Способ измерения постоянного магнитного поля

Номер патента: 298906

Авторы: Афанасьев, Библиотека, Пате, Ская

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоеетскитСоциалистическими Ресвуолик Зависимое от авт. свидетельства1383550/18-10) 3 аявле 09.Х 11.1 инением МПК б 01 г 33/О риса аявкииоритет Комитет во делам иаооретений и открыти ври Совете Мииистрое СССР, В. Афанасьев аявител ПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОСТОЯННОГО МАГНИТНОГО ПОЛЯИзобретение относится к области магнит. ных измерений и предназначено для измерения постоянных и медленно меняющихся магнитных полей.Известные способы измерения магнитного поля, основанные на индуцировании э.д.с, в контурах при их перемещении в исследуемом поле, имеют недостаточно высокую чувствительность и точность измерений.Предлагаемый способ отличается тем, что пропускают переменный ток через два упруго связанных и находящихся в непосредственной близости контура или две части одного упругого контура и из наведенных в них э.д.с, выделяют одну из четных гармоник, например вторую, по амплитуде и фазе которой судят о величине и направлении исследуемого поля. Благодаря этому повышаются чувствительность и точность измерений.Описываемый способ поясняется схемами, На фиг. 1 изображены две плоские многовитковые рамки 1 и 2, установленные на упругих проводящих стойках 3 и 4 в непосредственной близости друг от друга. Рамки соединены между собой согласно-параллельно и подключены к общему источнику переменного тока 1 ь выполненному в виде трансформатора 5 со средней точкой, Выходной сигнал, пропорциональный напряженности исследуемого поля Н, в виде, например, тока 1 удвоенной частоты выделяется в диагонали схемы с по.мощью трансформатора б.На фиг, 2 изображены две проводящие упругие части 7 и 8 внутреннего деформируемого контура с симметричным токопроводом 9,соединенным с источником переменного тока(на чертеже не показан), и внешний недеформируемый контур 10 с большим числомвитков, расположенный симметрично и соосно0 внутреннему контуру. Из внешнего контуравыделяют э. д. с, удвоенной частоты 11 у(Н),пропорциональную исследуемому полю, направленному по нормали к плоскости дефор.мир уемого внутреннего контура,5 Сущность способа основана на взаимодействии двух переменных токов 1 ь протекающих по двум упруго связанным контурам, или двум частям одного упругого контура. Под 20 действием механических сил взаимодействияконтуры или части контура начинают колебаться с удвоенной частотой. Рамки 1 и 2 и части 7 и 8 упругого контура притягиваются друг к другу независимо от направления тока 25 в рассматриваемый момент. При наличии измеряемого магнитного поля в каждой рамке (см. фиг, 1). индуцируется э. д. с., вызывающая ток 1., направление которого различно в рамках 1 и 2. В диагонали схемы эти точки Зо суммируются (21,). На фиг. 2 индуцируемыеИзд,419 Тираж 473 Подписное лам изобретений и открытий при Совете Министров СССР осква, Ж, Раушская наб., д. 4(5 Заказ 866/11ЦНИИПИ Комитета по Типография, пр. Сапунова,Дтоки, обозначенные стрелками, будут циркулировать в деформируемом контуре. Индуцируемая в рамках э. д. с. е(1) пропорциональна напряженности измеряемого магнитного поля, имеет удвоенную частоту и определяется соотношением где со - частота тока 1 возбуждения;ср - амплитуда угловых колебаний;ы - число витков в рамке;5 - площадь поперечного сечения рамки;ра - магнитная постоянная,Удвоенная частота выходного сигнала обеспечивает повышение точности измерений. Чувствительность 6 системы, содержащейдве рамки (см. фиг. 1), равна6 = 40 щтге 5 РО5Предмет изобретения Способ измерения постоянного магнитногополя, основанный на возникновении э. д, с. в 10контурах, перемещающихся в исследуемом поле, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности измерений, пропускают переменный ток через два упруго связанных и находящихся в непосредственной близости контура или две части одного упругого контура и из наведеннь 1 х в них э. д. с. выделяют одну из четных гармоник, например вторую, по амплитуде и фазе которой судят о величине и направлении исследуемого поля.

Смотреть

Заявка

1383550

Ю. В. Афанасьев, ПАТЕ, СКАЯ, библиотека МБА

МПК / Метки

МПК: G01R 33/02

Метки: магнитного, поля, постоянного

Опубликовано: 01.01.1971

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-298906-sposob-izmereniya-postoyannogo-magnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения постоянного магнитного поля</a>

Похожие патенты