Патентно-тгки; шблис
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ЗОВ 6 Фовз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельствавлено 04.П.1970 ( 1411110/18-10 МПК б 011 с 5/00 с присоединением заявкириоритет Комитет па лелате изобретений и открытий при Совете Министров СССРУДК 535,231.2(088.8 1.17,1971. Бюллетень14 Опубликова Дата опубликования описания 16.И.19 ВСЕСОЮЗНАЯ1 БН"-". И 4 БЛ тО:,",х Авторы изобретения А. Ануфриев и Беляков Заявите СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НОСИТЕЛЬНОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ ИЗЛУЧАТЕЛЬН СПОСОБНОСТИ МАТЕРИАЛОВется от извест. по размерам и минка, покрыи, погружают меряют темпе- и по измерен- относительную ледуемых маТ - Т,=(Т 2з г Тз -остоянная Стеф емпература сте ия,а-Больцмана,к или окруже где о ТсИзобретение относится к области измерительной техники, в частности, к области исследования излучательных свойств материа- лов В настоящее время при определении излучательной способности материалов используют способ, основанный на тепловом балансе электрической мощности, затраченной на нагревание тела, и тепла, излучаемого с поверхности нагретого тела.Этот способ, связанный с предварительной градуировкой системы, наличием неравномерного температурного поля по длине образца и радиального градиента температур от металлическои нити к наруткной поверхности исследуемого материала, приводит к снижению точности измерения интегральной излучательной способности материалов. Предлагаемый способ отличаных тем, что два одинаковыхчистоте поверхности термоприетых исследуемыми материаламв нагретый прозрачный газ, изратуру газа и термоприемниковным параметрам определяютизлучательную способность исстериалов.Предлагаемый способ позволяет повыситочность измерения. Сущность способа заключается в том, чтоизготавливают два одинаковых по размерам и чистоте поверхности термоприемника (в качестве термоприемников используют термо пары или термосопротивления, чистые или покрытые путем напыления исследуемыми ма.териалами). Термоприемники помещают в нагретый прозрачный газ, однородный в районе установки термопрпемников, и измеряют темо пературу газа и термопрнемников. Для правильного измерения относительной излучательной способности конструкцию термоприемников подбирают так, чтобы исключить влияние на их показания всех факторов, кро ме потерь энергии на излучение. Так как разность между температурой газа Ти температурой термоприемников Т, и Т 2 обусловливается разным количеством энергии, излучаемой нагретыми телами с разной излучатель ной способностью е 1 и е 2, то301565 Предмет изобретения Составитель И. ДубсонРедактор С. И. Хейфиц Техред Л. Л, Евдонов Корректор Т. А. Абрамова Заказ 1547/13 Изд.659 Тираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж.35, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр, Сапунова, 2 а 1, а 2 - соответствующие коэффициенты теплоотдачи. Для заданных постоянных параметров газаа 1=а 2 и 4 4е Тг - Т 1 2 стЕ 1,2 -- 4 462 Тг - Т 2 Т 1 - ТсчТаким образом, уравнение (3) позволяет определить относительную интегральную излучательную способность двух материалов, а при наличии эталонного термоприемника с известной излучательной способностью нетрудно определить абсолютное значение излучательной способности исследуемого материала,Способ определения относительной интегральной излучательной способности материа лов путем измерения температуры нагретыхтел с разной излучательной способностью, отличаюи 1 ийся тем, что, с цель 1 о повышения точности измерения, два одинаковых по размерам и чистоте поверхности термоприемника, 10 покрытых исследуемыми материалами, погружают в нагретый прозрачный газ, измеряют температуру газа и термоприемников и по измеренным параметрам определяют искомун) величину.15
СмотретьЗаявка
1411110
А. А. Ануфриев, С. Д. Бел ков
МПК / Метки
МПК: G01K 5/00
Метки: патентно-тгки, шблис
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-301565-patentno-tgki-shblis.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Патентно-тгки; шблис</a>
Способ определения интегральной излучательной способности поверхности материалов
Номер патента: 1774192
Опубликовано: 07.11.1992
Автор: Аксенов
МПК: G01J 5/02
Метки: излучательной, интегральной, поверхности, способности
...охлаждения каждого образцаможет и не совпадать,Для любого одинакового значения температуры 1 поверхностей охлаждаемых образцов справедливы следующие уравнения:15- 6 с =еп 1 Со 0011+273)бЪ4бх- (0,01 то+2,73) ) Е+Ок 1 (1)20- 6 с = е и 2 Сс( 0,01 т + 2,73 )б 124бГ- ( 0,01 1 о + 2,73 ) ) Е + О к 2 (2) Здесь 6 - масса образца, кг;с - приведенная массовая теплоемкостьобразца, Дк/кг, К;Со = 5,67 Вт/м К - коэффициент излучения абсолютно черного тела;30 ь - температура поверхности экранов,Е - площадь теплаатдающей поверхности образцов, м;2,Ок 1 и Ок 2 - конвективные и кондуктив 35 ные тепловые потоки ат образцов к экранам, Вт;Приведенные излучательные способности первой и второй системы(Еп 1 ИЕп 2 ) ВЫРажаЮтСЯ фОРМУЛаМИ:40 1 1 ЕЕп 1 =14 -...
