Устройство для исследования электрофизических параметров материалов

Номер патента: 394735

Авторы: Липовка, Перчик, Шалабутов

ZIP архив

Текст

Г . м О П И С А Н И Е ,Ю 4735ИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельствавлено 111971 ( 1611513,24-7 М, Кл. 6 01 г 27/26 с присоединением заявкиасударственный коцит Совета Министров ССС па делам изобретений и открытийриоритет 111,1973, Бюллетень3 бликовано 2 ДК 621.317.321(088.8) та опубликования описания 31.1.1974 Авторыизобретения а и Ю. К. Шалабутов. Б. Перчик, А. А, Лип нинградский ордена Ленина политехнический институ им,М, И. Калининаявитель УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВИзобретение относится к лабор аторным устройствам для электрических исследований высокоомных материалов.Известно устройство для исследования электрофизических параметров материалов, содержащее два токовых электрода, подключенных через индикатор тока к выводам источника питания, и два потенциальных электрода, каждый из которых через соответствующий индикатор баланса соединен с источником компенсирующего напряжения,Для повышения точности измерений в предлагаемом устройстве к выводам источника питания подключен переменный резистор, средняя точка которого соединена с одним из выводов источника компенсирующего напряжения.На чертеже представлена схема описываемого устройства.Устройство содержит токовые 1 и 2 и потенциальные 3 - 6 электроды, индикаторы 7 и 8 момента компенсации измеряемого сигнала и токов утечки, соответственно, измеритель 9 тока, источник 10 компенсирующего напряжения, резистор 11 баланса токов утечки, резисторы 12 и 13 развязки между токовой и потенциальной частями схемы, батарею 14 питания и переключатель 15.В электрической схеме устройства использован потенциальный метод измерения с компенсациеи сигналов, соответствующих исследуемым эффектам. На токовые электроды 1 и 2 образца 16 через измеритель 9 тока подается питание от батареи 14. Сигнал, возникающиц при этом между двумя любыми потенциальными электродами, например электродами 8 и 4, компенсируется напряжением от источника 10, подключенного к нцм через индикатор нулевого тока. Резистор 11 совместно 10 с образцом 16 образует одинарный мост, вдиагональ которого между средней точкой резистора и одним из потенциальных электродов образца включен индикатор 8 нулевого тока (электрометр). Другой потенциальный 15 электрод, сигнал на котором необходимо измерить, подключен к этой же средней точке резистора через источник 10 компенсирующего напряжения и индикатор 7 нулевого тока.Электрометр 9 служит для измерения тока, 20 протекающего через образец.Компенсационная методика измерения сигналов требует, чтобы сопротивление образца между потенццальнымц элсктродами было мало по сравненшо с сопротивлением всего об разцз. В против ом случае имеет место обратная связь компенсирующего источника с токовой цепью, что приводит к ошибочным результатам. В то же время ца практике размеры образцов часто ограничены, в связи с чем 30казапнос требование обеспечить очень труд394(35 Гипографси, ир. Гапнуова, 2 П О. ПОЭТОМ У В П Р И Н Ц И П П (1( Ь Н М Ю С Х ( М " ,с т Р;) ПСТВс 1 ВВЕДЕНЫ ДОНО:НИ СГГЬНЫС ",)с 13 Б 5 ЭЫБЯ(0 - щие резисторьс 12 и 1), величины когрх ДО;РИНЫ ОЫТЬ ООЛЬШС СОПРОТИВЛЕПР 5 Т Е(1 Я 00- РВЗЦЯ. ОД 3 П ПЗ ЭТИХСЗИСТОРО 3 С,1 УЖИ) ОЧПОВ Р ЕМ С и 10,(Л 51 П 3 )ГС с 1(П 5 П Р С.,1(.,1 О и П. 5 М С Р С 1 5 тока прис)ором 9.