Способ измерения непараллельности двух
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз Советских Социзлнстических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства-аявлено 28.Х,1968 ( 1273923125 л, 42 Ь, 12 03 с .присоединением заявкамиКомитет па делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРПК б 01 Ь оритет публиковано 13,1,1970, Бюллетень5 ата опубликования описания 14.Ч,1970 К 531,717,88,621,3,082 .72 (088,8) Авторынзобретеьн Э. В. Кузьмин, М. М, Горбов, В. И, Горшенев и С. И. Даровски явител ЬНОСТИ ДВУХРЕПЛЕННЫХОВАНИИ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕПАРАЛ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛАСТИН, НА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОМ О возникаю перекосо редмет изобретен Способ,измерметаллических5 электрическомденсатор, заклюпластинами перв направлении опри этом замерО неп ар аллельносэ На чертеже по ва, реализующего Металлические ные на диэлектр ключают к колеб сокочастотного г нием непараллел щают параллельнказана олок-схемапредложенный спопластины 1, 2, зическом основаниательному контуруенератора 6, Передьности:пластин щуо основанию на одн устроист соб, акреплени 3, под - 5 вы- измереп 7 помеу из плаения непараллельностн двух пластин, закрепленных на диосновании, образующих кончающийся в том, что между емещают прямоугольный щуп т основания, параллельно ему, ют емкость конденсатора, и о и пластин судят по изменеИзобретение относится к области электрических измерений неэлектрических величин и может быть применено в машиностроении, приборостроении и других отраслях промышленности.Известен способ измерения непараллельности двух металлических пластин, закрепленных на диэлектрическом основании с помощью прямоугольного щупа, вводимого между пластилинами, при,котором замер емкости производят, перемещая щуп от основания параллельно ему.При измерении таким способом т погрешности от различного рода в щупа.По предлагаемому способу щуп помещают на,поверхность одной из пластин, устанавливают нуль измерительного устройства и замеряют емкость при перемещении щупа по поверхности пластины, что,повышает точность измерений. стин. Начальное расстояние щупа от основания устанавливают равным расстоянию между пластинами. При таком;положении щуп находится в равномерном поле, С помощью 5 конденсатора 4 переменной емкости устанавливается нулевая девиация частоты дискриминатора 8 по показывающему прибору 9, отградуированному в единицах девиации частоты. При измерении непараллельности пря- О моугольный,щуп перемещается по одной изпластин параллельно основанию. Как только щуп достигнет расстояния до свободного края пластин, равното расстоянию между пластинами, измерение заканчивается.5, Одновременно с,перезтещением щупа по показаниям прибора 9 снимается девиация частоты, величина которой пропорциональна неп ар аллельности пл астин.261704 Составитель В. ИлясоваИ. Зубкова Текред А. А. Камышникова Корректор В. В. Комарова Редакт Заказ 1107/3 Тираж 500 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва Ж, Раушская наб., д. 4/5 ипография, пр. Сапунова,нию емкости, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, щуп помещают на поверхность одной из,пластин, устанавливают электрический нуль измерительного устройства и замеряют емкость при перемещении щупа по поверхности пластины.
СмотретьЗаявка
1278923
Э. В. Кузьмин, М. М. Горбов, В. И. Горшенев, С. И. Даровских
МПК / Метки
МПК: G01B 7/312
Метки: двух, непараллельности
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-261704-sposob-izmereniya-neparallelnosti-dvukh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения непараллельности двух</a>
Предыдущий патент: Резонансный датчик плотности жидкости
Следующий патент: Способ измерения зазоров и натягов в прецизионных радиальных опорах качения
Случайный патент: Волнолом