Способ количественного фазового анализа

Номер патента: 277379

Авторы: Данилов, Шлоков

ZIP архив

Текст

77379 Союз СоеетскикСоциалистически Республик ТОР СКОМУ висимое от авт. свид явлено 23.Х.1969 (. 428,3 с,присоединением зая Приоритет МПК 6 01 п 23 Комитет по делам изобретений и открыти при Соеетв Министров СССР. Н, Шлоков и Г. И. Данило Заявител ОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ФАЗОВОГО АНАЛИ 2 едмет изооретения нализа личнына эфчго, сектров гшения очности ратуры ивность Изобретение относится к методам контроля технологии изготовления ферритов.Известен способ количественного фазового анализа смесей ферромагнитных веществ, основанный на эффекте Мессбауэра.Цель настоящего изобретения - разрешение суперпозиции спектров сверхтонкой магнитной структуры, повышение чувствительности и относительной точности анализа. Предложенный способ отличается тем, что образец нагревают до температуры фазового перехода и измеряют интенсивность линии парамагнитпой фазы.Для разрешения сверхтонкой магнитной структуры (СМС) спектров окиси железа и ферритов температура исследуемого образца должна превышать температуру Кюри феррита. В парамагпитной области в спектрах ферритов СМС отсутствует, и они представляют собой одиночную линию или дублет, которые полностью разрешаются со спектром окиси железа. Интенсивность ферритных линий при 300 С достигает 20% без предварительного обогащения образцов келезом, Это позволяет получить крутую градуировочную зависимость величины эффекта от толщины поглотизеля по окиси железа, находящейся в ферритчой фазе, что в несколько раз повышает чувствительность и относительную точность анализа при одной и той же статистике отсчета. Измерив максимальный эффект ферритного пика в анализируемом образце, по градуировочиой кривой определяют количество 1. е 20 з в ферритной фазе.5 На фиг. 1 представлены спектры одного итого же частично феррптизированного образца феррита состава 0,16 ВТ (58,8% ЕезОз;26,5% МпО; 3,68% МдО; 9,2% ХпО 1 82% СаО) прп 20 и 300 С. Температура источника 10 20 С. На фиг. 2 представлена типичная градуировочная кривая для промышленных образцов феррита марок 0,27 ВТ и 0,16 ВТ. В качестве примера использования настоящего способа на фиг. 3 приведены кинетические 15 кривые образования феррптов марок 0,16 ВТ(а) и 0,27 ВТ (б) при 900 и 990 С соответственно. Спосоо количественного фазового а смесей ферромагнитных веществ с раз ми температурами Кюри, основанный фекте Мессбауэра, отлика ощайся тем, целью разрешепия супер.ьозиции сг сверхтопкой магнитной структуры, г:овь чувствительности и относительной т анализа, образец нагревают до темпе фазового перехода и измеряют интенс линии парамагнитной фазы.пографня, пр. Сапунова,аказ 2893/8 Тира;к 480 Подписно НИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССР Москва, у 1(.35, Раушская наб., д. 4/5

Смотреть

Заявка

1362015

Г. Н. Шлоков, Г. И. Данилов

МПК / Метки

МПК: G01N 23/00

Метки: анализа, количественного, фазового

Опубликовано: 01.01.1970

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-277379-sposob-kolichestvennogo-fazovogo-analiza.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ количественного фазового анализа</a>

Похожие патенты