Способ определения диэлектрических характеристик
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 323746
Автор: Матис
Текст
О П И С А Н И Е 323746ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскив Социалистическиа РеспубликМ, Кл, 6 01 г 27/2 присоединением заявкиоритет Комитет по делам обретений и открытий ри Совете Министров СССРОпубликовано 10.Х 11.1971. Бюллетень1за 1972 Дата опубликования описания 7.11.1972 ДК 621.317,733 (088.8 Авторизобретен и И. Г. Матис Институт механики полимеров АН Латвийской Сявитель ЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХАРАКТЕРИСТИ К ПОСОБ О 2 10 опр цаемоются 20 проницаемость определяизмеренной С н воздуштденсатораС, С,отношения видого учета пар лект ак о и дпэ ется к ной С рнческая тношенне 5 кости ко Из же вно, что да.азитной ем. диего со е идеаль См, + луча Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 30.11.1970 ( 1418979/18 Изобретение относится к измерению диэлектрических характеристик материалов емкостным способом - при помощи измерительных конденсаторов.Известный способ определения диэлектрических характеристик материалов имеет значительную погрешность нз-за паразитной емкости, обусловленной наличием краевых полей, и емкости высокопотенциального электрода на землю.В предлагаемом способе эти недостатки устранены за счет того, что заполняют дополнительно измерительный конденсатор контролируемым веществом, площадь которого отлична от площади основного слоя, а их периметры и толщины равнозначны, измеряют параметры измерительного конденсатора, определяют разность параметров обоих замеров - заполненных и незаполненных конденсаторов и по известным соотношениям определяют искомые диэлектрические характеристики.Сущность изобретения поясняется примером определения диэлектрической проницаемости в плоским измерительным конденсатором, ме 5 кду обкладками которого помещается исследуемый образец. Измеренная емкость такого конденсатора слагается из следующих составляющих: оа =емкость образца, пропорциональная площади образца 5, (4 - толщинаобразца),1 (е,с) - емкость края, пропорциональная периметру образцаа Р(е,а,) - трудноопределяемая функцияемкости края, зависящаяот е и ЙС, - паразитная емкость высокопотенциального электрода на землю, зависящая от конструкции измерительного конденсатора.еделенин диэлектрической пронипо известному способу рассчнтывавоздуигная емкость конденсатора5,Со"= -о -О 31Корректор Е. Усова Редактор А. Корнеев Заказ 164/16 Изд,1835 Тираж 448 11 одписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, К, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 кости края С получают повышенное значение диэлектрической проницаемости за счет неучета паразитной емкости С, . Согласно предлохкснному способу измеряют еще емкость второго образца, отличающегося от первого площадью, Измеренная емкость второго образца равна:С, = е,е - - + Р 2 Д (212) + п,Так как д=г/а=с/ и Р,=Р, и С, = С разность измеренных емкостей равна: Отношение разности измеренных емкостей к воздушной емкости, определенной по разности площадей ЛСо= во, дает диэлектричеЬ - 52скую проницаемость Лналогично мокино получить и зависимостьдля активной проводимости контролируемоговещества:1 12 где 6 - активная проводимость первого образца,62 - активная проводимость второго образца.5 Тангенс диэлектрических потерь определяется как Предмет изобретенияСпособ определения диэлектрических характеристик веществ путем измерения пара метров измерительного конденсатора, заполненного и незаполненного контролируемым веществом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, заполняют дополнительно измерительный конденсатор слоем контро.20 лируемого вещества, площадь которого отлична от площади основного слоя, а их периметры и толщины равнозначны, измеряют параметры измерительного конденсатора, определяют разность замеров заполненных и не заполненного конденсаторов и по известнымсоотношениям определяют искомые диэлектрическиее характеристики.
СмотретьЗаявка
1418979
И. Г. Матис Институт механики полимеров Латвийской ССР
МПК / Метки
МПК: G01R 27/26
Метки: диэлектрических, характеристик
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-323746-sposob-opredeleniya-diehlektricheskikh-kharakteristik.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения диэлектрических характеристик</a>
Измеритель емкости электролитических конденсаторов
Номер патента: 1762266
Опубликовано: 15.09.1992
Автор: Родионов
МПК: G01R 17/10, G01R 27/26
Метки: емкости, измеритель, конденсаторов, электролитических
...4. Измеряемый блок 5 последовательно с ключом 6 также подключены к измеряемому конденсатору 4, Коммутационная обмотка 7 генератора 2 соединена с управляющим входом ключа 6 и с одним из его выводов.Измеритель работает следующим образом.При одном полупериоде переменного напряжения на обмотке 1 генератора 2, когда к аноду диода 3 приложен положительный потенциал, конденсатор 4 заряжается цо амплитудного значения напряжения на обмотке 1, При этом полупериоде ключ 6 закрьт и ток по измерительному блоку 5 не протекает. Во время другого полупериода напряжения диод 3 закрыт, а ключ 6 открыт (открытие ключа при этом полупериоде обеспечивается соответствующей фазировкой коммутирующей обмотки 7) и через измерительный блок протекает только...
