Способ определения межэлектродного зазора
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
щ 28482 ез ОП ИСАНИЕИ ЗОБРЕТЕ Н ИяК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик(45) Дата опубликования описания 30.12.8 51)М.Кл.з В 23 Р 1/1 государственный комите СССР. Н. Улит Е. А, Деев и Е, Г. Шумов 71) Заявитель НОГ ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЗАЗОРА,неизолироость опреИзвестен слос родного зазора п го низковольтног да электроды по обработки лерем кого замыкания об определения межэлект ри помощи дополнительно о источника литания, ког сле прекращения процесс ещают до момента корот между:нимри. Однако в условиях электроэрозионного шлифования такой способ не позволяет получить достаточно точные данные по зазору, так как лри даином процессе имеет место и чистовая электроконтактная обработка, что при различных положениях детали и круга приводит к различным данным по зазору,Кроме того, нежесткость системы СПИД приводит к дополнительной погрешности при замере зазора,Цель изобретения - повышение точности определения зазора. Это достигается тем, что предваритель. но шлифуют пакет специальных образцов под один размер, лосле чего часть о 1 бразцов изолируют, а оставшиеся неизолированные образцы подвергают дальнейшему шлифованию до тех пор, пока процесс не прекратится или параметры процесса не достигнут заданного предела, при этом межэлектродный зазор определяют как лерепад между изолированными иванными образцами.Такой, способ ловышает точиделения межэлектродного зазораб На чертеже изображен опециалыныи пакет образцов, при помощи которого осущетвляется предлагаемый процесс. Сущность способа состоит в следующем. Изготовляют специальный пакет образ.цов, состоящий из стальной оправки 1, на которую посажены три диска (образцы) 2, 3, 4 изготовленные из того же материа 1 б ла, что и детали, Средний диск 3 имеет постоянный контакт с оправкой. Крайкине диски 2 и 4 изолированы от среднем диска 3 текстолитовыми шайбами 5, а от олравки изолированы втулками 6. С двух сторон фланца втулок 6 положены медные шайбы 7 и 8 с усиками 9, 10. Если усики шайб спаялись между собой, то диски будут :иметь контакт с оправкой. Ток к оправке от источника питания;подводится через задний 2 б центр станка. Пакет образцов со спаянными усиками 9, 10 устанавливают в центрах станка и производят многопроходное ылифование дисков под седин диаметр.Ширина шлифующего диска электрода ЗО должна быть не менее величины 1. После284825 Фор мула изобретения Техред Л, Куклина Корректор И, Оснновссак Редактоо Л. Павлова Заказ 1624/1229 Изд.604 Тираж 1148 ПодписноеППО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035. Москва. Ж.35, Рауп 1 ская наб., д. 4/5 Тип. Харьк. фил. пред. сПатентэ прон 1 лифовки дисков под один диаметр усики распаиваются, и пакет образцов шлифуется далее, В этом случае обрабатываться будет только средний диск, Обработку ведут до тех пор, пока процесс совсем не прекратится или параметры процесса не достигнут заданного предела. После этого пакет образцов снимается со станка, тщательно промывается и определяется разность диаметров среднего и крайних дисков, Половина этой величины и будет равна межэлектродному зазору,Пакет образцов может быть неоднократно использован для определения зазора в различных условиях и режимах,Способ определения межэлектроднотозазора при многопроходном электроэрози онном шлифовании, о т л и ч а ю щ н й с ятем, что, с целью повышения точности определения зазора, предварительно шлифуют пакет специальных образцов под один ,размер, после чего часть образцов изолируют, а оставшиеся неизолированные образцы подвергают дальнейшему шлифованию до тех пор, пока процесс не прекратится илн параметры процесса не достигнут заданного предела, при этом межэлектрод ный зазор определяют как перепад междуизолированными и неизолированными образцами.
СмотретьЗаявка
1210204, 29.12.1967
УЛИТИН М. Н, ДЕЕВ Е. А, ШУМОВ Е. Г
МПК / Метки
МПК: B23P 1/14
Метки: зазора, межэлектродного
Опубликовано: 15.12.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-284825-sposob-opredeleniya-mezhehlektrodnogo-zazora.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения межэлектродного зазора</a>
Предыдущий патент: Мессбауэровский спектрометр с лазерным интерферометром для абсолютного измерения скорости относительного перемещения
Следующий патент: Канат с закрытым наружным слоем
Случайный патент: Реле