Способ испытания инструментальных
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 366383
Автор: Луб
Текст
" 1 БЯ. О П И С А Н И Е 366383ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от автЗаяв. е 1 о 19 Х.19 видетельства Уо ЛЪ 1334101/2 О)присоединением заявкиКвинтет по пелас таобретениб и открыти при Совете Иинистров СССРП итет -убликовано 16 Л.1973. Бюллетень Лс 7 11," 620.178;621.9 (088 8) та опубликования описания 23.111.1973 вторизобретеци й И. И. Л Заявител рьковсний политехнический институт им. Л, А. Жданов СПОС НЫТАНИЯ ИНСТРУИЕНТАЛНА РРОЧНОСТЬ АТЕРИАЛО 2 Изобретение относится к контролю прочности и изучению механических сВОЙстВ иц струмецтальцых материалов в малых объемах, например 1 еталло-ерамческтх твердых сплавов, минерало-ерамических и других СВЕРХтсВЕРДЫХ МатЕРИаЛОВ.Известен способ оцтроля прочности :нструментальцых материалов, согласно которому к участку ооразца перпендикулярно к его исследуемой поверхности с помощью индентора прикладывают нагрузку и доводят его до разрушения,Однако по такому способу ооразец используют однократно, при этом разрушению подвергают значительные объемы исследуемого материала.Целью изобретения является многократное определецие прочности на одном и том же образце из сверхтвердого материала. азцым кооваццем. азрушаю 1 оско по- в форме от лезвия еричесц и лоскцх ределяГДЕ В Ч менате скал ыв путем, участк ходит основаДи формул для контроляец, выполненныйрасстояние точкромки образца ывания участка ной нагрузке, з ению тсилия. цекромки образца,гается т пользуют а, угол я нагрууслови ца при удят по чя скаль алывания е изобра ем, что образклина зки от я скал выбра отнош1 вания дж 1.тткя 1 е сск. -Н. 66- а ена схема приложеци Это дости ПРОЧЕОСТИ ИС в форме клин ки приложеци выбирают из кромки образ о прочности с обходимого д. к площади ск На чертежцагрзеи пр .и ьросалывтИци адмцусом (ицдецторо.",1) с плосцм осцСпособ основан на приложении рщей нагрузки перпендикулярно и.5 верхцости образца, выпол цен ногоклина, на расстоянии 10 в 2 як,клина алмазными пцдепторами со сфили плоским основанием.При использовании ицдецтора с10 основанием статическую прочуостьют по формулер, д 5 и тслителе - усилие скалывания, а в зцаче - условная площадь поверхности ания, которая определяется расчетным исходя из допущения, что разрушение а образца при мцкроскалывании проис- аналогично срезу пуансоном с плоским нием, имеющего форму окружности, амическую прочность определяют по ЗО где В числителе - энергия удара, а в зцаме366383 Предмет изобретения Составитель Б. Сачек Техред Т. Миронова Корректор Е. Зимина Редактор Т. фадеева Заказ 124/571 Изд.132 Тирани 755 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Тип, Харьк, фил. пред. Патент нателе - та же условная площадь поверхностии скалывания,При использовании индентора со сферическим основанием приблизительные значения прочности определяют с применением экспериментальных поправочных коэффициентов.Предлагаемый способ позволяет производить испытание прочности в малых объемах и обеспечивает возможность повторных испытаний одних и тех же образцов или изделий. Способ испытания инструментальных материалов на прочность, заключающийся в том,что к участку образца перпендикулярно к его исследуемой поверхности с помощью индентора прикладывают нагрузку и доводят его до разрушения, отличающийся тем, что, с целью 5 многократного определения прочности на одном и том же образце из сверхтвердого материала, используют образец, выполненный в форме клина, угол клина и расстояние точки приложения нагрузки от кромки образца вы бирают из условия скалывания участка кромки образца при выбранной нагрузке, а о прочности судят по отношению усилия, необходимого для скалывания кромки образца, к площади скалывания.15
СмотретьЗаявка
1334101
И. И. Луб ной ГорькоЕский политехнический институт Л. А. Жданова
МПК / Метки
Метки: инструментальных, испытания
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-366383-sposob-ispytaniya-instrumentalnykh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ испытания инструментальных</a>
Прибор для контроля формы асферических поверхностей
Номер патента: 1024706
Опубликовано: 23.06.1983
Авторы: Контиевский, Липовецкий, Хуснутдинов
МПК: G01B 11/24, G01B 9/04
Метки: асферических, поверхностей, прибор, формы
...10, Компенсатор 15 можетбыть выполнен, например, в виде линзы, перемещаемой перпендикулярно оптической оси 00, микрометренным вин.том.Функцию проекционной системы выполняют следующйе детали автоколлимационного микроскопа 7: источник 8 излучения, конденсатор 9, марка 10, светоделитель 11 и объектив 12, Функцию оптической системы измерения направления отражаемых контролируемой поверхностью, лучей выполняют (по хо3 102ду отражаемых контролируемой поверхностью 3 лучей) объектив. 12, светоделитель 11, компенсатор 15, сетка 13и окуляр 14.Автоколлимационный микроскоп 7установлен с возможностью перемещениявдоль его оптической оси 00 подополнительной направляющей 6, скоторой жестко связана диафрагма 16.Центр диафрагмы 16 совмещен с опти" .ческой...