Способ тарировки измерительных устройств с емкостным диэлектрическим датчиком
Номер патента: 127856
Опубликовано: 01.01.1960
Автор: Романенко
МПК: G01N 27/22
Метки: датчиком, диэлектрическим, емкостным, измерительных, тарировки, устройств
...условия.; . ограничивают область применения емкостных датчиков для анализа ил: контролирования тех или иных сред.При применении предлагаемого способа 1 арировку прибора с диэлектрическим датчиком производят на стабильных жидких моделях, дизлектрическая проницаемость которых соответствует лабораторным да- ным, полученным для образцов измеряемых сред.Способ предусматривает три варианта моделирования неустоинв ; сред на основе использования стабильных растворов. По первому варпан - ту для моделирования применяют стаоильный раствор, диэлектрнч -М 127856кую проницаемость которого устанавливают посредством изменения содержания того или иного компонента. По второму варианту используют стабильный раствор, требуемуо диэлектрическую...
Устройство для настройки подстроечного конденсатора на заданную емкость
Номер патента: 585553
Опубликовано: 25.12.1977
Авторы: Марковский, Янин
МПК: H01G 13/00
Метки: емкость, заданную, конденсатора, настройки, подстроечного
...к механизму 1 и к конденсатору 2.Механизм 1 связан с регулировочным палц.,цем 3 через электромагнитную муфту 5 сцеаления, выполненную с воэможностью взаимодействия с регулировочным пальцем Эчерез клиновые упоры 6. Электромагнитнаямуфта 5 соединена с блоком управления иизмерения 4, Устройство для настройки подстроечного конденсатора на заданную емкость работает следующим образом.От механизма 1 вращения ротора конденсатора 2 приводится во вращение катушка электромагнитной муфты 5 и через водило 7 палец Э с диском 8. При выключении электромагнитной муфты 5 палец 3 опускается, и находит шлиц ротора конденсатора . Когда ротор при вращении доходит 1 ф2. Когдо заданного значения емкости, включается электромагнитная муфта 5 и от сигналаблока...
Накладной конденсатор
Номер патента: 972377
Опубликовано: 07.11.1982
Автор: Бурминов
МПК: G01N 27/22
Метки: конденсатор, накладной
...до дополнительногоэлектрода;И - максимальный изгиб основныхэлектродов, соответствующийрадиусу кривизны контролируемого материала;Ь - глубина зоны контроля,На фиг, 1 изображен конденсатор; нафиг, 2 - график изменения. емкости Спустого накладного конденсатора от расстояния (кривая 6) и емкости С ъ компенсирующего конденсатора (кривая 7). 7 4неподвижного электрода, Она уменьшается в зависимости от расстояния, причем это расстояние зависит от радиуса кривизны контролируемого материала. Кроме того, размеры электрода определяются локальной, наперед заданной плошадью контроля и радиусом кривизны контролируемого материала, причем 6 - Б, =д Ь, где при д Ь -0 чувствительность максимальная.Все измерения поддаются автоматизации, поэтому с помощью...
Способ определения градуировочной характеристики измерительного устройства
Номер патента: 1071983
Опубликовано: 07.02.1984
Автор: Заико
МПК: G01R 35/00
Метки: градуировочной, измерительного, устройства, характеристики
...60На чертеже изображена блок-схемаустройства, реалиэуюарго данный способ .Устройство содержит ключ 1, измерительное устройство 2, компара-65 тор, 3 уровня, эадатчик 4 уровня, элемент И 8, блок б управления и статистической обработки данных, измерительвремени, компаратор 8 времени и задатчик 9 времени.Способ осуществляется следуюемм образом.По команде с блока б управления, согласно программе, эадатчик 4 уровня вырабатывает постоянный уровень Х;, а эадатчик 9 времени - время датирования градуировочной характеристики. Одновременно открывается ключ 1, испытательный сигнал х поступает на вход измерительного устройства 2 и приводится в действие измеритель 7 времени. Постоянный уровень х; и время 1; датирования сравниваются...
Предыдущий патент: Универсальный цифровой измеритель сопротивления
Следующий патент: Устройство для измерения корреляционных ” свойств шумоподобного сигнала
Случайный патент: Способ автоматического дистанционного измерения и регистрации малых влажностей газов