Направляющее устройство к штампам

Номер патента: 528603

Опубликовано: 15.09.1976

Авторы: Атспупенас, Рагульскис, Скучас

МПК: G11B 15/62

Метки: головки, зазора, записи, магнитной, между, носителем, поверхностью, рабочей

...следующим образом.При поступлении на вход блока 2 знакопеременного сигнала с изменяющейся амплитудой, воспроизведенного с магнитного носителя магнитной головкой 1, на выходе блока 2 получается однополярный сигнал, После дифференциирования однополярного сигнала блоком дифференциирования 14 и формирования его формирователем 15 получается сигнал, продолжительность которого равна половине очередной полуволны выходного сигнала блока 2, Этот сигнал поступает на управляющий вход блока слежения-хранения 4, на второй вход которого поступает выходной сигнал блока 2. При этом блок слежения-хранения 4 во время первой половичы каждой полуволны сигнала работает в режиме слежения, а во время второй половины при появлении сигнала с выхода...

Номер патента: 691675

Опубликовано: 15.10.1979

Авторы: Волошко, Иванова, Щеголев

МПК: G01B 5/14

Метки: двумя, зазора, между, поверхностями

...четыре подпружиненных штифта, каждый из которыхснабжен своим стопорсм 11110Однако наличие в таком устройствечетырех стопоров измерительных штифтов снижает производительностьизмерения и вносит погрешность в результат измерения эа счет различногоусилия зажима. Крсме того, в иэвестнсм устройстве отсутствуют ориентирыи базовые поверхности для правильнойустановки устройства относительноизмеряемых поверхностей.Цель изобретения - повышение точности и производительности измерения.Для этого стопор выполнен в видеразмещенных в корпусе контактирующиходними своими концами с измерительными штифтами подвижных стержней,секторов,взаимодействующих своими цилиндрическими поверхностями с другими .-концами стержней, и конического Фиксатора,размещаемого...

Номер патента: 781533

Опубликовано: 23.11.1980

Авторы: Карягин, Красильников, Соловьев

МПК: G01B 5/14

Метки: двумя, изменения, между, поверхностями, расстояния

...базового кронштейна 10.На кинематической схеме (фиг. 3) точка А - соединение планки 6 с гибким элементом 2 при помощи скользящего поворотного шарнира 4, точка В соединение планки 6 с гибким элемен-,781533 том 3 посредством поворотного шарнира 5, а точка С - место контакта планки б,с измерительным наконечником отсчетного узла 7.Устройство работает следующим образом;При изменении температуры (например, увеличении) происходит удлинение гибкого элемента 3 и поворотный шарнир 5, находящийся в точке В переР мешается в точку В , а точка С - в точку С " . При удлинении гибкого элемента 2 скользящий поворотный шарнир 4, находящийся в точке А, перемещается в точку А, а точка С - в точку С. Из подобия д АВА и ЬСВС следует АА5СС = д (1)Из...

Номер патента: 954812

Опубликовано: 30.08.1982

Авторы: Аугустайтис, Маченис, Ряубунас

МПК: G01B 11/14

Метки: двумя, зазоров, которых, малых, между, одна, поверхностями, прозрачная

...из которых прбзрачная,, Устройство содержит последовательно5расположенные осветитель 1 - источниксвета, излучающий световой поток, неменее двух определенных частот, т,е,полихроматический световой поток, первый светоделитель 2, второй светоделитель 3, светофильтры 4 и 5 для лропускания световых потоков определенныхчастот и блок регистрации интенсивностисветовых потоков, включаклпий фотодетекторы 6 и 7 и двухканальный осциллог раф 8.Устройство рразом.Излучаемый и20 матический светрез первый светется на измеряеповерхностями 9ми поверхностя412/4 исное ираж 6 3 9548первым светоделителем 2 направляютсяна второй светоделитель 3, который направляет их через светофильтры 4 и 5,каждый из которых пропускает свет определенноф частоты на...

Номер патента: 1180697

Опубликовано: 23.09.1985

Авторы: Айсин, Подобрянский, Пушечников, Смирнов, Хлебников, Шевелев

МПК: G01B 21/08

Метки: между, отражающими, поверхностями, расстояний

...Кроме того, измеряется расстояние между отражающими поверхностями объекта 31, например линзы,Устройство работает следующимобразом,Источник 1 света освещает щелевуюдиафрагму 2, автоколлимационноеиэображение которой от первой поверхности строится с помощью полупрозрачного элемента 3, коллимирующегои фокусирующего объективов 5 и 6 вплоскости анализа, в которой -установлена щелевая диафрагма 2,Автоколлимационное изображениещелевой диафрагмы 2 также строитсяв плоскости анализа с помощью полупрозрачного элемента 7, зеркал 8-10и фокусирующего объективаФокусирующие объективы 6 и 11 установлены таким образом, что расстояние между их фокальными плоскостями больше максимального расстояния между отражающими поверхностями линзы 31.При перемещении...