Устройство для контроля параметров луча и развертки

Номер патента: 244429

Авторы: Аймбиндер, Антонишин, Шутовский

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 22.Ч,1967 ( 1159521/26-9) Кл, 21 единением заявкиМПК 6 01 г митет по делам ПриоритетОпубликовано 28,Ч,1969. БюллетеньДата опубликования описания 14.Х.1969 изобретений и аткрытипри Совете МинистровСССР К 621.317:621,39 (088.8) Авторыизобретени. В. Шутовский яви тел УСТРОЙСТВ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ЛУИ РАЗВЕРТКИ чное со. к входу Известны устройства для измерения параметров луча и развертки, содержащие мишень,коллектор вторичных электронов, широкополосный усилитель и индикатор,В этих устройствах используется принципполучения видеосигнала при пересечении нич ей.Однако такие устройства характеризуютсяневысокой точностью измерений.Описываемое устройство отличается ем, что 10мишень выполнена в виде плоской решетки изпараллельных равноотстоящих металлическихнитей (проволок), расположенных под углом45 к направлению сканирования луча. Диаметр и расстояние между смежными нитями 15значительно большие, чем диаметр контролируемого луча.Это позволяет повысить точность измерений.На чертеже показаны конструкция измерительной решетки и схема соединения узлов 20устройства.Измерительная решетка 1 представляет собой параллельные равноотстоящие, натянутыена плоской металлической рамке металлические проволочные нити. Диаметр нитей и их 25шаг в несколько раз болыие диаметра контролируемого луча. Размеры решетки выбраныбольшими длины строки развертки, а количество нитей, достаточно большим, чтобы обеспечить контроль на любом участке развертки. ЗО Подобные решетки, изготовляемые элной промышленностью, используются вве сеток (электродов) в некоторых эл рнолучевых трубках.Решетку устанавливают в плоскости фокусировки (т. е. в плоскости расположения исследуемого объекта в электронных микроскопах или в плоскости носителя записи в аппаратуре записи информации электронным лучом) таким образом, чтобы направление металлических нитей находилось под углом 45к направлению развертки луча.По периметру решетки на некотором расстоянии от нее расположен кольцевой коллектор вторичных электронов 2, имеющий по от.ношению к решетке положительный потенциал,достаточный для полного отбора вторичныхэлектроновВ цепь решетки включено нагрузопротивление 3, подключенное такжеширокополосного усилителя 4.Выход усилителя 4 подключен через переключатель б к входу широкополосного осциллографа б либо непосредственно, либо черездифференцирующую цепочку 7.При пересечении сканирующим электроннымлучом 8 каждой нити решетки в ее цепи создается импульс тока, а на нагрузочном сопротивлении 3 - соответствующий импульс напряжения,244429 Составитель Э. ГилинскаяТехред Т. П, Курилко Редактор В. Кузнецов Корректор Л. А. Иголкина Заказ 2571/7 Тираж 480 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2 3После усиления этот сигнал поступает на вход осциллографа. По известной методике и согласно инструкции по эксплуатации осциллографа измеряются амплитуда импульса, его длительность и длительность его фронта.При постоянной скорости перемещения луча вдоль строки длительность импульса пропорциональна диаметру проволоки, а длительность любого его фронта пропорциональна диаметру электронного пучка. По полученным осциллограммам можно судить о параметрах луча и развертки электроннолучевых приборов. Предмет изобретенияУстройство для конгроля параметров луча и развертки электроннолучевых приборов, предназначенных для применения, например, в электронных микроскопах, рентгеновских аппаратах и т. п., содержащее мишень, коллектор вторичных электронов, широкополосный усилитель и индикатор, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, упомянутая мишень выполнена в виде плоской металлической решетки из параллельных равноотстоящих нитей, расположенных под углом 45 к направлению сканирования электронного луча.

Смотреть

Заявка

1159521

В. Антонишин, М. С. Аймбиндер, В. В. Шутовский

МПК / Метки

МПК: G01R 29/00

Метки: луча, параметров, развертки

Опубликовано: 01.01.1969

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-244429-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-parametrov-lucha-i-razvertki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля параметров луча и развертки</a>

Похожие патенты