Способ определения площади поверхности электропроводящих изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 14.Х.1968 (Рй 1283284/18-10)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 15.Ъ 1.1970. Бюллетень20Дата опубликования описания 15.1,1971 Кл, 42 с, 12 МПК 6 01 Ь 7/32УДК Ь 31.72(088.8) Комитет по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССРСПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОЩАДИ ПОВЕРХНОСТИ ЭЛ ЕКТРОПРОВОДЯ ЩИХ ИЗДЕЛ И ЙИзвестные способы определения площади поверхности электропроводящих изделий, в частности, металлических и металлизированныхх путем измерения и последующего сравнения емкостей конденсаторов, одной пз обкладок в каждом из которых служит измеряемое изделие и эталонная поверхность, позволяют достаточно надежно определять площади плоских изделий.Предлагаемый способ обеспечивает возможность повышения точности определения площади поверхности изделий сложной конфигурации, поскольку эталон и измеряемое изделие перед погружением в обволакивающий электролитический материал, например, электролит, изолируют от этого материала диэлектрической пленкой. плотно охватывающей сравниваемые поверхности. Таким образом электролит, отделенный диэлектриком от проводящих поверхностей, играет роль второй обкладки конденсаторов. Для обеспечения плотности прплегания эталон и измеряемое изделие помещают каждый в отдельные чехлы из диэлектрической плеукп п удаляот перед измерением из этихчехлов воздух.На фиг. 1 приведена схема приспособления для осуществления предлагаемого способа; на фиг. 2 - размещение определяемого пзделпя п эталона в диэлектрических чехлах до п после отсоса воздуха.В ванну 1 с электролитом 2 вводят электроды 3 и 4. Измеряемое изделие 5 и эталон 6 с подсоединенными к ним проводниками 7, размещенные в чехлах из диэлектрической пленки 8, погружают в электролит 2. Из чехлов перед измерением удаляют воздух, так что пленка 8 плотно охватывает изделие 5 10 и эталон 6, повторяя пх форму, Складки 9,образуемые пленкой, ца емкость образующихся конденсаторов не влияют, поскольку они не прилегают к проводящим поверхностям.В качестве гибкой и тонкой диэлектрической 15 пленки могут быть использованы фторопласт,полпстпрол и т. и.Электроды 3 п 4 подбираются так, чтобырасстояние между электродом 3 п определяемым изделием 5 было примерно равно рас стоянию от электрода 4 до эталона 6. После измерения емкостей каждого из двухконденсаторов площадь поверхности изделиявычисляют по формуле:251 зд.из,т. С эт.ЭТ. где Сиз, - емкость конденсатора, одной пзоокладок которого сл 1 жцт пзме ряемос изделие;Тираж 480 по делам изобретений и открытий при Со Москва, Ж, Раушская наб., д. 45Типография, пр. Сапунова С вт, - емкость конденсатора, одной изобкладок которого является эталон;Явт, - известная площадь поверхностиэталона.Настоящий способ может быть применен при определении площади поверхности изделий, подготавливаемых к гальваническому покрытию. Предмет изобретения1. Способ определения площади поверхности электропроводящих изделий, в частности, металлических и металлизированных, путем измерения и последующего сравнения емкостей конденсаторов, одной из обкладок в каждом пз которых слукит измеряемое изделие и эталонная поверхность, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения площади поверхности изделий слоя ной конфигурации, эталон и измеряемое изделие перед погружением в обволакивающий материал, например, электролит, изолируют от этого материала - второй обкладки каждого из конденсаторов - диэлектрической 10 пленкой, плотно охватывающей сравниваемые поверхности.2, Способ по п. 1, отличающийся тем, чтоэталон и измеряемое изделие помещают каждый в отдельные чехлы из диэлектрической 15 пленки, из которых перед измерением откачивают воздух.
СмотретьЗаявка
1283284
Всесоюзный научно исследовательский проектно конструкторский, ннститут ювелирной промышленности
В. С. Аксельрод, Г. М. Рохлина
МПК / Метки
МПК: G01B 7/32
Метки: площади, поверхности, электропроводящих
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-273447-sposob-opredeleniya-ploshhadi-poverkhnosti-ehlektroprovodyashhikh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения площади поверхности электропроводящих изделий</a>
Способ соединения гидроизоляционного рулонного материала, с нанесенным на него клеющим слоем с поверхностью изделия
Номер патента: 594276
Опубликовано: 25.02.1978
Авторы: Квитко, Стабников, Хазанов, Хоминский
МПК: E04D 5/12
Метки: гидроизоляционного, изделия, клеющим, нанесенным, него, поверхностью, рулонного, слоем, соединения
...оулонного материала с нанесенным на него клеющим слоем,с поверхностью изделия, предусматривающийраскладку рулонного материала и прижатие 20его к поверхности изделия 121.Недостатком этого способа является невысокое качество гидроизоляции изделия.Белью изобретения является повышениекачества гидроизоляции изделия. 25 динжстроя и Ленинградскийции и Трудового КрасногВ, Плеханова594276 35 жимают рулонный материал 5 рабочим катком 8. При включении источника 7 электромагнитных волн между ним и поверхностью1 возникает бегущее электромагнитное поле,воздействующее на материал изделия 1, слойдиэлектрического материала 3 и рулонныйматериал 5. Тангенс угла диэлектрическихпотерь асфальтита на 2 - 3 порядка выше,чем у изделия и клеюшего...
