274446

Номер патента: 617394

Опубликовано: 30.07.1978

Авторы: Зеркалова, Моисеев

МПК: C03B 25/02

Метки: оптического, отжиге, охлаждения, преимущественно, скорости, стекла

...остаются параллельными своему первоначальному положению, при этом часть собственного излучения стекла отражается таким образом, что за счет симметричного переизлучения происходит выравнивание температурного поля на поверхности стекла, что очень важно,при тонком отжиге стекла, Перемещение решетки под указанными углами создает возможность экрани рования отражающих поверхностей ребрами и разъэкранирования поглощаюших поверхностей длч падающего излучения от стекла, в результате чегго соотношение площадей отражающих и поглощающих поверхностей будет З 5 плавно изменяться, соответственно будет изменяться поглощающая и отракаюпая способность стенки, составленной из указанных поверхностей решетки и ребер. Для уменьшения влияния ребер на...

Номер патента: 1398660

Опубликовано: 15.03.1993

Авторы: Равилов, Шинкаренко, Юдин

МПК: G06K 9/20

Метки: дактилоскопических, изображения, отпечатков, формирования

...излучением. После облучения поверхностис предметом импульсом генерации возникает фосфорисцеццця вещества отпе"чатка, а также возможна фосфорисценция материала предмета, посколькумногие материалы гцоминесцируют цоддействием лазерного излучения., Изэа различил химического состава вещества отпечатка н материала прадмета различается сиад ицтсцсцвцостцих фосфорцсцецццц, Если теперь пропускать фосфорисцецтцое излучениечерез усилитель Я яркости н различные моменты времени, т,е. работу усилителя 8 сицхроццзовать с работойисточника 1, облучающего предмет, иусилитель 8 запускать через блок 5,плавно регулируя задержку н диапазоне от О до Т, где Т-период следования цмпульсон источника 1, облучающего предмет, то на экране будет наблюдаться отчетливое...

Номер патента: 1026010

Опубликовано: 30.06.1983

Авторы: Берштейн, Рогачев

МПК: G01B 21/00

Метки: длины, изменений, измерительного, интерферометра, малых, медленных, оптической, плеча

...3 представляет собой либозеркало измерительного плеча, в котором установлена исследуемая среда спеременным показателем преломления,либо является отражающей поверхностьюперемещающегося объекта), пьеэокерамический элемент 5, генератор 6переменного напряжения, соединенныйс последним, фотоприемник 7, установленный на выходе интерферометра,схему обработки сигнала, выполненнуюв ниде соединенных последовательноусилителя 8 переменного напряжения,Фазового детектора 9 и усилителя 10постоянного тока, соединенного спьеэокерамическим элементом 5, ирегистратор 11, соединенный с выходом фазового детектора 9,Устройство работает следующимобразом,Излучение источника 1 (лазера)полупрозрачной пластиной 2 делитсяна опорное и измерительное, при...

Номер патента: 1313177

Опубликовано: 20.09.2006

Авторы: Абакумов, Арефьев, Кузнецов, Мишин, Семавин

МПК: G01P 3/36

Метки: движения, изображения, неоднородного, объекта, оптически, параметров

Устройство для определения параметров движения изображения оптически неоднородного объекта, содержащее две группы взаимнопараллельных линейных фотоприемников, расположенных попарно, с ориентацией пар разных групп вдоль диагоналей равных прямоугольников симметрично относительно общей оси, на которой лежат центры прямоугольников, а также блок сравнения, следящий привод, механически соединенный с фотоприемниками и датчиком угла поворота, выход которого подключен к блоку индикации, и первый функциональный преобразователь, выходы которого соединены с блоком индикации, а первый вход подключен к выходу датчика угла поворота, отличающееся тем, что, с целью повышения точности определения...

Номер патента: 1584759

Опубликовано: 07.08.1990

Авторы: Альфонс, Хорст

МПК: G01B 21/08

Метки: активных, оптически, слоев, толщиной, фотометрическое

...информа цию об оптических свойствах соответствующего объекта и не требуют уженикаких сравнительных измерений с образцами и т.п.Не обязательно усиленную измери тельную величину 1 от покрытого слоемобъекта запоминать в запоминающемустройстве. После калибровки устроиства без дальнейших сложностей можнозамеренную величину 1 сразу преобразовать с помощью вышеуказанных операций и вывести на индикацию. Однакоцелесообразно измеряемую величинутакже запоминать в запоминающемустройстве, так что она может бытьопрошена для различных счетных операций спустя какое-то время.Снаружи вакуумной камеры 2 расположен источник 6 света, от которого5 сконцентрированный световой пучок 7 измерительного света идет в направлении на окна 3 и 4. Измерительный пучок...