402927

Номер патента: 492003

Опубликовано: 15.11.1975

Авторы: Базаров, Жевна, Кобец, Литвинова, Подольский

МПК: H01F 13/00

Метки: магнитных, намагничивания, размагничивания, систем, элементов

...до насыщения осуществляют при помощи памагничивающей обмотки 2 и источника 4 намагничивающего тока, а размагничивание - источником 6 переменного тока частотой 50 Гц, величину которого регулируют, например, автотрансформатором, Регулировку можно осуществить вручную либо автоматически. Для измерения постоянной (по знаку) магнитной индукции в процессе размагничивания может быть применен, например, измеритель магнитной индукции ЭМ 2-12, собранный по схеме, нечувствительной к переменным магнитным полям частотой 50 Гц и выше.Для имитации внешних размагничивающих подмагничивающих) полей, в которых работают элементы магнитных систем, намагничивающая обмотка 2 подключена переключателем 13 к регулируемому стабилизатору 5 постоянного тока,...

Номер патента: 1483498

Опубликовано: 30.05.1989

Автор: Кашин

МПК: H01F 13/00

Метки: импульсным, магнитным, магнитных, намагничивания, полем, размагничивания, систем, элементов

...временем заряда емкостного накопителя 18 и составляет примерно 0,1 с.Зарядный элемент 20 обеспечивает токоограиичение в процессе заряда емкостного накопителя 18.Когда устройство осуществляет цикл намагничивания, блок 21 автоматики вырабатывает стабильный по нап- . 20 ряжению сигнал постоянного тока, который поступает на управлякаий вход системы 3 импульсно-Фазового управления. Сигнал постоянного тока воздействует на Фаэосдвигающее устройство, 15 входящее в схему системы 3 импульсно- Фазового управления, и определяет Фазовый сдвиг импульсов на выходе сис" темы 3 в пределах от Т/4 +ичп. до Т/2.Каждому значению Фазы импульсного сигнала и, следовательно, моменту включения вентиля 4 в течение полупериода Т/2 источника 6 соответствует...

Номер патента: 1763402

Опубликовано: 23.09.1992

Авторы: Максимов, Соловьева

МПК: C03C 8/24

Метки: головок, легкоплавкое, магнитных, спаивания, стекло, элементов

...температур 20 - 300 С; температура растекания Триест при которой краевой угол смачивания ферритовой подложки становится менее 15 О; микротвердость по Виккерсу Нч, измеренная при нагрузке на индентор, равной 100 г; химическая устойчивость - потери массы образцов РЬ и ри кипячении в дистиллированной воде в течение 8 часов; глубина затекания Ь в зазор между ферритовыми магнитопроводами шириной 1,0 - 1,5 мкм при температуре растекания,Стекла синтезируются в платиновом тигле при температуре.1250 - 1300 С, Рас текаются при столь же низкой температуре, что и стекло-прототип, Хорошо согласуются по термическому расширению со всем марганец-цинковыми ферритовыми и не магнитными керамическими материалам. магнитных головок. Характеризуются удов...

Номер патента: 1823863

Опубликовано: 23.06.1993

Авторы: Максимов, Соловьева

МПК: C03C 8/24

Метки: головок, легкоплавкое, магнитных, преимущественно, соединения, стекло, элементов

...микротвердости при высокой кристаллиэационной устойчивости. отсутствии склонности образовывать пузырьки и растравливать поверхность ферритовых магнитопроводов.Сущность изобретения характеризуется тем, что легкоплавкое стекло, преимуще 80,1 - 84,00,6-1,212,5-14,00,3-0,50,01-0,20.5-2,00,02 - 2,50,1 - 4,820,002-П 2ышению адгеся воэможносры ширинойформирояани1823863 25 Таблица 1 Таблица 2 для сохранения свойств феррита и снижения энергозатрат.Кристаллизационная устойчивость стекла достаточна для проведения всех необходимых технологических операций,Стекло не склонно образовывать пузырьки и растравливать поверхность ферритовых магнитопроводов.Конкретные примеры составов предлагаемого стекла, подтверждающие воэможность осуществления...

Номер патента: 139371

Опубликовано: 01.01.1961

Авторы: Павлов, Цивин

МПК: G01R 33/12

Метки: аппаратов, магнитных, машин, цепей, электрических, элементов

...условий.Ниже приводятся уравнения, связывающие показания измерителей потока пермеаметров с полным рабочим потоком изделия для случаев последовательного и параллельного расположения элементов магнитной системы в контролируемых изделиях:а) для последовательного расположения1139371 б) для параллельного расположения1 1 Предмет изобретения 1. Способ контроля элементов магнитных цепей электрических машин и аппаратов, содержащих два и более элемента с незамкнутой магнитной цепью, путем измерения магнитной проводимости контролируемых элементов посредством пермеаметров, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности контроля, используют пермеаметры, форма и размеры полюсных наконечников и обмотка которых обеспечивают...