Способ обнаружения дефектов в полотне волокнистого материала
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 323718
Авторы: Лихтман, Украинский
Текст
ОПИСАН И Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ 3237 8 Союз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт, свидетельства-Заявлено 18,И 1.1969 ( 1350340/29-33)с присоединением заявки-Приоритет -Опубликовано 10.Х 11.1971, Бюллетень е 1 за 1972Дата опубликования описания 16.11.1972 Ч, Кл, 6 0)п 2)/00 Комитет по делам изобретеиий и открытий при Совете Мииистров СССРЗаявитель СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ В ПОЛОТНЕ ВОЛОКНИСТОГО МАТЕРИАЛАИзобретение может быть использовано в устройствах автоматического контроля ц сортировки различных плоских листовых и рулонных материалов, например, бумаги.Известен способ обнаружения дефектов в полотне волокнистого материала путем просматривания полотна световым лучом, приема отраженного и пропущенного материалом компонентов светового луча, усиления их и последующей обработки.Однако такой способ це обеспечивает достаточную чувствительность ц надежностьконт оля.редлагаемый способ не имеет этого недостатка и отличается от известного тем, что отраженная и пропущенная компоненты светового луча суммируют в соотношении: отражецная компонента 50: 90%, пропущенная материалом компонента 50: 10 о/о,На поверхность бумаги 1 направляется сканирующий луч 2 (луч развертки). Отраженная от бумаги часть светового потока луча воспринимается фотоприемником т, а прошедшая сквозь бумагу часть (просветная компонента) - фотоприемником 4. Усилители т и 6 служат для усиления сигналов фотоприемников и обеспечения возможности выбора соотношения компонент, подаваемых в сумматор 7. Выходной сигнал датчика регистрируется индикатором 8. 10 Предмет изобретения Способ обнаружения дефектов в полотневолокнистого материала путем просматривания полотна световым лучом, приема отра женцого и пропущенного материалом компонентов светового луча, усиления их и последующей обработки, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности и надежности контроля, отраженная и пропущенная 20 компоненты светового луча суммируют в соотношении: отраженная компонента 50: 90%, пропущенная материалом компоцента 50: 10 о/о.Составитель Н, ЦветковаРедактор Г, Кузьмина Текред Л, Богданова Корректоры С. Сатагулова и Т, БабакинаЗаказ 585/12 Изд.1813 Тираж 448 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб д. 4/5Тип. Харьк. фил. пред. Патент
СмотретьЗаявка
1350340
И. Н. Лихтман, Украинский научно исследовательский институт целлюлозно бумажной промышленности
МПК / Метки
МПК: G01N 21/89
Метки: волокнистого, дефектов, обнаружения, полотне
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-323718-sposob-obnaruzheniya-defektov-v-polotne-voloknistogo-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ обнаружения дефектов в полотне волокнистого материала</a>
Предыдущий патент: Прибор для определения прочности искусственн и естественных каменных материаловgt; amp; 1
Следующий патент: Устройство для экспресс-анализа жидкости оптическим методом
Случайный патент: Запирающее устройство для кожгалантерейных изделий