Устройство для наклона объекта в электронноммикроскопе
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 263768
Авторы: Демидов, Мархасин, Нашельский
Текст
и йн, . о - т ,: 1 ч В сКЖВОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 263768 Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства МзЗаявлено 04.Х,1968 ( 1274237/26-25) л. 21 д, 37/1 исоедннением заявки ЪЪ 4 ПК Н ОЦ 37/2 ПриоритетОпубликовано 10.11,1970, Бюллетень Хо Дата опубликования описания 15.И.197 Комитет и еламткрытий зобретеиий и при Совете М К 621.385.833 (088.8) ис вторызобретения Е, С. Мархасин, В. Б. Демидов и Г, А, Нашельскийнецкий физико-технический институт АН Украинской ССР явител ЕКТРОН НОМ УСТРОЙСТВО ДЛЯ НАКЛОНА ОБЪЕКТАМИКРОСКОПЕ На чертеже изображенройство и его разрез.Оно состоит из корпусакреплены биметаллическснабженные обмоткамиСвободные концы пласти предлагаемо 1, на котором зае пластины 2 и 8, ля нагрева 4 и б, соединены между кт В известных устройствах для наклона ооъекта в электронных микроскопах привод механизма наклона располагается вне вакуума, имеется столик для перемещения объекта и конический патрон для объекта, установленный в столике. Известные механизмы передачи движения от внешнего привода к устройству для наклона, расположенному на столике объекта, оказываются весьма сложными и, вследствие этого, имеют оольшие люфты и низкую точность установки угла наклона.Предлагаемое устройство обеспечивает высокую точность установки углов наклона вследствие того, что привод механизма наклона располагается на патроне для обьекта,В корпусе патрона для объекта закреплены две биметаллические пластины, снабженные обмотками для нагрева и изгибающиеся при нагреве в противоположных направлениях, причем свободные концы пластин жестко соединены между собой коромыслом, которое с помощью тяги шарнирно соединено с наклоняемым держателем образца, установленным на цапфах в корпусе патрона. собой коромыслом б. Объект закрепляется внаклонном держателе образца 7, шарнирносоединенном тягой 8 с коромыслом,Устройство работает следующим образом,5 При пропускании тока через обмотку соответствующая биметаллическая пластина изгибается и тянет с помощью коромысла тягу,которая поворачивает держатель образца вокруг оси, перпендикулярной чертежу, Изме 10 няя силу тока, можно изменять угол наклонаобразца,Биметаллические пластины укреплены так,что при нагреве они изгибаются в разные стороны. Поэтому, пропуская ток через обмотки,15 можно обеспечить наклон в нужном направлении.Благодаря тому, что привод (биметалличе.ские пластины) закреплен непосредственно напатроне для объекта и связь между приводом20 и наклоняемым держателем образца осуществляется с помощью тяги, люфты в механизмепередачи движения от пластин к держателюминимальны. Так как перемещение концов биметаллических пластин зависит от температу 25 ры, то угол наклона может точно контролироваться путем точного измерения тока подогрева пластин. П р ед м ет изо бр етения0 Устройство для наклона объекта в э, ропном микроскопе, содержащее столик263768 Составитель Т. М. Горчаковаедактор Т. И. Зубкова Техред Т, П, Курилко Корректор Б. Л. Афиногенов 1396/5 Тираж 500 ПодписноеПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж-З 5, Раушскаи наб., д, 4/5 Заказ ЦНИ Типогра р. Сапунова, 2 перемещения объекта и конический патрон для объекта, установленный в столике, отличаюшееся тем, что, с целью повышения точности установки углов наклона, в корпусе патрона для объекта закреплены две биметаллические пластины, снабженные обмотками для нагрева и изгибающиеся при нагреве в противоположных направлениях, причем свободные концы пластин жестко связаны между собой коромыслом, которое с помощью тяги шарнирно соединено с наклоняемым держате лем образца, установленным на цапфах в корпусе патрона.
СмотретьЗаявка
1274237
Е. С. Мархасин, В. Б. Демидов, Г. А. Нашельский Донецкий физико технический институт Украинской ССР
МПК / Метки
МПК: H01J 37/26
Метки: наклона, объекта, электронноммикроскопе
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-263768-ustrojjstvo-dlya-naklona-obekta-v-ehlektronnommikroskope.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для наклона объекта в электронноммикроскопе</a>
Предыдущий патент: Способ подавления вторичноэлектронного резонансного разряда
Следующий патент: 263769
Случайный патент: Устройство для загрузки подвесногоконвейера