Устройство для испытания импульсных модуляторных ламп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 272443
Автор: Попов
Текст
Союз Соеетскиих Социалистических Республик272443 Зависимое от а видетельстваявлено 29.Х 1.1968 ( 286616/26-2 исоединением заявкиКомитет па делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР011 Приоритет иковано 03.71.19 УД К 621,3,082.7 (О юллетень1 Дата кования описания 11.1 Х.19 Автор зобретени Поп Заявитель; .,р;го л УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ ИМПУЛЬСНЫХ МОДУЛЯТОРНЫХ ЛАМПпоступлении серии и ри Изобретение относится,к устройствам для испытания импульсных модуляторных ламп с целью оценки их работоспособности и электропрочности в передатчиках с пробиваемой нагрузкой.Известные устройства не обеспечивают проведения длительных испытаний модуляторных ламп,Предлагаемое устройство отличается тем, что параллельно активному сопротивлению нагрузки подключен импульсный водородный тиратрон, закорачивающий нагрузку при пробоях модуляторных ламп при поступлении сеи импульсов,На чертеже приведена принципиальная схема предлагаемого устройства.Устройство для испытания импульсных модуляторных ламп, выполненное по схеме модулятора с частичным разрядом накопительного конденсатора 1, содержит задающий генератор 2, подсоединенный к генератору 3 па. чек импульсов и подмодулятору 4, записывающий осциллограф 5, счетчик пробоев б, клеммы для подключения испытуемой импульсной модуляторной лампы 7 (ИМЛ), используемой в устройспве в:качестве коммутирующего элемента модулятора, нагрузку 8 в виде активното сопротивления, параллельно которому подключен импульсный водородный тиратрон 9, закорачивающий нагрузку при пробоях модуляторных ламп при и- пульсов,Принцип работы устройства следующий.В случае полного пробоя испытуемой лам пы 7 падение напряжения на катодном сопротивлении 10 превышает напряжение компенсирующего источника 11. Напряжение сопротивления 10 через диод 12 подается на генератор 13,поджигающих импульсов, который 10 поджигает тиратрон 9, включенный параллельно нагрузке 8, В результате нагрузка оказывается закороченной, и накопительный конденсатор 1 разряжается через лампу 7, ограничительное сопротивление 14 и тиратрон 9.15 В случае частичного пробоя лампы на сопротивлении 15 выделяется положительное напряжение, которое через диод 1 б также подается на вход генератора 13. Тпратрон поджигается и закорачивает нагрузку 8.20 Необходимая величина тока пробоя можетбыть установлена подбором величины сопротивлепия 14 в цепи анода лампы 7. Так имитируются пробои магнетрона, вызванные пробоями модуляторной лампы.25 Для имитации затяжных самопроизвольныхпробоев магнетропа в схеме имеется генератор 3 пачек импульсов, синхронизируемый от того же задающего генератора 2, что и подмодулятор 4 испытуемой лампы, Генератор 3 ЗО вырабатывает пачки с количеством импуль4 актор Т. 3. Орловская Тсхред Т. П. Курилио Корректор В. И, Жолудева Тираж 480 Подписноеретений и открытий при Совете Министров СССР35, Раунтская наб., д, 4/5С 2 Заказ 2313/13ЦНИИПИ Комитета делам изМосква,Тинотрафи пчно сов, примерно соответствующим количеству импульсов пробоя при затяжном пцробое магнетрона ( 5 - 25 импульсов). Частота следования пачек выбирается в соответствии с заданным количеством искрений (пропуоков) импульсов на магнетроне (0,05 - 0,51 о от количества раоочнх импульсов), В результате лампа периодически раоотает на закороченную нагрузку.Таким образом, режим испытании ИМЛ в схеме максимально приближен к режиму работы гробиваемого магнетрона, в то же время заданная периодичность пробоев нагрузки делает испытания однозначпымн во времени для л ю бого экзем пляр а лам и.В описываемом устройстве мо кно оценивать реальную электропрочность и долговечность ИМЛ при заданном токе двустороннего пробоя и заданной интенсивности пробоев нагрузки Для регистрации количества пробоев в схему подключен счетчик б пробоев (например, типа Л 1-10), для измерения амплитуды тока при пробое предусмотрен осциллограф 5 с длительной памятью (например, типа С 1-29). Испытания могут проводиться либо кратковременно для оценки электропрочности (5 - 15 лия); либо длительно - на срок службы, По результатам испытаний определяют допустимый ток двустороннего пробоя при заданнойй долговечности и электр опр очности ИМЛ. Результаты испытаний ИМЛ типа ГМИ показали, что цри токе двустороннего проооя250 - 300 а (в некоторых передатчиках РЛС)лампы дают большое количество пробоев (в5 среднем один пробой на лампу в минуту) ичасть их быстро выходит из строя, проработав10 - ЗО час,При токе пробоя 100 - 1500 а лампы работают более стабильно (0,08 пробоя на лампу10 в минуту). Испытательная схема работаетстабилье 10,Предмет изобретенияУстройство для испытания импульсных мо дуляторных лаъ 1 п, выполненное по схеме х 1 одулятора с частичным разрядом накопительной емкости, содержащее задающий генератор, подсоединенный к генератору, пачек импульсов и подмодулятору, записывающий ос циллограф, счетчик проооев, клеммы для подкгпочения испытуемой импульсной модуляторной лампы, используемой в устройстве в качестве коммутирующего элемента модулятора, нагрузку в виде активного сопротивления, от-личаюи(еесл тем, что, с целью оценки работоспособности импульсных модуляторных ламп с пробиваемой нагрузкой, параллельно активному сопротивлению нагрузки подключен импульсный водородный тиратрон, закорачиваю щий нагрузку при пробоях ыодуляторных ламппри поступлении серии импульсов,
СмотретьЗаявка
1286616
В. К. Попов
МПК / Метки
МПК: G01R 31/24, H01J 9/42
Метки: импульсных, испытания, ламп, модуляторных
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-272443-ustrojjstvo-dlya-ispytaniya-impulsnykh-modulyatornykh-lamp.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для испытания импульсных модуляторных ламп</a>
Предыдущий патент: Способ вакуумноплотной установки электровводов в изоляторе
Следующий патент: Конвейерная машина для тренировки и испытания цветных электроннолучевых трубок
Случайный патент: Теплообменный аппарат