Способ измерения толщины материалов

Номер патента: 1587335

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Вовк, Протопопов

МПК: G01B 17/02

Метки: плоскими, поверхностями, толщины

...в совмещенном режиме, в иммерсионной жидкости 2 над поверхностью 4 ввода .иэделия 1 осуществляют наклон пьезопластины 3 в плоскости с неизменным сечением изделия 1 до достижения макси мального значения амплитуды эхо-сигнала, отраженного поверхностью 4 ввода, и фиксируют угловое положение пьезопластины .3 в этой плоскости, Затем осуществляют наклон пьезопластины 3 в плоскости непа.- 40 раллельности поверхностей 4 и 5 изделия, т.е. в плоскости фиг. 1, Наклон осуществляют путем перемещения центра пьезопластины 3 по дуге (представлена на фиг, 1 штриховой линией) с неизменным расстоя нием между центром пьезопластины 3 и точкой ввода УЗ колебаний в иэделие. В ходе наклона пьеэопластины 3 излучают импульсы УЗ колебаний, принимают отраженные...

Номер патента: 431020

Опубликовано: 05.06.1974

Авторы: Дзюба, Косарев, Маслак

МПК: B28B 11/08, B28D 1/22

Метки: лицевой, поверхности

...в теле нижней плиты образов тикальные сквозные каналы, в кото мещены дюбеля бучарды, поверхщее прптель коо, с цебства в зъемной, аяы веррых разИзобретение относится к устроиствам для рельефной отделки поверхности строительных изделий, например, стеновых панелей и может найти применение в промышленности строительных материалов.Известны устройства для обработки лицевой поверхности изделий из бетона, содержащие прикрепленные к раме бучарду и возбудитель колебаний.Целью изобретения является повышение эффективности и удобство в эксплуатации устройства.Это достигается тем, что рама выполнена разъемной, причем в теле нижней плиты образованы вертикальные каналы, в которых размещены дюбеля бучарды.На чертеже схематически изображено предлагаемое...

Номер патента: 1447620

Опубликовано: 30.12.1988

Авторы: Борисов, Дмитриева, Каневский

МПК: B23K 35/24

Метки: взаимодействия, изделия, поверхностью, предотвращения, припоя, состав

...иметь в виду,что перед нанесением слоя состава предыдущий слой должен быть полностью высушен на воздухе или в сушильном шкафу,целлюло з а9 9Сернокислыйнатрий 115-ч 0.4 Жидкоестекло Остальное Соотношение компонентов обеспечивает ту или иную консистенцию смеси, связанную со способом ее нанесения на стенки ванны. При нанесении шпателем смесь должна быть более густой, а при нанесении путем распыления или кистью - более жидкой,Практически любая толшика облицовки обеспечивает изоляцию стенок ванны от расплава припоя, однако в ваннах большой емкости целесообразен более толстый слой ее, так как под гидростатическим действием расплава припоя ванна может прикимать бочкообразную форму, а облицовка при этом деформируется и трескается. После того...

Номер патента: 1555081

Опубликовано: 07.04.1990

Авторы: Недорезов, Чацкис, Шухмайстер

МПК: B23K 9/10

Метки: изделия, инструмента, поверхности, расстояния, стабилизации

...резонансного контура 3.Следовательно, на выходе каждогофильтра 5 нижних частот, подключенного к своему резонансному контуру 3,формируется 1 ЦИМ-сигнал, у которогодлительность импульса зависит отрасстояния между резонансным контуром 3 и поверхностью изделия, причем начала импульсов совпадают, адлительность каждого импульса уменьшается при приближении к изделию иувеличивается при удалении от изделия.Импульсы от всех катушек, расположенных вокруг инструмента и начинающиеся одновременно, поступают сфильтра 5 нижних частот на схемуИ 6, на выходе которой формируетсяимпульс самой короткой длительности,соответствующей минимальному из расстояний между изделием и каждой изкатушек резонансных контуров .3. Поначалу этого импульса....

Номер патента: 1143970

Опубликовано: 07.03.1985

Авторы: Выстропов, Забродский, Иващенко, Капранов, Хрипунов

МПК: G01B 15/02

Метки: изделия, покрытия, толщины

...объекта источник с коллиматором и детектор 35 излучения с обхватывающей его диафрагмой, снабжено экраном, соосно устанавливаемым между источником излучения и объектом и выполненным из непрозрачного для нзлуче ния материала в Форме диска, диаметр которого и его расстояние от источника выбрано в соответствии с соот- ношением где " - расстояние от источникаизлучения до экрана 1) - диаметр экрана;3 - диаметр источникаиэлучечения;1 н - минимальная толщина изделия;3 о - толщина насыщения в материале изделия дляиэлучения используемого источника.На чертеже изображено предлагаемое устройство, разрез.Устройство для измерения толщины покрытия 1 изделия 2 содержит последовательно устанавливаемые по одну сторону от контролируемого...