ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 337750 Союз Советских Социалистических Республикк автоскомь свидетельствь Зависимое от авт. свидетельства1(л. 6 02 Ь 27/2.И 1.1970 ( 1456978/18-10) аявл с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 05,7.1972, Бюллетень15 Комитет па деламобретений и открытри Совете МинистреСССР УД 1( 778 А 4(088.8 Дата опубликован описания 5 Х 1,1 Авторыизобретен 1 бский и М. М. Русинов ъединенн Заявител институт ядерных исследований и Ленинститут точной механики и оптики градскии ЕРЕОСК яжению зреие зренияеля стереокным наблюзор стереокях (маломм - отдельссное, но м перенапрнапряженнаблюдазатруднетины, Обувеличени большокомиромзадачи.Продолнаблюден ьное увеличение, достигаемое при ии стеереоскопического изображенияа -камеры;- фокусное расстояние2 О стереоскопа, для случая равенствасъемки и базиса глаз.Из этой формулы видно, что воспрреоскопического изображения опреглавным образом, фокусньп расстоя25 ляров стереоскопа, так как параметрВф и Ри фиксированьнТаким образом, возникает протнаблюдение деталей картины требуешения расстояния .т. е. большегоЗО ния стереоскопа, а ненапряженное 15 где В, - базис глаз; Вф - базис съемки; Ри - картинное расстояние съемочной куляро базис ятие стеделяется, нием окуы съемки воречие:уменьу,величе- восприяИзвестны стереоскопы, содержащие держатель снимков стереопары с устройством подсветки и два окуляра.Предложенный стереоскоп отличается от известных тем, что перед каждым из окуляров устанселен анаморфот, например, галилеев- ского типа с образующей, перпендикулярной базису стереоскопа.Это позволяет уменьшить разность параллаксов для точек переднего и заднего планов.На чертеже показана оптическая система стереоскопа в двух проекциях, где правый 1 и левый 2 снимки стереопары, анаморфоты 8, например, галилеевского типа, которые дают дополнительное уменьшение изображения поперек базиса и не изменяют увеличения вдоль базиса съемки, окуляры 4, которые могут быть сменными и позволяют наблюдать стереокартины с различными снимками.При съемке в пузырьковых камерах для по. вышения точности измерения глубинной координаты применяют сравнительно большие базисы съемки, а для .повышения эффективности регистрации событий увеличивают глубину фотографируемого объема камеры. Это приводит к образованию больших параллаксов в плоскости изображения и большой разности параллаксов для точек переднего и заднего планов фотосъемки и, следовательно, к ия наблюдателя, Переожно снять, отдалив от артину, но тогда станет ение деталей стереокарртпны при различных - всей картины в целом ных зон стереокартины) лоэффективное решение3тие ВСей картины в целом, напротив, .меньшего увеличения.При использовании в стереоскопе для обзора камерных снимков анаморфотных элементов обеспечивается наблюдение стереоскопической картины с малым увеличением вдоль базиса съемки и с большим увеличением поперек базиса съемки и, тем самым, снимется указанное выше противоречие.Таврим образам, предложенный стереоскоп дает возможность обзора стереаскопической картины с различными пластиками и с анаморфированием изображения. Анаморфоза изображения дает сравнительное уменьшение величин параллаксов и, следовательно, их разности для точек переднего и заднего пла 337750 нов, а это обеспечивает снижение налряженности восприятия стереоэффекта при обзоре всего объема на полную глубину. Сравнительно бодьшое увеличение поперек базиса дает 5 возможность более тщательного рассматривания деталей картины.Предмет изобретенияСтереоскоп, содержащий держатель сним ков стереопары с устройством подсветки и дваокуляра, отличающийся тем, что, с целью уменьшения разности параллаксов для точек переднего и заднего планов, перед каждым из окуляров установлен анаморфот, напри мер, талилеевского типа с образующей, перпендикулярной базису стереоскопа.Составитель Г. Литвин дактор Т, Рыбалова Техред Л. Богданова Корректор В. Жодудева Заказ 1539/15 Изд.679 Тираж 448 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова,

Смотреть

Заявка

1456978

Э. В. Козубский, М. М. Русинов, Объединенный институт дерных исследований, Ленинградский институт точной механики, оптики

МПК / Метки

МПК: G02B 27/22

Метки: 337750

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-337750-337750.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">337750</a>

Похожие патенты