Способ контроля микросхем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е 296042ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сова Соеетокик Сециалиетическиа РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваМПК 6 01 г 3/00 Заявлено 24.Х 1.1969 (М 1378792/26-9)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 12.11.1971, Бюллетень8Дата опубликования описания 26 Х.1971 Номитет ло делам иаобретеиий и открытий лри Секете Мииистрое СССРАвторыизобретения Г, В. Гессен, Ю. Г. Морозов, Н. Я, Самойлов и С. Л. Эпштейн Заявитель СПОСОБ КОНТРОЛЯ МИКРОСХЕМ Контактное устройство для контроля микросхем известно. Новизна изобретения состоит в способе контроля микросхем, заключающемся в том, что с целью уменьшения остаточных параметров и обеспечения контроля работоспособности элементов к измерительному устройству одновременно с микросхемой через систему щупов подключают дополнительную схему, образующую с первой законченный функциональный узел.На чертеже показано устройство, реализующее описываемый способ.Головка состоит из основания 1, в котором находится маска 2. В маске сделаны направляющие отверстия точно по координатам контактных площадок микросхемы, Через эти отверстия проходят щупы 3, с помощью которых осуществляется контакт с микросхемой и которые прижимаются к маске упругой подушкой 4, например резиновой. Плата 5 служит для того, чтобы стянуть весь пакет и через регулировочную шайбу б поджать резиновую подушку. Концы щупов выведены через промежуточную прокладку 7,Для более качественной изоляции между подушкой и щупами проложена пленка 8 с высокими изоляционными свойствами, например из фторопласта. К основанию крепится разъем 9 для подключения к измерительному прибору и подачи питающих напряжений. Кроме того, сделана контактная колодка 10 для корпусов 11, в которых находится плата с активными элементами. Вся головка закрыта крышкой 12. Стяжные винты и винты крепле ния на чертеже не показаны.Плата с активными элементами, находящаяся в корпусе 11, представляет собой измеряемую микросхему без пассивных элементов, на которой напаяны применяемые в данной схе ме транзисторы и диоды. Соответствующиевыводы этой микросхемы через разъем связаны с соответствующими щупами.Для измерения микросхемы по выходнымпараметрам от щупов, которые контактируют 15 с контрольными точками, сделана распайкана разъем 9.Упругая подушка дает возможность приконтактировании перемещаться щупам в направляющих отверстиях и обеспечивает на дежный контакт с измеряемойплатой всехщупов,В процессе измерения контактирующая головка опускается на плату с пассивными элементами так, чтобы обеспечить контактирова ние щупов с узловыми точками. Тем самымосуществляется подключение к плате недостающих на ней транзисторов и диодов, и после подачи питания схема оказывается в рабочем состоянии и может контролироваться по ее вы ходным параметрам.Предмет изобретения Способ контроля микросхем, основанный па подключении микросхемы к измерительному устройству при помощи щупов, отлачающайся тем, что, с целью уменьшения остаточных па 296042:.4раметров и обеспечения контроля работоспособности элементов, к измерительному устройству одновременно с микросхемой через систему щупов подключают дополнительную схему,5 образующую с первой законченный функциональный узел.Составитель Н. СтепановРедактор М, В, Макарова Текрсд Л, Я. Левина Корректор Н. Рождественскаказ 1304/10 Изд,574 Тираж 473 ПодписноеНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб д. 4/5ипографпя, пр. Сапунова
СмотретьЗаявка
1378792
Г. В. Гессен, Ю. Г. Морозов, Н. Я. Самойлов, С. Л. Эпштейн
МПК / Метки
МПК: G01R 3/00
Метки: микросхем
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-296042-sposob-kontrolya-mikroskhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля микросхем</a>
Предыдущий патент: Устройство для автоматического управления фазовым корректором
Следующий патент: Анализатор спектра
Случайный патент: Способ облагораживания изделий из древесины