Терморезистор

Номер патента: 783603

Опубликовано: 30.11.1980

Авторы: Зенкович, Кудрявцев, Посякин

МПК: G01J 5/08

Метки: бесконтактного, движущейся, проволоки, радиационной, температуры

...образующаяс выпуклой стороны зеркала водоохлаждаемун полость 9, в которую жидкостьс псстоянной температурой подаетсячерез нижний штуцер 10, охлаждаетзеркало и выводится через верхнийштуцер 11. К крышке 8 крепится узел Щввода датчиков 12 с помощью винтов 13,Устройство содержит защитную трубку14 с буртом 15, который с помощьюпрокладок 16 и 17 прижимает диафрагму 7 к трубке 6 отверстия,.5, Датчики 18 выпОцацы в виде батаеи 1 сследОв атетьцо сО Гиле 1 ц 11 ерлОп арс панкоторых заклепацы в сеебрлцую пластину 19,изолированную От эацитцой груб 14 слюд 11 ой прокладкой 2 О, Пр".чемраз 11 ер пластц 19 в 2 - 3 раза превышает размер изображе ия в Фокусе,падающего ца нее. Проволока 21, температура которой измеряетсл, поступает в устройство через...

Номер патента: 67638

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Евстигнеев

МПК: B31F 1/26

Метки: гофрированной, изоляции, например, станок, фольги

...с шестеренкой 14 во время работы приспособления. Для направления соединенных взамок лент установлен зубчатый валик 20, получающий движение припомощи гибкой передачи 21 от нижнего валика 2 и вращающийся с разной ему скоростью. На случай сшивки негофриров анной фольги имеются валики 22 и 23, которые при снятом кожухе 24 направляют полотна фольги в приспособление 6, минуя таким образом валики 2 - 4.При необходимости соединять края полотен двойным замком не подвижный выступ 13 основания рамки 12 снабжается двумя греб иями 25 (фиг, 4), а оба желобка 26 направляющей 16 крышки, разделенные буртом и формующие биги - плавными боковыми краями, отгибающими вершины бигов к обеим боковым сторонам крышки 27.Валики 2 и 3, вращаясь в направлении,...

Номер патента: 185513

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Кулаченков, Ля

МПК: G01K 3/06

Метки: движущейся, пирометр, проволоки, температуры, фотоэлектрический

...чертеже схематически изображены фотоэлектрический пирометр и вращающийся барабан в разрезе по А-А.Световой поток от движущейся проволоки 1фокусируется объективом 2 и через светофильтр 3 и конденсор 4 подается на призму5 сквозь щель б вращающегося барабана 7,служашего обтюратором; от лампы сравнения8 он фокусируется объективом 9 и при соответствующем повороте барабана подается на 30 призму. Этн переменные световые пмпульсьг призмой направляются на фотоэлемент 1 О, Включенный в схему усилителей 11 и 12 н преОорязОВятел 51 13. Последнии Вырябят 1 звяет напряжение, пропорциональное разности амплитуд входных импульсов от гроволокн н лам нь сряиения. Это напряжение, пройдя усилитель 14, подается па Оалансирующнй двигатель 15,...

Номер патента: 723398

Опубликовано: 25.03.1980

Авторы: Амбразявичюс, Валаткявичюс, Вилейшис

МПК: G01K 13/06

Метки: движущейся, проволоки, температуры

...изобретения - повышение точности измерения температуры движущейся проволоки.Эта цель достигается тем, что стполости, через которую пропускают проволоку, нагревают до выравнивания их яркости с яркостью проволоки и измеряют 5температуру стенок, принимая ее равной . температуре проволоки. Нагрев стенок полости до выравнивания кх яркости с яркостью движущейся проволокк предотвращает теплообмен между стенками полости и проволокой, т.е. при этом достигается равенство кх темпера-турФ:1(На чертеже покк ана принцйпиальная схема устройства, реализуюшего предлагаемый способ.Проволока 1 проходит поперек трубки 2 через отверстия в ней. Внутри трубки установлена перегородка 3 с прикреплен ной к ней термопарой 4 и диафрагма 5. Трубка снабжена...

Номер патента: 149230

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Денисов

МПК: G01B 15/02, G01D 5/50

Метки: например, пленок, толщин

...исходного вещества, т. е. с его толщиной при неизменных остальных пар а метр ах.Образец-пленка, толщину которой необходимо измерить, и контрольный эталон известной толщины, изготовленный из того же материала, одновременно в одних и тех же геометрических условиях облучаются в пучке активирующего излучения (протоны, нейтроны,;-кванты). Толщина пленки определяется по отношению образовавшихся в результате облучения активностей в образце-пленке и контрольном ее эталоне.После облучения активности образца и эталона пленки измеряются на одинаковых установках.В случае использования для активизации пл большои энергии необходимо учитывать эффект выбива ированных ядер отдачи из образца и эталона пленки.Для этого образец и эталон пленки...