Способ определения излучательной способности поверхности твердых тел
Номер патента: 1141845
Опубликовано: 07.04.1988
Авторы: Куприс, Сегалович, Тамонис
МПК: G01J 5/00
Метки: излучательной, поверхности, способности, твердых, тел
....измеряется интенсивность излучения излучающей среды 2, противорасположенной поверхности 1 в окрестности точки 6 поверхности, а также отраженное излучение из точки 7 поверхности. Путем изменения глубины погружениЯ ОУУдУк Ук, Ук фУу,подвижного узкоугольного радиометра 3 измеряется интенсивностьизлучения в соответствующих точкахизлучающей среды 1. В тех же точкахизмеряется температура Тизлучающей среды 2. Отдельно измеряется температура Т поверхности 1. Так кактемпература поверхности Т, значительно превышает температуру чувствительного элемента 4, то спектральнаяинтенсивность излучения 1(у 1 с), падающего на чувствительный элемент 4,определяется по формуле1141845 Ф ч1 (ус) =Т,р, 1 а(1-1 Я)ехр(-2 -с )Г(сд,аа,Трд спектральная...
Способ определения относительной интегральной излучательной способности материалов
Номер патента: 456153
Опубликовано: 05.01.1975
МПК: G01J 5/00
Метки: излучательной, интегральной, относительной, способности
...скоростная погрешность (за счет недовосстановленпя температуры термопрцемника до температуры торможения 20 газа) была пренебрежимо малой,Так как излучательная способность большинства твердых тел с изменением температуры меняется монотонно и, как правило, весьма медленно, то отнесение измененного 25 значения цзлучательцой способности к середине температурного интервала, опрсдслясмо- ГО показаниями каждого тсрмопрцскника, не вносит заметных ошибок, особенно сслц измерения проводить в значительном диапазоне 30 температур газа,(4) Составитель В. Афонькин Техред Г. Дворина Корректор Н, Аук Редактор В, Фельдман Заказ 573/6 Изд.359 Тираж 740 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва,...
Способ определения интегральной полусферической излучательной способности покрытий
Номер патента: 530555
Опубликовано: 25.06.1978
Авторы: Горшенев, Жулев, Падерин
МПК: G01N 25/00
Метки: излучательной, интегральной, покрытий, полусферической, способности
...40Т - осредненная величина эталонных образцов, соседних с рассматриваемым опыт. ным образцом с исследуемым покрытием.Температурная зависимость излучательной способности исследуемого покрытия Еп нахо дится из уравнений теплового баланса в стационарном режиме; для образца с исследуемым покрытиемт Е (Т)+бэ(Т ) 8 Т фсэ(Т)ЕцЗ, (2) р) для эталонных образцовТф)(у Т 4 о Э(Т 44 пд гдеС - поглошагельная способность эталон- "3ного покрытия- - плотность лучистого потока, падаюф 6 ОЮщего на образец с исследуемым покрытием- плотность лучистого потока, падаю"466 дщего на эталонный образец.еУчитывая что в инфракрасном спектре А =э соотношение (2) приводится к виЕ=2 ГТ Ь фДля повышены точности эксперимента ве вичина равняется осредненной...
Фотоэлектрическое устройство для измерения размеров нагретых изделий
Номер патента: 1130740
Опубликовано: 23.12.1984
МПК: G01B 21/06
Метки: нагретых, размеров, фотоэлектрическое
...контролируемого изделия выполнен 40в виде цепи из последовательно соединенных усилителя фототока, триггера Шмитта и функционального преобразователя, сканирующий блок выполнен в виде барабана с двумя рядами щелей, смещенными один относительно другого на половину шага, фотоприемник расположен внутри барабана на оптической оси, блок термокомпенсации выполнен в виде двух светофильтров с различной полосой пропускания, каждый из которых раположен напротив соответствующего ему ряда щелей барабана, цепи из последовательно соединенных триггера Шмитта, блока разности, дифференцирующего звена, блока задержки, элемента И, ждущего мультивибратора, коммутатора и функционального преобразователя, блока автоматической регулировки усиления, вход...
Предыдущий патент: Способ измерения температуры объекта
Следующий патент: Способ заполнения жидкостью манометрических термосистем
Случайный патент: Миниатюрный магнетрон12