Способ измерения параметров распределения поля
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 377712
Автор: Шестопалов
Текст
Реопублин етельстваЗависимое от авт, св аявлено 16,1 Ч,1970 ( 1427709/26-25) присоединением заявки-риоритет М. Кл. б 01 ч 9/О митет по делам о 0 ретений и открытияри Совете МинистровСССР К 550.835(088,8) но 171 Ч 73. Бюллетень18 публико Дата опубликования описания 22.И,19 Авторизобретени А, М, Шестопал аявит ПОСОБ ИЗМЕРЕНИ АМЕТРОВ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛВ СРЕДЕ По при поля, хар а, напримпределен 5 веденнои схеме можн актеризующиеся одниер экспоненциальныеием исслпараоля,дов ать етром рас(а, х)=1 При работе источника поляа выходе приемника 4 равно: яжени У, = с 1 ЖаДа,где с 1 2; перее приточни интенсивность источника поля коэффициент, учитывающий ходные потери и запаздыван преобразовании сигнала от и ка поля 2 к среде 1;коэффициент, учитывающий ствительность приемника 4, а переходные потери и запазд при преобразовании поля от 1 к приемнику 4;измеряемый параметр расп ния поля;расстояние между источнико приемником 4,чувтакже твание среды еделем 2 При этравен:, = УоКт,й Изобретение относится к области измерений поля и может быть использовано для исследования параметров поглощения и запаздывания полей в различных средах и материалах, например в массиве горных пород, в элементах конструкций и пр.Известные способы измерения параметров распределения поля в среде с помощью источников и приемников поля требуют трудоемкой калибровки приемников поля и не обеспечивают высокой точности измерений.Для повышения точности измерений предлагается способ, по которому измеряют отношения сигналов приемников, расположенных между двумя источниками поля, к сигналу одного приемника при действии только первого источника, а затем при действии только другого источника и определяют искомые параметры через отношения этих отношений.Схема определения параметров распределения поля по описываемому способу показана на чертеже,Размещенные в исследуемой среде 1 источники поля 2 и 3 расположены по обе стороны от приемников 4 и б поля. Источники поля 2 и 3 работают поочередно, так что к одному работающему источнику поля более близким оказывается один приемник поля, а при работе другого источника поля - другой приемник. гнал на выходе приемника б377712 Пр едм ет из обр етен и я Составитель И. Трофимова Техред Т. Ускова Корректор Е. Сапунова Редактор И. Шубина Заказ 1718/5 Изд.1390 Тираж 755 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д, 4/5 Типография, пр, Сапунова, 2 где т 2 - коэффициент, учитывающий чувствительность приемника 5, а также переходные потери и запаздывание при преобразовании поля от среды 1 к приемнику 5;1 - расстояние между приемниками4 и 5. Отношение сигналов приемников 4 и 5равно;У, т,У(а, х,)Са т,У(а, х, + 1) При работе источника 3 отношение сигналовприемников 4 и 5 определяется аналогичнымсоотношением:Ц т,У(а, х)У 2 т,Ла, х 1 - 1)где хт - расстояние между источником 3 иприемником 4.Из отношения двух последних выраженийУУ 2,1(а, х,)(а, х 1 - 1)У,У .г(а, х, + 1)Ла, х,) определяют параметр распределения поля а без погрешностей, обусловленных неидентичностью переходных затуханий между средойи приемниками и различием чувствительностиприемников.Отсюда получаем:1 1 172 1 1 Ю 2, =е - 2"Г а= - 1 п17 аУ 21 002 Если распределение поля характеризуется 10 и параметрами 1(а аз а, х), то для иханалогичного измерения необходимо использовать и+1 приемников, расположенных между излучателями. Способ измерения параметров распределения поля в среде с помощью источников и 20 приемников поля, отличающийся тем, что, сцелью повышения точности измерений, измеряют отношение сигналов приемников, расположенных между двумя источниками поля, к сигналу одного приемника при действии 25 только первого источника, а затем при действии только другого источника и определяют искомые параметры через отношение этих отношений.
СмотретьЗаявка
1427709
А. М. Шестопалов
МПК / Метки
МПК: G01V 11/00, G01V 9/00
Метки: параметров, поля, распределения
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-377712-sposob-izmereniya-parametrov-raspredeleniya-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров распределения поля</a>
Способ автоматической компенсации действия в заданной точке магнитного поля источника с постоянным распределением вектора относительной объемной намагниченности
Номер патента: 124527
Опубликовано: 01.01.1959
Автор: Михлин
МПК: G01R 33/02
Метки: автоматической, вектора, действия, заданной, источника, компенсации, магнитного, намагниченности, объемной, относительной, поля, постоянным, распределением, точке
...девять сигналов, определяющих составляющие поля помех в трех точках, где расположены эти зонды. Указанные сигналы подаются в специальный счетнорешающий узел, который автоматически обеспечивает требуемую компенсацию. В том случае, если направление оси одного из чувствительных зондов, располагаемых между источником и заданной точкой, совпадает с направлением поля в какой-либо точке источника, можно применить только один чувствительный зонд, выходной параметр которого используется для формирования только трех сигналов, которые и обеспечивают компенсацию действия магнитного поля источника в заданной точке.124527 Предмет изобретения Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Редактор Н, С. Кутафина Гр,...
