Способ изготовления листового стекла

Номер патента: 70271

Опубликовано: 01.01.1948

Автор: Шаргородский

МПК: G01B 3/22, G01D 5/04

Метки: листовых, прибор, толщины

...например, при изготовлении листов шифера, необходимо в процессе изготовления производить измерения толщины листа,Для измерения толщины листовых материалов согласно изобретению предлагается прибор, особенность которого заключается в том, что с целью использования для указания толщины листа радиального смещения в направляющих прижимного валика машины применен свободно установленный на оси валика угловой рычаг, на одном плече которого укреплен ролик, прижимаемый к поверхности барабана вне зоны образования листа, а на другом плече - зубчатый сектор, сцепленный с шестерней, связанной с осью указателя, укрепленного на направляющих прижимного валика.На фиг. 1 и 2 изображен предлагаемый прибор в двух проекПрибор 3 монтируется н верхнего...

Номер патента: 474675

Опубликовано: 25.06.1975

Авторы: Бялик, Кадлец

МПК: G01B 11/02

Метки: листового, прозрачного, толщины

...свето- волов 13 образуют в фокальной плоскости объектава 5 геометрическую линию с изменяющимися по длине частотами модуляции. Объектив 5 проектирует аветавой поток на исследуемое стекло 14. Преломленный стеклом 14 аветовой поток образует в плоскости установленного неподвижно аветопрпемника 7 увеличенное изображение полосы авета с изменяющимися по длине частотами модуляции. Ширинапгелевой диафрагмы б меньше величины изображения выходного отверстия оветовода 13, поэтому на светоприм ник 7 попадает свет, модулгированный, практичесии, только одной из возможных частот, соответствующей определенной толщине стекла 14, Сигнал светоприемиика 7, частота котораго равна частоте модуляции падающего на него света, поступает в преобразователь 8 частоты...

Номер патента: 112988

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Кабанова, Слатинский, Флексер

МПК: G01B 15/02, G01N 23/02

Метки: листовых, толщины

...изображена принципиальная схема устройства, где:- источники радиоактивного излучения; 2 - измеряемый материал; 3 - рабочая ионизационная камера; 4 - компенсационная ионизационная камера; 5 - заслонка-эталон; б - винтовой механизм; 7 - тяга; 8 - задающая шкала; 9 - шунтирующие сопротивления; 10 - измерительный прибор;1 - электронный усилитель,В устройстве использованы две дифференциально включенные ионизационные камеры 3 и 4, облучаемые двумя источниками радиоактивноГО ПСЛУ 1 ЧИ 1 -. 32 КНМС)У 112 ДИСТ ОС 2 ТО 1.10 г З;УЧЕНИЕ, П)0 ПЕДШЕС ЧС,)СЗ ЕЗМСОЯЕМЫЕ Матс)Иал л, 2 НЕЕ КИЕЕг ) - ГЕ)ОЦЕДНЕЕ ЧЕ)ЕЗ ПОДВИ)К- пъ 10 зсслоепуга;Он д, зак 1)ыВ 210 щуО бол.;ееу 0 нли ме 1 ьп 1710 чисть площади каме)ы. Заслонка-зталои пе)емещаетсе от...

Номер патента: 129339

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Барабанов, Шпорк, Янушковский

МПК: G01B 15/02, G01N 23/02, G05D 5/02

Метки: измеритель, листовых, радиоактивный, толщины

...напряжение, коммутированное по фазе релейным усилителем, на управляющую обмотку двухфазного двигателя Дь Ось двигателя механически связана с движком потенциометра 1 установки нуля, Одповрсмечно с этим реле времени подает питание на рслс Ркоторос отключает ионизационныс камеры от входа лампы Л.В случае отклонения нулсвого отсчета от свосго нормального положения радиоактивное излучение стрелки прибора попадает на один из счетчиков ГС, или ГС. Этот сигнал вызывает вращение ротора двигателя Дь который выводит стрелку измерительного прибора в нулевос положение. Через некоторый промежуток времени реле времени снова переключает питание на обмотку двигателя Дг и подключает ионпзационные камеры ко входу лампы Л.Другая пара счетчиков,...

Номер патента: 129340

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Богачев, Верховский, Макаров

МПК: G01B 15/02, G01N 23/02

Метки: бесконтактного, листовых, прибор, толщины

...высокоомного сопротивления, от изменений коэффициента усиления усилителя и аналогичных факторов, так как в момент отсчета показаний ионизационные токи камер равны по абсолютной величине, Поэтому и изменения этих параметров практически не вносят погрешностей в определение толщины (или толщины покрытия), контролируемого материала.Два вспомогательных источника применены для увеличения угла поворота шторки на единицу изменения толщины (или толщины покрытия) в случаях, когда задают небольшой диапазон измерения, перекрывающий лишь малую часть кривой, поглощение выбранного радиоактивного изотопа (при измерении толщины) или кривой зависимости интенсивности отраженного излучения от толщины подложки и покрытия (при измерении толщины покрытий),...