Микроскоп для измерения отражательной способности образца
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 213376
Автор: Агроскии
Текст
ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сова Советских Социалистических Республикприсоединением заявриоритет МП 1 6 02 с 3УДК 535.822.8(088,8) Комитет по делам изобретений и открытийДата опубликования описания 22.Ч.196 в,орзобрстсиия. С. Лгроскин аявител МИКРОСКОП ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТРАЖАТЕЛЬН СПОСОЬНОСТИ ОБРАЗЦАна вид икро б са и зрачка половину.входящется диафющее отложена нимает етового ор, рег ающей Известные микроскопы для измерения отражательной способности образца, содержащие ветвь сравнения и измерительную ветвьс осветителем, объективом и регистрирующимприспособлением, не позволяют получить абсолютное значение отражательной способности образца и одновременно повысить точность измерения.Предложенный микроскоп отличается отизвестных тем, что вго ветвь сравнения выполнена из отражательных элементов и двухвстречно установленных объективов, идентичных одноименным элементам измерительнойветви, а перед осветителем размещено разделительное приспособление, например установленная с возможностью качания вокруг оси,перпендикулярной оси освещающего пучка,плоскопараллельная, прозрачная пластинка,направляющая освещающий пучок попеременно в измерительную ветвь и ветвь сравнения. :"1-1 а чертеже дана принципиальная оптическая схема микроскопа,Световой пучок из монохроматора 1 с помощью ахроматической линзы 2 и толстой наклонной пластинки 3 направляется в опак-иллюминатор микроскопа, где прямоугольнаяпризма 4 отклоняет его в сторону микрообьектива 5. Выходное отверстие б монохроматора, расположенное в фокусе линзы 2, изоб ражается при этом микроооъективом 5поверхности исследуемого образца 7 в есветового зонда (в схеме работают мобъективы, рассчитанные на длину ту убесконечность),Призма 4 раопо вблизмикрообъектива и за егоФорма и размеры св пучка,го в опак-иллюминат улируюрагмой 8, ограничив действуверстие монохроматора.Отраженный от образца световой поток выходит из свободной части зрачка микрообъектива 5 в виде параллельного пучка и спомощью линзы 9, пары призм 10 и 11 направляется,на приемник 12. При этом изображвние выходного зрачка микрообъективаобразуется на поверхности фотокатода.Для наблюдения и выбора фотометрируелого участка применен дополнительный осветитель 13, включаемый призмой 14, и визуальная головка 15 с призмой 16. При необходимости в ход лучей могут быть введеныполяризатор 17 и анализатор 18.Ветвь сравнения образуют два установленных навстречу друг другу микрообъектива19 и 20, идентичные рабочему объективу 5,вторая зрачковая призма 21, а также детали22, 23 и 24, ана.погичные по конструкции иназначению соответствующим деталям рабоЗаказ 1054/4 Тираж 500 ПодписноеЦЕРг 14 ПИ Комитета по делам изооретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д, 4 Типография Сапунова,чей ветви. Световой пучок в ветвь сравнения попадает при повороте пластинки 8, когда он перемещается параллельно самому себе ниже призмы 4.При качании пластинки 3 монохроматический пучок попеременно попадает в обе ветви, а значит и на приемник. Отношение сигналов, которые можно выделить при соответствующей электрической коммутации, дает абсолготное значение отражательной способ ности исследуемого образца. При непрерывном изменении спектрального состава излучения, выходящсго из монохроматора, регистрирующий прибор может воспроизводить кривую абсолютной дисперсии отражательной 15 способности.Этот эффект достигается благодаря выравниванию энергетических характеристик обеих ветвей (двойное прохождение света через однотипные микрообъективы, одинаковые 20 преломляющие и отражающие элементы, например призмы внутреннего отражения), а также благодаря использованию в обеих ветвях одного и того же начального потока.Уменьшению уровня рассеянного света спо собствуют: освещение образца монохроматическим светом, зондовое освещение интересующего участка, применение опак-иллгоминатора с призмой, работающей на половину зрачка, и попеременное освещение рабочей ветви и ветви сравнения. Микроскоп для измерения отражательной способности образца, работающий по двух- лучевому принципу, содержащий ветвь сравнения и измерительную ветвь с осветителем, объективом и регистрирующим приспособлением, от.,гичаюгиийся тем, что, с целью получения абсолютного значения отражательной способности с одновременным повышением точности измерения, ветвь сравнения выполнена из отражательных элементов и двух встречно установленных объективов, идентичных одноименным элементам измерительной ветви, а перед осветителем размещено разделительное приспособление, например, установленная с возможностью качания вокруг оси, перпендикулярной оси освещающего пучка, плоскопараллельная прозрачная пластинка, направляющая освещающий пучок попеременно в измерительную ветвь и ветвь сравнения.
СмотретьЗаявка
1121310
Л. С. Агроскии
МПК / Метки
МПК: G02B 21/18
Метки: микроскоп, образца, отражательной, способности
Опубликовано: 01.01.1968
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-213376-mikroskop-dlya-izmereniya-otrazhatelnojj-sposobnosti-obrazca.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Микроскоп для измерения отражательной способности образца</a>
Предыдущий патент: Устройство м. а. мильхикера для визуального наблюдения метеоров
Следующий патент: Устройство для измерения высоты неровности
Случайный патент: Однородная вычислительная система