Способ определения скорости движения фронта

Номер патента: 272286

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Се 1 оз Соеетоких Социалиотичеоких Реооублик.(л, 12 д, 17/18 присоединением заявкиМПК В 01 17/18УДК 669.046-172 (088.8 иоритет елам митет изобретеиий и открытийори Совете Миииетрев Опубликовано Дата опублик ЗХ .1970. Б юлл етецьЛ 11.19 овация описания тор,бретени И. Ильченк 3 аявител Киевский ордена Ленина политехнический инст РЕДЕЛЕНИЯ СКОРОСТИ ДВИЖЕНИЯ ФРОНТ КРИСТАЛЛИЗАЦИИ ПОСО 2 етенц я корости процесс вцжеция ытягцваИзобримущестлов из рскому,Известный способ определения скорости движения фронта кристаллизации включает измерение скорости подъема затравки и понижения уровня расплава в тигле.По предлагаемому спосооу по затравке к фронту кристаллизации направляют ик 1- пульсные ультразвуковые колебания частотой 30 - 50 мегагерц, наблюдают отраженные импульсы ца экране электроннолучевого индикатора и измеряют время прохождения отраженным импульсом участка развертки, прогяженность которого пропорциональна скорости распространения ультразвуковых колебаний в монокристалле и периоду развертки. Это позволяет измерять скорость движения фронта кристаллизации в различные моменты процесса выращивания и производить определение скорости для кристаллов с изменяющимся по длине диаметром.На чертеже изображена схема, поясцяюцдя способ,Источником ультразвуковых колебаний,направляемых по затравке 1, служит пьезокристалл 2, помещенный на торце затравки. В процессе вытягивания моцокристалла 3 из расплава 4 пьезокристалл импульсно возбуждакл етение может быть использовано превенно прц выращивании монокристаласплава вытягиванием по Чохральламповым импульсным возбудителем 5, з- пуск которого производится синхронизатором 6. Ультразвуковые колебания частогой 30 - 50 мегагерц распрострацяотся по затрав ке 1 ц монокрцсталлу 8 и достигают фронт:кристаллизации /. 1.слп фронт крцсталлцз- ции плОский цлп цмсст ьезцачцтельцу 1 о крц" визцу, часть ультразвуковых колебац отразится от фронта кристаллизации ц досг гце О пьезокристалла 2, црсобразуОщего отраженныеые ультразв новые кол:б 1 И 151 В электри 1 ескце. Отрд;кеццые импульсы Воспрцццмются приемником 8, усцлцвдются, детектируются ц подаются ца вертикально-отклоняющие плас тццы элект 1 Оццол 1 чевого Идцкдтора. Врсязадержки запуска развертки в блоке задержки 9 и период развертки вьОцр;ются такмц, чтобы на экране ццд 11 кдтора Оыл Виден то:1 ько отражеццыц цвИ 1 льс. Скорость движения О фронта крцсталлцзацВц определяется по времени Т грохокдецця отраженным импульсом 1 частка 1 развертки. Иротякенцость которого равна 1/2 11,1, где Го - скорость распространения ультразВукОВых колеба 1 и В моцокрцс талле, 1 - период развертки, определяемый цокалибраццонцым меткам времени. Предмет цзСпособ определения 30 фронта кристаллизации)каа 230 В 1 Тираж 480НИИПИ Комитета по делам иаобрстений и открытий при СМосква, )К.35, Раушскаи наб., д. 4/5 Подписное ете Министров СССРипографпя, пр. Сапунов ния мопокристалла из расплава на затравку, отличаюцийся тем, что, с целью определения отклонений скорости в процессе выращивания от среднего значения и определения скорости при выращивании монокристалла с изменяющимся по длине диаметром, по затравке к фронту кристаллизации направляют импульсные ультразвуковые колебания частотой 30 - 50 мегагерц, наблюдают отраженные импульсы на экране электроннолучевого индикатора и измеряют время прохождения отраженным импульсом участка развертки, прогя хкенность которого пропорциональна скоростираспространения ультразвуковых колебаний в монокристалле и периоду развертки.

Смотреть

Заявка

1259731

МПК / Метки

МПК: C30B 15/22

Метки: движения, скорости, фронта

Опубликовано: 01.01.1970

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-272286-sposob-opredeleniya-skorosti-dvizheniya-fronta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения скорости движения фронта</a>

Похожие патенты