В п т б

Соеэ Советских Социалистических РеспубликОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ й АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 40 б 72 Зависимое от авт, свидетельства акоевЗаявлено 11.Х.1971 ( 1713658/26-9)с присоединением заявки Ле -Прцоритет -Опубликовано 05.Х.1973. Бюллетень45 М.Кл. б 01 г 27128 Гссударственнь 11 комитетСовета Министров СССРио делам изобретенийи втирн 1 тий УД К 621.317.341.3(088,8) Дата опубликования описания 30.7.1974,Авторыизобретения Заявитель институт метрологи АБЛЕНИЯОСЕ ЧАСТОТ УСТРОИСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОРОХОДНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ СВЧ В П Изобретение относится к радиоизмерцтельной технике СВЧ.Известны устройства для измерения ослаблсния проходных элементов СВЧ в полосе частот, в которых измеряемый элемент вкгиоча 1 от между двумя датчиками проходящей мощностп. При одинаковых частотных характеристиках датчиков ослабления определяют по отношению показаний датчиков. Однако эти устройства характеризуются значительной погрешностью измерения, часть которой обусловлена рассогласованием (собственым отражением датчиков, нагрузки переходных элементов и др.). Прц измерении малых ослаблений погрешность рассогласования является доминиру 1 ощей, и уменьшение ее применением прецизионных элементов с малым собственным отражением це всегда возможно.Известен ЧМ-рефлектомстр для измерения модуля коэффицие 1 гга отражеци 51 нерегулярностей в передающих линиях и окоцечш 1 х устройств СВЧ диапазона.1 Ыетод ЧМ-рефлектометрци заключается в следующем: в исследуемого систему с распределенными источниками отражения излучают сигнал постоянной амплитуды с модуляцией частоты по линейному (пилообразному) закону; отраженный от нерегулярностей сигнал смешивается с излученнпым, и сигнал разностной частоты (биеций) подается на индикаторный канал. Вследствие линейности ЧМ частота биений строго пропорциональна расстоянию до исследуемой нерегулярности, т е. спектр биений повторяет распределение источников отражения вдоль исследуемой линии. Это позволяет с помощью НЧ перестрацваемого полосового фильтра выделить любой конкретный источник отражец 1 гя и по амплитуде биений определить значение этого отражения.О Измерив изменение в течение периода ЧМзондирующего сип 1 ала амплитуды конкретных биении (например, с помощью осциллографа с разверткой, синхронизированной с периодом ЧМ), т. е. его огибающую, можно выявить 5 и частотную зависимость модуля коэффициента отражения соответствующеи нерегулярвости,Однако известное устройство це позволяетизмерять ослабление проходных элементовЖ СВЧ.Цель изобретения - устранение погрешности рассогласования при измерении ослабленияпроходных элементов СВЧ в полосе частот,Предлагаемое устройство отличается тем,:15 чтО ЧМ-рефлектометр использован в совокупности с подключенной к выходу измеряемогоэлемента калиброванной по коэффициенту отражения СВЧ-нагрузкой (мерои КСВ), представляющей собоц некоторую расчетну 1 о нереЗО гулярность (индуктивного, емкостного или406172 Составитель Т, ПероваТехред 3, Тараненко Корректор М, Лейзерма Редактор Б. Федоте аказ 1224 Изд. М 248ЦНИИПИ Государственного комитета Сов Тираж 743а Министров СССР пон открытийушская наб д. 4/5 Подписноелам изобретений Москва, Ж, Р Мытвщннская типограф смешанного типа) в отрезке передающей линии или отрезок передающей линии, нагруженной калиброванным активным сопротивлением.Меры КСВ выпускаются серийно; они предназначены для настройки, поверки и калиб( ровки измерителей КСВ в полосе частот.Блок-схема устройства представлена на чертеже.Вход измеряемого проходного элемента СВЧ подключают к выходу ЧМ-рефлектометра, к выходу измеряемого проходного элемента подключают меру КСВ частотная характеристика которой в рассматриваемой полосе частот известна. ЧМ-рефлектометр настроен на измерение коэффициента отражения меры КСВ. Так как при прохождении через измеряемый проходной элемент СВЧ ослабевают оба сигнала - и падающий (распространяющийся от ЧМ-рефлектометра к мере КСВ) и отраженный (распространяющийся от меры КСВ к ЧМ-рефлектометру), то измеренное ЧМ-рефлектометром значение коэффициента отражения меры КСВ отличается от действительного, причем отношение истинного значения коэффициента отражения меры КСВ к измеряемому равно квадрату коэффициента отражения измеряемого проходного элемента СВЧ,3 Если использована СВЧ-нагрузка (мераКСВ), коэффициент отражения которой в исследуемой полосе частот от частоты не зависит, экран осциллоскопа ЧМ-рефлектометра можно отградуировать непосредственно в зна О ченнях квадрата коэффициента ослабления.Устройство наиболее эффективно при измерении с высокой точностью малых коэффициентов ослабления. 15 Предмет изобретения Устройство для измерения ослабления проходных элементов СВЧ в полосе частот, содержащее ЧМ-рефлектометр, отличающееся тем, 20 чтос целью устранения погрешности рассогласования, измеряемый проходной элемент СВЧ включают между ЧМ-рефлектометром и калиброванной по коэффициенту отражения СВЧ-нагруэкой.