Устройство для измерения емкости и добротности

Номер патента: 239430

Авторы: Вишневецкий, Гринбаум, Стан

ZIP архив

Текст

ОЕООЮЗНЯЯ бнб тее Союз Советских Социалистических РеспубликО ПИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМ- СВйдЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт, св,дстсльства М -Заявлено 30.Х.1967 ( 1194334/18-10)с присоединением за 11 вки ЛЪПриоритетОпубликовано 18.1111969, Бюллетень М 1Дата опубликования описания 25 Л 11.1969 л. 21 е, 29/03 МПК 6 01 гУДК 621 317 335(088.8) митет по делам зобретений и открытипри Совете МинистровСССР Авторыизобретения Гринбаупт, А. И, ВишневецкийСтанякин 3 аявител УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЕМКОСТИ И ДОБРОТНОСТИ КОНДЕНСАТОРАИЗМЕРСНИЯ ИЗМ ПЯ 1 О- гности конденсаторов арикапов, можно исвания контура паравсличина которого ьного сопротивления ров. Влияние на результат ПГсйся собственно 1 добро параметроиа, например г клн П 1 ть путем шунгиро метрона сопротивлением много меньше мини мал примененных копдснсато Изобретение относится к области электроизмерительной техники и предназначено для исследования электрических свойств диэлектрических материалов, помещаемых между обкладками конденсаторов. 5Известные устройства для измерения ехкости и добротности конденсаторов с исследуемым диэлектриком не позволяют одновременно и независимо измерять оба параметра а динамике их изменений. 10Предлагаемое устройство отличается о; известных тем, что в нем выход параметрического генератора через детектор и усилитель соединен с конденсаторох в цепи смещения, а исследуемый конденсатор подключен к генера тору через периодический прерыватель, Зто От;нчие ИОзволяет ОднэврсмспнО и незав 141 мо измерять оба параметра в рабочих условиях.На чертеже представлена функциональная схема описываемого устройства. 20Исследуемый конденсатор 1 через прерыватель 2 подключен к параметрическому генератору (емкостному параметрону) 3. Генерируемые параметроном колебания детектируются детектором 4, усиливаются усилителем 5 по даются на конденсатор б в цепи смещения параметрона. В устройстве используется зависимость амплитуды генерируемых емкостньгм параметроном колебаний от нагрузки и расс;ройки его контура относительно половинной частоты накачки при подключении к парамегрон 1 исс,1 елусмой емкости. Для ооеспсчения независи:ости процесса измерения от знаков изменения емкости и дооротност; конденсатора последний подключают к параметрону через периодически действуощип прерыватель 2, например поляризованное реле. При этом синхронно с работой прсрьшателя модулируются амплитуда Олсоании П 11 ра 1 егрона и напряжение смещения.Глубина модуляции амплитуды генерируемых пар,;метроном колебаний и напряжения смс 1 цения являются соответственно однозначными мерами добротности и величины емкости 11 сслс; смого конденсатора. Лии .,змепяют ч импульсными вольтметрами 7 и 8, шкалы ко 1 орых могут быть проградуированы в измеряемылх параметрах.Для рсгистрашш изменений исследуемых параметров можно использовать самописцы.239430 Предмет изобретения Составитель В. Н. фетииаР 1. Хейфиц Техред Л, Я. Левина Корректор 3. Р 1. Чваикиии едакт Подппсно инитроп СССРЗаказ 1 бьб 717ЦНИР 1 ПР 1 Комитета еГ Типография, пр. Сапунова,Устройство для измерения емкости и добротности конденсаторов с использованием параметриеского резонанса, отличающееся тем, что, с целью одновременного и независимого измерения обоих параметров в рабочих условиях, в нем выход параметрического генератора через детектор и усилитель соединен с конденсатором в цепи смещения, а исследуемый 5 конденсатор подключен к генератору через пе одический прерыватель.

Смотреть

Заявка

1194334

М. Б. Гринбаум, А. И. Вишневецкий, В. М. Стан кин

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: добротности, емкости

Опубликовано: 01.01.1969

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-239430-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-emkosti-i-dobrotnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения емкости и добротности</a>

Похожие патенты