Устройство для регистрации излучения условиях высокотемпературных испытаний материалов

Номер патента: 1774303

Опубликовано: 07.11.1992

Авторы: Кулаков, Курленя, Марков, Яковицкая

МПК: G01V 3/00

Метки: излучения, регистрации, трещинообразовании, электромагнитного

...линий, сосредоточив их в пространство между сигнальной обмоткой и экраном, За пределами экрана происходит вытеснение потока магнитных силовых линий в окружающее пространство и формирование диаграммы направленности антенны в виде узких "лепестков". Этот эффект значительно повышает чувствительность приемного устройства, что позволяет регистрировать сигналы слабых электромагнитных полей, возникающих от прорастающих трещин. Установка на открытую часть обмотки козырька в виде рупора позволяет снизить интенсивность внутренних (задних) лепестков антенны. Этот эффект позволяет при сохранении высокой чувствительности приемной аппаратуры производить локацию места регистрации электромагнитного излученияпри трещинообразовании, общий вид, с...

Номер патента: 497867

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Бажулин, Виноградов, Ирисова, Митрофанова, Тимофеев, Фридман, Щаенко

МПК: G01D 7/00

Метки: визуального, излучения, наблюдения, приемник, регистрации, электромагнитного

...причем кассета снабжена нагревателем с регулятором, поддерживающим температуру, обеспечивающую максимальный термографический эффект люминофора. без воздействия регистрируемого излучения была приблизительно одинакова. Тогда при воздействии на такой экран малых плотностей регистрируемого излучения, соответствующих небольшому повышению температуры люминофорного слоя, уменьшение яркости свечения экрана будет происходить за счет тушения свечения люминофора, обладающего высокой температурной чувствительностью. В области более высоких плотностей излучения, соответствующих практически полному ту-, шению этого люминофора, уменьшение яркости свечения экрана будет происходить за счет тушения люминофора, обладающего малой температурной...

Номер патента: 1035457

Опубликовано: 15.08.1983

Авторы: Вавакин, Степанов

МПК: G01N 3/04

Метки: головками, испытании, комбинированного, крепления, нагружения, образцов, полых, условиях

...с головками при испытании в условиях комбинированного нагружения со держащее корпус с цилиндрической посадочной полостью для образца и зажимные детали с крепежными элементами,причем крепежный элемент выполненв виде гайки с наружной и внутреннейрезьбой 1,23ЗООднако у этого устройства недоста"точная надежность крепления образцаи ограниченный диапазон испытательных нагрузок, прикладываемых к образцу,обусловленный возможностью ослаблениязкрепления образца при знакопеременномосевом нагружении и одновременномприложении крутящего момента иэ-заотворачивания гайки,Цель изобретения - повышение надежности крепления образца,Указананя цель достигается тем,что в устройстве для крепления полыхобразцов с головками при испытании,в условиях...

Номер патента: 1111588

Опубликовано: 07.08.1987

Авторы: Родионов, Чепел

МПК: G01T 1/16

Метки: гамма-излучения, регистрации, резонансного

...энергий, что увеличивает фон.Целью изобретения является увеличение эффективности регистрации гамма-излучения путем увеличения толщины поглотителя, а также увепичениеотношения сигнал/шум.Цель достигается тем, что в способе регистрации резонансного гаммаизлучения, заключающемся в том, чтопоглотитель, содержащий изотопы,для которых регистрируемое.излучение является резонансным, помещаютв поток гамма-квантов и регистрируютвозникающие в поглотителе электронывнутренней конверсии, в качестве поглотителя используют диэлектрик, который помещают в электрическое поле ирегистрируют ионизацию от электронов, остановившихся в поглотителе.Поглотитель помещают в вакуум, газообразную или полупроводниковую среду,в которую с помощью электрического,поля...

Номер патента: 468105

Опубликовано: 25.04.1975

Автор: Волосов

МПК: G01J 3/42

Метки: излучения, оптического, регистрации, спектра

...повернутыми друг относитедьнэдруга на некоторый угол, и регистрируютструктуру выходящего из кристалла излучения суммарной частоты,На чертеже представлена принципиальная схема устройства для реализайии предлагаемого способа.Приняты следующие обозначения: источник 1 исследуемого излучения, линза 2для коллимации излучения; источник 3 опор-,1 Оного излучения (ОКГ); зеркала 4-6; нелинейный кристалл 7; объектив 8; фотопленка9.Немонохроматическое исследуемое излучение (источник 1) коллимируют линзой 2 15и соосно совмещают в пространстве с опорным монохроматическим излучением ОКГ(источник 3) с помощью зеркала 4, прозрачного для исследуемого и отражающего.опорного излучения, Многократное прохож- Юдение пучков в кристалле с...