264702
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 264702
Текст
ОПИСАЙИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспуйликЗависимое от авт. свидетельства-10309/25-2 Заявлено 17.1,1969 (М с присоединением заявк л. 42 Ь, 1 е 1 ПК 6 01 Ь риоритетпубликовано 03,1 Комитет по делам зооретений и открытий,ДК 531.715(088.8) 970. Бюллетеньпри Совете Министров СССРДата опубликования описания 9.1 Х.19 Авторизобретен 9:"-Заявитель 11 е 55 кМ ЕСКОНТАКТНОЕ УСТРОИСТВО ДЛЯ ЛИНЕН 1 ИЗМЕРЕН мет изобретени Известно бесконтактное устройство для линейных измерений, содержащее источник света, визирную марку, располагаемую в ходе световых лучей на измеряемом элементе,. образцовую шкалу, микроскоп, состоящий из объектива и окуляра, в поле зрения которого одновременно наблюдаются изображения марки и шкалы,Предлагаемое бесконтактное устройство для линейных измерений, например для пос ледовательной продольной установки элементов конструкций, отличается от известного тем, что в микроскопе использован телеобьектив, а устройство снабжено светоделительной системой, расположенной в ходе световых 1 лучей между маркой и объективом, и отклоняющей призмой, расположенной в ходе световых лучей между светоделительной системой и шкалой.Это расширяет диапазон измерения.2На чертеже изображена схема описываемого устройства и окуляр.Оно содержит источник света 1, визирную марку 2, располагаемую в ходе световых лучей на измеряемом элементе 3, образцовую шкалу 4, микроскоп б, состоящий из телеобъектива б и окуляра 7, в поле зрения которого одновременно наблюдаются изображения марки и шкалы. Устройство снабжено светоделительной системой 8, расположенной 3 в ходе световых лучей между маркой и объективом, и отклоняющей призмой 9, расположенной в ходе световых лучей между светоделительной системой и шкалой,Визирную марку вставляют в элемент 3. От источника света в проходящем пучке изображение марки рассматривают в поле зрения окуляра. С другой стороны в окуляр попадает изображение шкалы через призму, систему 8 и телеобъектив.Совместное рассмотрение двух изображ- ний и позволяет произвести необходимый отсчет координаты положения элемента 3, Аналогично отсчитывают координаты для установки других измеряемых элементов конструкции,Бесконтактное устройство для линейных измерений, например для последовательной продольной установки элементов конструкций, содержащее источник света, визирную марку, располагаемую в ходе световых лучей на измеряемом элементе, образцовую шкалу, микроскоп, состоящий из объектива и окуляра, в поле зрения которого одновременно наблюдаются изображения марки и шкалы, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона измерения, в микроскопе использо264702 вом, и отклоняющей призмой, расположеннойв ходе световых лучей между светоделительной системой и шкалой. Составитель Л. ЛобзоваТехред Л. Я. Левина Редактор Н. Седова Заказ 1510/4 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 ван телеобъектив, а устройство снабжено светоделительной системой, расположенной в ходе световых лучей между маркой и объектиКорректоры: А. Николаева и В. Петрова
СмотретьЗаявка
1310309
МПК / Метки
МПК: G01B 11/14
Метки: 264702
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-264702-264702.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">264702</a>
Предыдущий патент: Окулярный микрометр
Следующий патент: Фазовый способ измерения угловых и линейных
Случайный патент: Клавиатура для электромузыкального инструмента