Устройство для измерения поверхностной плотности зарядов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 418815
Авторы: Куликовский, Курочкин, Петрова
Текст
фааЫ т 1 н 488 В ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик61) Зависимое от авт. свидетельства22) Заявлено 08,02.73 (21) 1880391/18-10 51) М, Кл, 6 01 г 29/12 с присоединением заявкиГосударственный комитет Совета Министров СССР по делам изобретенийи открытий(088,8) та опубликования описания 10.02.7) Авторы изобретени К. Л. Куликовский, Е. П. Курочкин и Т. А, Петрова Куйбышевский политехнический институт им. В. В. Куйбышева(71) Заявите 54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНО ПЛОТНОСТИ ЗАРЯДОВИзобретение относится к устронствам для измерения поверхностной плотности электростатических зарядов, возникающих, например, на поверхности диэлектриков.Устройства аналогичного назначения могут быть выполнены на базе динамических конденсаторов или преобразователей на варикондах. Чувствительность известных устройств низка, что вынуждает вводить в схему дополнительные элементы. В результате устройство 1 усложняется, а надежность его работы снижается.Целью изобретения является упрощение устройства для измерения поверхностной плотности зарядов и повышение его чувстви тельности. Поставленная цель достигается за счет того, что воспринимающий электрод устройства составлен из последовательно соединенных коллектора, изолирующей шайбы и слоя люминофора, нанесенного на светопрони цаемую основу, а электрическая схема выполнена в виде моста с фоторезистором, расположенным в непосредственной близости от основы воспринимающего электрода.На чертеже схематично показано предло женное устройство для измерения поверхностной плотности зарядов.Устройство содержит воспринимающий электрод, выполненный из последовательно соединенных коллектора 1, изолирующей шай бы 2 и слоя люминофора 3, нанесенного на светопроницаемую основу 4, а также электрический мост 5 с фоторезистором 6 и индикатором 7.При отсутствии зарядов на исследуемой поверхности поле внутри устройства равно нулю, люминофор не возбужден, равновесие электрического моста не нарушено и на индикаторе отсутствуют показания.При наличии на исследуемой поверхности электростатического заряда поток электрической индукции пронизывает коллектор 3, наводя на нем потенциал, величина которого зависит от поверхностной плотности зарядов. Возникающее между основой и коллектором поле возбуждает частицы люминофора, и люминофор начинает светиться. Таким образом, слой люминофора становится источником световой энергии, а приемником является фоторезистор, включенный в схему моста, Мост выходит из равновесия, а индикатор дает соответствующие показания.Чувствительность устройства зависит от люминофора и от чувствительности фоторезистора. Варьируя то и другое, можно значительно расширить диапазон измерений.Предмст изобретенияУстройство для измерения поверхностной плотности зарядов, содержащее воспринимаПодписноеСР омитет етенийшская н ипография, пр. Сапунова,ющий электрод и индикатор, подключенный к электрической схеме преобразования сигнала измеряемой плотности, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью его упрощения и повышения чувствительности, воспринимающий электрод выполнен в виде последовательно соединенказ 175/7 Изд.597 ЦНИИПИ Государственного по делам изоб Москва, Рауных коллектора, изолирующей шайбы и слоя люминофора, нанесенного на светопроницаемую основу, а электрическая схема - в виде моста с фоторезистором, расположенным в не 5 посредственной близости от основы воспринимающего электрода. Тираж 678Совета Министрооткрытийд. 4/5
СмотретьЗаявка
1880391, 08.02.1973
К. Л. Куликовский, Е. П. Курочкин, Т. А. Петрова Куйбышевский политехнический институтВ. В. Куйбышева
МПК / Метки
МПК: G01R 29/12
Метки: зарядов, плотности, поверхностной
Опубликовано: 05.03.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-418815-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-poverkhnostnojj-plotnosti-zaryadov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения поверхностной плотности зарядов</a>
Предыдущий патент: Измеритель девиации частоты
Следующий патент: Датчик для измерения магнитной индукции
Случайный патент: Спектральная высокоинтенсивная лампа