332314

Номер патента: 745550

Опубликовано: 05.07.1980

Авторы: Власов, Колосов

МПК: B07C 5/06

Метки: диаметру, монет, сортировки, типа, толщине

...которые Щзадерживают изделия большего диаметра, Мерительные каналы 9 узла 2 сортировки по толщине в виде калиброванныхщелей образованы центробежнымдиском питателя 8 и противовращающимися валиками 13; эти щели задерживают изделия большей толщины (в томчисле и гнутые) и отбрасывают их назад в бункер 7 сортирующего узла 2,Такая конструкция калибрующих щелейтребует порционной подачи изделийна сортировку по толщине в сортирующий узел 2. Мерительные каналы 9узла 3 сортировки по меньшему диаметру в виде калиброванных провальныхокон расположены в регулируемыхпо ширине направляющих дорожках 14,снабженных ускоряющими роликами. Провальные окна задерживают изделияменьшего диаметра.Сменное сито 12 имеет уклон, обеспечивающий сбор иэделий...

Номер патента: 1670329

Опубликовано: 15.08.1991

Автор: Аношин

МПК: G01B 5/00

Метки: измерительный, наконечник, поверхностями, прерывистыми, приборам

...для автоматического контроля диаметров деталей с прерывистыми поверхностями имеет держатель 1, свободный конец которого выполнен в виде цилиндрического стержня и предназначен для крепления в клеммовом зажиме рычага прибора, два элемента 2, рабочая поверхность которых, т.е. поверхность, контактирующая с контролируемой поверхностью детали, имеет дугообразный участок 3 с радиусом кривизны, равным радиусу окончательно обработанной детали, и прямолинейный участок 4,На держателе 1 шарниром 5 крепятся оба рабочих элемента 2. Механизм для создания усилия прижатия элементов к контролируемой поверхности выполнен в виде двух пружин 6, двух винтов 7, ввернутых в держатель 1 для регулирования усилия прижатия, и двух гаек 8.Усилие прижатия...

Номер патента: 1446481

Опубликовано: 23.12.1988

Авторы: Брик, Проссовский, Тюрникова

МПК: G01G 3/16

Метки: автоматической, головке, датчика, измерительной, калибровки, кварцевого, расположенного, системы, слоев, толщины, тонких

...например, нагревают ее до температуры Т. Заносят в память управляющего компьютера числа М и Ь а также другие параметры технологического процесса (скорость роста пленки, давление кислорода, мощности испарителей и т.д.), где М и Ь - объемная плотность иромтолщина слоя. Проводят в автоматическом режиме испарение требуемого вещества до тех пор, пока поверхностная плотность слоя не достигнет величины д = М Ь , Процесс испаренияртм ртмпрекращается автоматически, Во время45 испарения вещества второй кварцевый датчик, нагретый до температуры Т, может быть неподвижным или совершать движение, например, по окружности, Приемная апертура (площадь слоя) первого и второго кварцевых датчиков50 одинакова, После испарения слоя вещества вакуумную камеру...

Номер патента: 1027382

Опубликовано: 07.07.1983

Авторы: Власкин, Кудрявцев, Пятецкий

МПК: E21B 47/08

Метки: геофизического, измерительное, прибора, скважинного

...в том числе для выделения желобов и оценки их прихватоопасности.Целью изобретения является повышение надежности работы устройства.Для достижения этой цели устройство, содержащее корпус, внутри которого расположен механизм управления измерительными рычагами, выполненный в виде штанги, гидросистемы с рабочей камерой, рабочими плунжерами, упругим элементом, измерительные рычаги шарнирно соединенные с корпусом, и потенциометрические датчики, выполнено с компенсирующей камерой, размещенной в верхней части корпуса, сообщающим ее с рабочей камерой сквозным каналом, в котором установлена штанга с упором, при этом на одном конце его со стороны компенсирующей камеры расположен соосно со.штангой плавающий поршень, а на другом - упорная шайба...

Номер патента: 1635145

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Бугайцов, Криворучко

МПК: H01L 21/66

Метки: изделия, контактирования, контролируемого, контрольного, устройства

...и разъединение полупроводникового диода с балочными выводами с проводниками печатной схемы осуществляют следующим образом. На печатные проводники 3 измерительной схемы на расстоянии 2 - 5 мм от места предполагаемого монтажа диода наносят две капельки (ф 60- 80 мкм) жидкого сплава металлов - индий- галлия. После этого в зазор 4 измерительной схемы устанавливают полупроводниковый диод с балочными выводами (фиг, 1). Затем с помощью иглы или волосяной кисточки смачивают капли жидкого сплава металлов зтиловым спиртом, Капли сворачиваются в шарики, которые накатывают на балочные выводы диода (фиг, 2). После испарения спирта капли жидкого сплава металлов теряют форму шариков, растекаясь,они смачивают балочнье в,во 1 ды прибора и...