Для персклн)чсния уст;)ойсгвя с одпог р,- жима работы ня дрсгс) Грс;с с)О(репГ ком - мутация элекгромстров, псгочнпкя иитиИ 51,0 а л а и си ОГО р ез и с 1 О р я и р ез и сто р я р а;3 и 51 3 к н.изуеренРс эле 1(трических эффскт 015 закг 1 ючастся в посседовательно)3 компенсации токов утечки, связывающих токовую и потенциальную части схемы, при помощи резистора 11 и сигналя при помоши источП)ка 10 и нуль:ди. КаТОРа /. В 15 РДМ РКЕСТКОй ЭсЕКТРИЧЕСК 01 С 15;5 ИС Ж Д(с М 0 С Т 0 М О а Л а Н С а Т 0 КО 13 Х" Е 1 К И И и С П Ь 10 компенсации регулироька схемы о (ним пз элементов рязбалансируст цепь другого рсгулпРУюшего элемента. Зто обУславли 5 асе Нес;бходпОсть введения в эт: пепи двух псзявп. С 51 М ЬГ Х 11 У Л 1-111 Д И К с 1 Т 0 Р 0 В . Вол)цпую ГОг;)сшность в результаты п)мсрсиия электрических эффектов может вносить псреходнос сопр 01 ивлсние кон Гактов элен Гподов с;санным хятс)риалом.,),г 51 измсснп 51 СОПРОТИВЛПП 51 КОНТс 1 КТ 013 Э,1 ЕКТРОДОБ ) - .) НС с В и с и )1 О Д сРГ 0 т Д Р м Г и В с х с м У 13 В с;(с н и с Р скл ючатсль 15. Г)ри переводе переклю Гят ля ИЗ ОДНОГО ПОЛОжЕНИ Б ДРУГОЕ ПЗМСРЯЮт:ЯД(- ни(. Напряжения Х 1(ж сс СО13(тс 53 к)п(п)1 П Э"СКТРОДсГМП. ЭТО ПсГПРЯЖСНПЕ ПРОНРЦИОПЯГГЬ но смммарпомс сопротивлению Образца рсходнОГО конт(с. Г)осле,пес Опс дс,151 от кяк рязость;Г;меренных значеГпй сопротив(1 спи 51 при;1)мх НОГ 10 жснп 5 х пс;)ск(1 Остоля 1 э.Пре;1,ГНГасхос 1 стрсст 50 хожет Оьть использоВано д;)я исследо)а пня электрических 5 ;япрпмср, электро роводност, тсрмоэлектРПЧССКИХ )НсПРИЗЕР, тСРМО-Э. Д. С.), ГЯ,ГЬВЯП сз )1 сП П Т Н Ь 1 Х ( П с П Р И 3 ( .Р, Э ф ф Е Кс 1, ( 0(1. с Г ) Н ч)отс)электрических эффектов, вольт-ампсрых хсРак ГСРИС Ик и т. д. В коа 1 плск е с ОгО ком Обсспс.епи 51, нз.срсни 51 и Записи тенгОВОГО С)К:Гм с 1, Х Я 1 ПИТОМ ПОС Г 051 ННОГО ТОКа С Спссмои запуска, регулировки и измерения маги)ногооля в зазоре, вакуу(мной камерой с дву)1 шлпфамп, мсталлисескРми вводами и 15 БОД 5 ппя(с Охлаж;1 списм с спок, ДсРжател 51 миОоразцо 5 дл 5 НЗЗ 1 сренпй на Воздухе и систехОЙ обеспечения и измерения среды для исследо- БЯННИ МСТР 01(СТВО ПОЗБОЛ 51 ЕТ ОПРЕДЕ(151 ТЬ УКс 1- за)Иые параметры в широком интервале тем.2) ПСРГ)ТУР МЯП 3 итНЫХ ПОЛЕЙ, Б )сКМЗМЕ П РаЗЛИ:1 ПЬ 1 Х ГЯЗС)1)ЫХ СРСДЯХ.)с СТРОС 1150 Ь 151 ПССЛСДОБЯНИ 51 ЭГЕКТРО(1)изн Сских Гарямстров материалов, содержащееДВЯ ТОКОВЫХ ЭГЕКРОДс), ПОДКЛЮЧЕ)ЫХ ЧСРСЗ пн:пкатор тока к вызодам источника питания, и два потснц)альных электрода, каждый из кото;)ых срез свой индикатор баланса соеди Сн с источником ко)Нснсп;)уюцего пяпряжеНИ 51, С)Т.(С 0;с.(Я ТСМ, ГО, С ЦЕ(пэО НОВЬ 1 ПС- ния точности измерений, оно снабжено под- К)ПОЧЕННЫ) 1( БЫБОДс)М НСТОЧНИКЯ ГИТсГНР 151 ПС- ре)СНН) ре:311 СТОроа 1, Срсдпя тОЧКа КОтОрОЛ 5 го СОСДПП(ни с одним ПЗ вывОдов ПСтОчникаКОМП(Н СИР С (Он(ОГО Гсп 1) 51 ЖСННЯ.

Смотреть

Заявка

1611513

Ленинградский ордена Ленина политехнический институт М. И. Калинина

Э. Б. Перчик, А. А. Липовка, Ю. К. Шалабутов

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: исследования, параметров, электрофизических

Опубликовано: 01.01.1973

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-394735-ustrojjstvo-dlya-issledovaniya-ehlektrofizicheskikh-parametrov-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для исследования электрофизических параметров материалов</a>

Похожие патенты