Машина для контроля геометрической формы криволинейных поверхностей
Номер патента: 1357688
Опубликовано: 07.12.1987
Авторы: Востриков, Ефимов, Казакевич, Савицкий, Самохвалов, Скорнякова, Тарасова, Чудов
МПК: G01B 5/207
Метки: геометрической, криволинейных, поверхностей, формы
...относительно математической модели этой формы, хранящейся в памяти ЭВМ, или относительно образцовой поверхности, имеюшей эту форму.В первом случае машину перед началом измерений устанавливают на образцовую плоскость с произвольным ориентированием, а во втором случае - на образцовую поверхность, ориентируют машину по определенным базовым точкам этой поверхности, устанавливая в них опоры 2 и 3. После этого с помощью привода 11 плиту 4 перемещают вместе с щупами 6 в направлении 5 образцовой плоскости или поверхности. Сигналы о перемещении плиты 4 передаются с датчика 12 в измерительную цепь 8, а затем в счетный элемент 9 и при необходимости далее в ЭВМ, Через определенный интервал перемещения счетный элемент 9 или ЭВМ производит...
Устройство для контроля формы сферической поверхности
Номер патента: 1610230
Опубликовано: 30.11.1990
Авторы: Виноградов, Москвин, Оноприенко, Печенцов, Урин
МПК: G01B 5/20
Метки: поверхности, сферической, формы
...поворота, установленную на кронштейне 5 каретку 6, закрепленный на ней датчик 7 линейных перемещений с измерительным стержнем 8, закрепленный на стержне 8 датчик 9 толщины, выполненный в виде ультразвукового преобразователя 10 и измерительного наконечника 11, размещенных в корпусе 12, и отсчетно-регистрирующий блок "3. Кроме того, кронштейн 5 может быть установлен на опорах 4 с возможностью поворота от привода 14. Координация положений датчиков 7 и 9 и контролируемой поверхности детали 15 обеспечивается шкалами 16-18,УстройСтво работает следующим образом.Устанавливают и центрируют контролируемую деталь 15 на базовой поверхности 3 стола 2 в положение контроля, фиксируют каретку 6 в заданном положении, устанавливают наконечник 11 на...
Устройство для измерения отклонения формы внутренней поверхности экрана кинескопа
Номер патента: 1753238
Опубликовано: 07.08.1992
Авторы: Верховская, Верховский, Карасев, Никифорук, Сапожков, Чекмарев
МПК: G01B 5/20
Метки: внутренней, кинескопа, отклонения, поверхности, формы, экрана
...на фиг. 5 - то же, вид сбоку на фиг. 6 - разрез А-А на фиг. 5; на фиг. 7- фрагмент узла базирования экрана; на фиг, 8 - разрез Б-Б на фиг. 7.Устройство для измерения отклонения формы внутренней поверхности экрана кинескопа содержит корпус 1, шарнирно связанную с ним штангу 2 с измерительным преобразователем 3, привод перемещения штанги (на фиг. не показан), узел базирования экрана, выполненный в виде комплекта из трех параллельных плит 4, одна из которых жестко соединена посредством стоек 5 с корпусом 1. вторая установлена с возможностью перемещения в плоскости, параллельной первой плите, а третья плита установлено с возможностью перемещения в плоскости, перпендикулярной второй плите, и упоров 6, установленных на третьей плие с...
Устройство для контроля формы параболической поверхности
Номер патента: 450077
Опубликовано: 15.11.1974
Автор: Пуряев
МПК: G01B 11/24
Метки: параболической, поверхности, формы
...устройства.Устройство содержит исто ическое измерительное устролимационный окуляр или о ) пентапризмы 3, устанавлив тричные зоны контролируемои детали, плоско- параллельную пластинку 4.Перекрытие шкалы окуляра 2 или точечнаядиафрагма, освещенная источником света, сов мещена с фокусом Р контролируемой параболической поверхности 5.Устройство работает следующим образом.Лучи света, отраженные от контролируемойповерхности 5, идут параллельно оптической 10 оси и попадают на пентапризмы 3, а затем -на зеркальную пластинку 4, установленную перпендикулярно падающим лучам. После отражения от нее лучи света повторяют свой путь в обратном направлении и возвращают ся в фокус Р, что контролируется с помощьюокуляра 2.Пентапризмы перемещаются в...
Предыдущий патент: Способ определения слеживаемости сыпучих
Следующий патент: Пульсатор для испытания текстильных волокон
Случайный патент: Рычажное приспособление для передвижения вагонов