Дефектоскоп для селективного контроля поверхности проката
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 26715 Союз Советских Социалистических Республик( 122626925-28 10 заявкиб 01 п риорнтетпубликовано 01.17.1970. Бюллетень1 Комитет по делам зобретеиий и открытий при Совете Министров СССРК 620.179.14(088.8 а опублико ия описания 21.И 1.1970 В. П. Изотов, Г. Г. Буйный и Г. М. Моня вторызобретения учно-исследовательский и опытно-конструкторский институт автоматизации черной металлургии явитель ФЕКТОСКОП ДЛЯ СЕЛЕКТИВНОГО КОНТРОЛ ПОВЕРХНОСТИ ПРОКАТАИзвестны дефектоскопы для селективного контроля поверхности проката, содержащие механизм вращения сканирующих датчиков, каналы задержки сигналов, в которые входят головки записи, воспроизведения и стирания, а также магнитоцоситель, кинематически связанный с механизмом вращения, и каждый из которых соединен с соответствующим датчиком, и электронный блок, включающий в себя формирователь сигналов записи и схему совпадения.Описываемый дефектоскоп отличается от известных тем, что каждый канал задержки снабжен головками записи, число которых равно числу датчиков и которые разнесены между собой в направлении движения магнитоносителя на равные интервалы, пропорциональные угловому расстоянию между датчиками, и соединены параллельно между собой и последовательно с формирователем сигналов записи, а головки воспроизведения всех каналов подключены к схеме совпадений, Это повышает избирательность дефектоскопа к продольно- ориентированным дефектам.На фиг. 1 изображена схема описываемого дефектоскопа; на фиг. 2 (а, б, в) - схемы записи магнитных меток при расположении дефекта соответственно под датчиком первого, второго и третьего каналов,Дефектоскоп селективного контроля поверхности проката содержит механизм 1 вращения сканирующих датчиков 2, например феррозондовых, каналы задержки сигналов, в каждый из которых входит одна головка 3 воспроизве дения, одна головка 4 стирания и головки 5 записи, число которых равно числу датчиков, магнитоноситель 6, кинематически связанный через валик 7 с механизмом 1 вращения датчиков 2; электронный блок, включающий в се О бя формирователь 8 сигналов записи, схему 9совпадений, генератор 10 стирания и индикатор 11.Головки о записи разнесены между собойв направлении движения магнитоносителя 0 на 15 равные интервалы 1, пропорциональные угловому расстоянию между датчиками 2. Головки 5 записи соединены параллельно между собой и последовательно с формирователем 8 сигналов записи, а головки 3 воспроизведения всех 20 каналов подключены к схеме 9 совпадений,Описываемый дефектоскоп работает следующим образом.Дефектоскоп предназначен для обнаруженияпродольно-ориентированных дефектов на по верхцости проката, движущегося с некоторойпостоянной линейной скоростью.В процессе контроля сканирующие датчики2 вращаются при помощи механизма 1 вокруг контролируемого проката 12, При обнаружеЗ 0 нии дефекта 13 датчики 2 последовательно пе267151 5 стиг.l 2 ли Тираж 480 Подписнота по делам изобретений Заказ 1890/15ЦНИИПИ Компти открытий приМосква, Ж,Совете Министров СССР Раушскаи паб., д. 4/5 пр Сапунова, 2 ипогра ресекают магнитное поле рассеяния под дефектом и вырабатывают электрические сигналы.Когда дефект находится под датчиком 2 первого канала, с датчика 2 сигнал подается на формирователь 8 того же канала. С формиро вателя 8 импульс поступает на головки б записи первого сигнала. На магнитоносителе б записываются магнитные метки, Расположение меток показано на фиг. 2, (а). При прохождении датчиков 2 второго и третьего каналов па 10 магнитоносителе б записываются магнитные метки, изображенные на фиг. 2 (б и в),Магнитные метки, записанные на магнитоносителе б, перемещаются под головками 3 воспроизведения, каждая из которых соедине на со схемой 9 совпадений. В момент, когда головки 3 воспроизведения всех каналов будут располагаться над магнитными метками, на схему 9 совпадений поступят импульсы со всех головок 3 воспроизведения и включат индика тор 11, сигнализируюший о наличии дефекта 13, размеры которого превышают допустимые. После прохождения позиции головок 3 воспроизведения магнитные метки стираются головками 4, которые постоянно подключены к 25 генератору 10 стирания.Таким образом, считывание в разных каналах магнитных меток, характеризующих один и тот же дефект, позволяет отделить протяженный дефект от случайных магнитных неоднородностей,Предмет изобретенияДефектоскоп для селективного контроля поверхности проката, содержащий механизм вращения сканирующих датчиков, например феррозондовых, каналы задержки сигналов, в каждый из которых входит по одной головке воспроизведения и стирания, а также магнитоноситель, кинематически связанный с механизмом вращения, и каждый из которых соединен с одним из датчиков, и электронный блок, включающий в себя формирователь сигналов записи и схему совпадений, от.4 ичающцйся тем, что, с целью повышения избирательности к продольно-ориентированным дефектам, каждый канал задержки снабжен головками записи, число которых равно числу датчиков и которые разнесены между собой в направлении движения магнитоносителя на равные интервалы, пропорциональные угловому расстоянию между датчиками, и соединены параллельно между собой и последовательно с формирователем сигналов записи, а головки воспроизведения всех каналов подключены к схеме совпадений. Составитель И, КесоянгРедактор С, Сюткина Техред Л, ВКорректор Л. С. Веденеева
СмотретьЗаявка
1226269
В. П. Изотов, Г. Г. Буйный, Г. М. Мен, Научно исследовательский, опытно конструкторский институт автоматизации черной металлургии
МПК / Метки
МПК: B21C 51/00, G01N 27/00
Метки: дефектоскоп, поверхности, проката, селективного
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-267151-defektoskop-dlya-selektivnogo-kontrolya-poverkhnosti-prokata.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Дефектоскоп для селективного контроля поверхности проката</a>
Предыдущий патент: Устройство к электромагнитному дефектоскопу для непрерывного подсчета оборванных проволок
Следующий патент: Способ ультразвуковой эхо-импульсной дефектоскопии
Случайный патент: Забойный механизм