коэффициента (Ь ) прямой пропорциональности зависимости измеренной относительной интенсивности 1 фнкнк равной фф/ И,/от рассчитанной (1 фн ), строят график зависимости коэффициента (Ъ ) пропорциональности от ширины канала, выбирают в качестве рабочей ширины канала большее из двух возможных. значений, при которых коэффициент пропорциональности равен единице (Ь=1), причем, если при выбранных значениях напряжения на рентгеновской трубке, ширине зазора между пластинами выход 176221ного коллиматора, ширине приемной щели перед детектором значение коэффициента пропорциональности, равное единице, не...

Номер патента: 810434

Опубликовано: 07.03.1981

Автор: Котлярский

МПК: B23Q 7/00

Метки: деталейк, подачи, последовательно, расположеннымбазирующим, элементам

...двух опор и расположенного под одной из опор и соединенного с ней через плунжер гидроцилин дра, под другой опорой расположен обратный клапан, связанный с ней посредством штока, гидроцилиндр и обратный клапан соединены между собой.В образующих и торце гидроцилиндра 25 выполнены отверстия, причем отверстия в образующих соединены с надклапанной полостью обратного клапана, отверстие в торце гидроцилиндра соединено с подклапанной полостью обратного клапана. 30 На чертеже из бщий вид.Устройство содержит основание 1, последовательно установленные базирующие элементы в виде призм 2 и 3 (рабочие позиции) и вертикальные стойки 4. На стойках подвижно установлены опоры 5 и б, подпружиненные относительно основания 1 пружинами 7. Под опорой 5...

Номер патента: 1005070

Опубликовано: 15.03.1983

Авторы: Дагман, Коваленко, Кухарев, Романов

МПК: G06F 17/14

Метки: быстрого, нулевыми, последовательности, преобразования, фурье, элементами

...2-, 3- или 4- точечных ДПФ в зависимости от величины основания г) сложения и умножения ненулевых элементов на тригонометрические коэффициенты, поступающие из блока 8 памяти тригонометрических коэффициентов. Арифметические операции и выдача коэффициентов из блока 8 осуществляется по управляющим сигналам, поступающим на соответствующие входы блоков 3 и 8 с шифратора 19 блока 7 управления, а адреса коэффициентов определяются выходом счетчика 22 адресов блока памяти тригонометрических коэффициентов, подключенным к адресному входу блока 8. По управляющим сигналам с выходов шифратора 19 и дешифратора 20 блока 7 результаты вычислений из блока 3 записываются в блок 4 памяти по адресам, определяемых выходом счетчика 21 блока 7 управления. По...

Номер патента: 1829017

Опубликовано: 23.07.1993

Автор: Нерезенко

МПК: G01R 31/28

Метки: диодно-емкостных, неразрушающего, одиночных, отказов, последовательного, типа, умножителей, элементов

...при обрывеконденсатора С 4 последнего каскада умножителя на 1 Ч-ом этапе исследования; на фиг.21 - ВАХ 1 исправного умножителя и ВАХ 2,которая совместно с ВАХ 2 на фиг. 18 указывает на обрыв конденсатора Сз, а совместнос ВАХ 2 на фиг. 19 - на обрыв конденсатораС 2 на И-ом этапе исследования,Все ВАХ, представленные на фиг, 7,21,выполнены в масштабе А =0,2 мА/дел., ЛО== 100 В/дел.Изобретение относится к способам контроля качества и надежности путем измерения электрических свойств изделий ихаоактеризуются следующими признаками:- наличием совокупности действий - создание определенных условий, снятиевольт-амперных хаоактеристик исправныхизделий и изделий с дефектами, выбор информативных параметров методом распознавания образов и оценка...

Номер патента: 2004032

Опубликовано: 30.11.1993

Автор: Синявский

МПК: H01J 45/00

Метки: давления, зазорах, испытаниях, канала, межэлектродных, пара, петлевых, распределения, цезия, электрогенерирующего, элементов

...или может быть измерено на выходе из ЭГК 1 датчиком 13, например масс -спектрометрическим методом (б 1, причем зная относительное распределение тепловыделения (мощность каждого ЭГЭ) из суммарного количества ГПД из каждого ЭГЭ. После этого по формуле (1) рассчитываются Р 05(2).В процессе ресурсных испытаний возможно изменение МЭЗ, например, из-за распухания топливно-эмиттерных узлов, в результате чего Рс 5(2) изменяется. Поэтому периодически измеряют МЭЗ, например, ььейтроинаграфическиьл ипи другим методом (7), повторяют описанные выше операции и снова определяьот Р 05(2), Полученное значение Р 05(2) позволяет уточнить эмиссионно-здсарбционные свойства эмиттера иколлектора каждого ЭГЭ, а следовательно, и их энергетическую...