Устройство для контроля формы изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 339762
Авторы: Николаенко, Таллер
Текст
Союз Советских Социалистических Рооптблинвт, свидетельства15206 виси мое М. 1(л. б 01 Ъ 7 Заявлено 23.Х.1970 ( 1492574 25-28) рисоединением заявкиКомитет оо делам обретений и открыт ри Совете ЫинистроСССР иорите УДК 620.191 4(088.8) Опубликовано 24 Х.1972. Бюллетень17Дата опубликования описания 17 Х 1.1972 Авторыизобретени Таллер и В, Н. Николаеик Саратов Заявител вод электроагрегатного машиностроения ЕЛий УСТРОЙСТВО ЛЯ 1(ОНТРОЛЯ ФОРМЬ трода 2, обладающего зарядом, происходит изменение по определенному закону, величины потенциала поля, которое возникло бы, если бы на измерительный электрод 1 был задан Б единичный потенциал, а изделие 5 заземлено.По такому же закону происходит изменение наведенного на измерительном электроде 1 заряда. При протекании в цепи наведенного тока с пагрузочного сопротивления 3 снимаето ся напряжение, которое подается на вход осциллографа 4, На экране осциллографа 4 появляется кривая, определенным образом связанная с формой контролируемого изделия 5.5 При выбследующее Если заряд д поместить на измерительныйэлектрод 1, то площадь 5 съема иноформации 20 определяется всем полем измерительногоэлектрода. Если заряд 0 поместить на расстоянии (о от изделия 5, меньшем до (до - расстояние от заряжеиного дополнительного электрода до,измерительного), то площадь 25 съема информации уменьшится, разрешающаяспособность увеличится, но чувствительность упадет, так как не все силовые линии будут замыкаться на измерительном электроде 1.Таким образом, при согласовании нагрузочно го сопротивления 3 с сопротивлением межИзобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при контроле микрорельефа изделия.По основному авт. св.152066 известно устройство для контроля формы изделий, однако оно не позволяет измерять профиль (микрорельеф) изделий, так как соответствие измеренного заряда профилю (микро- рельефу) изделия зависит от формы измерительного электрода и расстояния между измерительным электродом, дополнительным электродом и деталью. Для того чтобы измерить микрорельеф изделий (например, коллекторов электрических машин), необходимо повысить разрешающую способность при сравнительно высокой чувствительности устройства, что достигается выполнением измерительного электрода в форме полушара, радиус которого равен двойному расстоянию от изделия до дополнительного электрода, расположенного в центре шара,1-1 а чертеже показана схема предлагаемого устройства.Устройство содержит измерительный электрод 1, дополнительный электрод 2, нагрузочное сопротивление 3 и осциллограф 4.Устройство работает следующим образом.При вращении контролируемого изделия 5 в месте расположения дополнительного элекоре формы электрода рассмотрим339762 Предмет изобретения С;оставитель Л. СавенкоТехред Л, Богданова Корректор 3. Тарасова Редактор В, Новоселова ЗаказП 111 Изд.74 О Тираж 448 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4,5 Типография, пр. Сапунова, 2 электродного промежутка устройство дает увеличение разрешающей способности в тангенциальном,направлении (уменьшение площади съема информации) при уменьшении чувствительности.дИз выражения для чувствительности У= - ,д 1 о где дср - изменение потенциала поля, определяется максимальное значение чувспвительности и оптимальная форма электрода. Оптимальной формой измерительного электрода будет полушарв центре которого располагается дополнительный электрод с зарядом су,Для найденной формы измерительного элек.трода чувствительность будет наибольшей,1если Уа= - аа.25 Устройство для контроля фор мы изделийпо авт. св. Ма 152066, отличающееся тем, что, 10 с целью повышения разрешающей способности и чувствительности устройства, измерительный электрод выполнен в форме полушара, радиус .которого равен двойному расстоянию от изделия до дополнительного электро да, расположенного в центре шара,
СмотретьЗаявка
1492574
М. С. Таллер, В. Н. Николаенко Саратовский завод электроагрегатного машиностроени
МПК / Метки
МПК: G01B 7/28
Метки: формы
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-339762-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-formy-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля формы изделий</a>
Предыдущий патент: Устройство для установки деталей при измерении и обработке
Следующий патент: Микроконтактный датчик для контроля толщины тонких покрытий и пленок
Случайный патент: Способ получения 7-дегидрохолестерина