Способ контроля разрушения поверхности изделия
Номер патента: 1004835
Опубликовано: 15.03.1983
Авторы: Константинов, Леонов
МПК: G01N 23/221
Метки: изделия, поверхности, разрушения
...тоже ограничиваетее площадь, Обычно выбирают площадку от одного до нескольких десятковсантиметров в квадрате в зависимостиот размера изделия,Равномерность распределения радионуклидов по площади метки является обязательным требованием, в противном случае небольшая язва в зоневысокой активности может стать эквивалентной по уносу активности большому повреждению в другой зоне метки.Дляопределения характеристик х,х, - необходимо три радионуклида5Я 5 осо следующими глубинами активаций:по двум радионуклидам глубина активации должа быть меньше глубины локальных повреждений, а по третьему -больше нее. Это означает, что глубина активации по двум радионуклидамвыбирается, исходя из задаваемой значимой глубины повреждений, и что язвы, меньшие по...
Устройство для обработки поверхности изделий коронным разрядом
Номер патента: 1708635
Опубликовано: 30.01.1992
Автор: Корушенков
МПК: B29C 71/04
Метки: коронным, поверхности, разрядом
...единый поток газа в щелевом отверстии 9,Процесс обработки поверхности изделия 20 коронным разрядом - непрерывный и проходит в течение длительного времени.8 процессе обработки в сети подачи инерт-, ного газа могут возникнуть колебания давления при подачи его в камеру 10, что сказывается на равномерности обработки поверхности изделия 20 по ширине, т,е. свойства адгезии будут разные. Чтобы исключить влияния незначительных колебаний и падений давления в системе подачи и выхода газа, площадь сечения отверстий 11 для выхода газа на стенке камеры 10 больше или равна площади сечения щелевого отверстия 9 в активном электроде 3(ЕотвъЕщели).КоРонный разряд в газовом межэлектродном зазоре Н образуется при подаче высокого напряжения от генератора 5...
Способ контроля качества подготовки поверхности изделия под покрытие
Номер патента: 868489
Опубликовано: 30.09.1981
Авторы: Котлярова, Ляндо, Ястребов
МПК: G01N 19/04
Метки: изделия, качества, поверхности, подготовки, покрытие
...которую устанавливают между контролируемой поверхностью и грибком.5Способ осуществляют следующим образом.На контролируемую поверхность изделия с нанесенным адгезивом устанав-,ливают прокладку одной из двух ее 10эталонных поверхностей, а на противоположную эталонную поверхность прокладки - грибок с адгезивом. К грибку прикладывают усилие отрыва одним 15из известных способов до разрушения соединения, которое происходитмежду контролируемой поверхностьюизделия и эталонной поверхностьюпрокладки в томслучае, когда качество подготовки поверхности изделияплохое, или между эталонной поверхностью пластины и поверхностью гриб ка, когда качество подготовки поверхности изделия хорошее.3 868489Таким образом, предлагаемый способ о позволяет...
Способ шаржирования поверхности изделия
Номер патента: 921794
Опубликовано: 23.04.1982
Авторы: Гриценко, Курис, Розенберг
МПК: B24B 1/00
Метки: изделия, поверхности, шаржирования
...высоты микронеровностей обработанной поверхности, а взаимное перемещение изделия и инструмента производят с натягом, величину которого выбирают из выражения7- высота микройеровностей исход.ной поверхности;упругое восстановление поверхности после деформации. Способ обработки цллк)трирустся следуОц(их п)эпхс 10.Обработке подвергается отверстие втулки из стали 45 диаметром внутреннего отверстия 35 мм после операции точения, которой бьл достигнута шероховатость поверх- кости К =: 8,7 мкм, 8 п = 0,07 мм (по2 оГОСТ 278873). Далее ца поверхноть наносят абразивный порошок марки АСМ 1, юсле чего производят пластическое дсформирование протяжкой с натягом на один девформирующий элемент, равным 0.0 о мм, до деформации. равной 0,2 мм. Высота микроне-...
Предыдущий патент: Устройство для ввода в вычислительную машину координат точек криволинейных поверхностейдеталей
Следующий патент: Датчик уровня для открытых оросительных каналов
Случайный патент: Устройство для регулирования паровой турбины