Способ измерения удельного сопротивление
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
265986 Саюа Советских Социалистических Республикависимое от авт, свидетельствааявлено 31,Х.1962 (М 800972/26-9)присоединением заявкириоритетпубликовано 17.111.1970. Бюллетень1 Кл 6 01 Комитет по делам иаобретений и открыти при Совете Министров СССР621.317,332;621 315.592 (088.8) Дата опубликования описания бХ 11.19 ОСОБ ИЗМЕРЕН Извесген способ измерения удельного соп. ротивления материалов ло изменению добротности объемного колебательного контура при выполнении этого контура из исследуемого материала или введении внутрь его исследуемого материала,Особенность предлагаемого способа состоит в том, что испытуемый материал вводят в за. зор сердечника тороидальной катушки колебательного контура. Это дает возможность упростить процесс измерения.На фиг. 1 изображен датчик с испытуемым полупроводниковым образцом; на фиг. 2 - блок-схема устройства для осуществления предлагаемого способа.Исследуемый образец 1 полупроводникового материала вводят в зазор 2 тороидального сердечника, на котором укреплена обмотка 3, являющаяся индуктивностью высокочастотного колебательного контура. Из-за возникающих в образце вихревых токов изменяется добротность контура. Сравнивая добротность контура до и после, введения кристалла или пластины материала в зазор 2 сердечника, находят величину удельного сопротивления материала. ЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ Изменение Добротности, определяемое да 1- чиком 4 (тороидальным сердечником с обмоткой), фиксируется индикатором 5 и можетоцениваться по отклонению стрелки измерительного прибора 6. Датчик предварительнокалибруют с помощью образцов, имеющихизвестное удельное сопротивление. Измерениепроизводится бесконтактным методом, обеспечивающим измерение кристаллов малых раз 10 меров (площадью до 2,25 мм 2) с удельнымсопротивлением 0,022 - 0,03 б ом/сл, Погрешность не превышает 5 - оо.Предмет изобретения15 Способ измерения удельного сопротивления,основанный на определении добротности резонансного колебательного контура, отлачшои 1 ийся тем, что, с целью упрощения процессаизмерения величины удельного сопротивления20 полупроводниковых кристаллов и тонких пластин из полупроводникового материала, кристалл или пластину вводят в зазор сердечникатороидальной катушки колебательного контура и по изменению величины добротности кон 25 тура определяют удельное сопротивление испытуемого образца,265986 Риг / Редактор Б. Ь, Федотов Техред Л, Я. Левина Корректор С. А. Кузовенкова Типография, пр. Сапунова, 2 Заказ 1738/4 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква Ж.35, Раушская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
800972
А. И. Савин, М. С. Сергеев, С. А. Кучин
МПК / Метки
МПК: G01R 27/02
Метки: сопротивление, удельного
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-265986-sposob-izmereniya-udelnogo-soprotivlenie.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения удельного сопротивление</a>