Способ регистрации и определения температурного поля источника излучения
Номер патента: 266277
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Гинзбург, Клюкин, Степанов, Фабриков
МПК: G01J 5/50
Метки: излучения, источника, поля, регистрации, температурного
...поле в плоскости фиксации изображения источника аналсгично распределению нагрева в пленке. Если при записи такого изображения на пленку к ней приложено внешнее постоянное магнитное поле, то в результате проведения записи изображение на магнитной пленке будет состоять из участков, намагниченность которых повернется на угол, пропорциональный температуре нагрева данного участка, т. е, температуре источника излучения.Визуализация записанного изображения производится с помощью нанесения на поверхность магнитной пленки тонкой магнитной суспензии (коллоида). Участки, в которых была записана одинаковая температура, представляют собой элементарные дифракционные решетки, имеющие одно и то же направление штрихов, Таким образом, при...
Устройство для автоматического распределения среды по нескольким параллельным каналам
Номер патента: 857636
Опубликовано: 23.08.1981
Авторы: Болотов, Вознесенская, Вознесенский
МПК: F22B 35/00
Метки: каналам, нескольким, параллельным, распределения, среды
...соединенные нормально разомкнутые контакты 5 конечныхвыключателей регулирующих клапанов 3.Регулятор 8 подключен к регулирующемуоргану 12.Устройство работает следующим образом,При отклонении давления среды в каждом канале сигнал от датчика 2 поступаетна регулятор 1, который изменяет открытиеклапана 3 и восстанавливает заданное давлениее.Сигнал давления среды перед каналамиот датчика 9 одновременно с сигналом задания от интегратора 10 поступает на входрегулятора 8, который при наличии рассогласования этих сигналов воздействует на регулирующий орган 12 и уменьшает величинурассогласования.Одновременно сигнал от датчика 9 поступает на вход дифференциатора 11,Величина сигнала задания от интегратора 10 регулятору 8 зависит от...
Устройство для измерения зависимости точности магнитной записи от параметров крутильных колебаний ленточного носителя записи
Номер патента: 532129
Опубликовано: 15.10.1976
Авторы: Варанаускас, Рагульскис
МПК: G11B 27/00
Метки: зависимости, записи, колебаний, крутильных, ленточного, магнитной, носителя, параметров, точности
...(на чертеже не показан). У края ленты 1 установлен вибратор 3. Для повышения стабильности колебаний и увеличе ния амплитуды колебаний с другой стороныленты, напротив первого вибратора, со смещением по высоте установлен дополнительный вибратор 4. Оба вибратора подключены кразнополярным выходам инвертора 5, подключен ного к генератору 6 колебаний. При такомвключении вибраторов они работают со сдвигом по фазе в 180. Один вибратор ударяет по краю ленты и производит ее скручивание в одну сторону, а другой производит скручивание 20 ленты в другую сторону. Инвертор 5 обеспечивает противофазную синхронную работу двух вибраторов. Синхронное раскручивание влияет на воспроизведение сигнала на ленте 1 головкой 7 воспроизведения, подключенной через...
Устройство для измерения параметров отношения сопротивлений многоэлементного резисторного оптрона
Номер патента: 785789
Опубликовано: 07.12.1980
Авторы: Горохов, Лютик, Перчуков, Федин, Эпштейн
МПК: G01R 27/00
Метки: многоэлементного, оптрона, отношения, параметров, резисторного, сопротивлений
...операционные усилители, постоянные резисторы, введеныгенератор пилообразного напряжения,второй измеритель выхода, блок вычисления среднего, блок вычислениядисперсии, причем первый выход ге 785789значения дисперсии этого отношения производится по уравнению (5) в блоке 6 вычисления дисперсии и фиксируется на выходе второго измерителя 9 выхода.Аналогичным образом работает устройство и на спадающей ветви генератора 1 пилообразного напряжения. Параметры устройства выбраны таким образом, что эа один цикл Т сопротивление Яф одной иэ секций фотореэистора оптрона изменяется в требуемом диапазоне от минимального значения до максимального.Таким образом, предлагаемое устрой ство в отличие от известного позволяет измерить среднее значение и...
Предыдущий патент: Электромеханический подвес
Следующий патент: Устройство к микроскопу для манипуляции
Случайный патент: Пластинчатый конвейер