ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 12.Ю 1.1965 ( 1024372/25-28)с присоединением заявкиКл. 421, 45/03 МГ 1 К 6 011 иоритет Комитет по делам зобретений и открытий при Совете Министров СССРУД К 620.172,216(088.8) Опубликовано 01.Х 1.19 Бюллетень та опубликования описания 20.111.196 Авторыизобретеш Ю, Л. Беляк и В. Б. Старосельскийнинградский институт водного транспорта 1 ЕЪф.6 Рь ".11 и Заявитель ТЕНЗОМЕТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛИСКРЕТНЫХ ВЕЛИЧИН НИЗКОЧАСТОТ РЕГИСТРАЦИИ1 Х ДЕФОРМАЦИЙ дмет изобретения Известны тензометрические устроиства для регистрации дискретных величин низкочастотных деформаций, содержащие преобразователь деформаций и рычажный механизм для передачи деформаций с исследуемой поверхности на преобразователь деформаций.Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что преобразователь деформаций выполнен в виде связанного с рычажным механизмом резца и образца, имеющего метки в виде углублений, заполненных твердеющей массой из порошков различных химических элементов, по которому перемещается резец, истирая поверхность образца. По продуктам истирания образца известными методами, например спектральным или радиоактивационным анализом, определяют число циклов деформаций. Такая конструкция повышает надежность устройства.На чертеже изображена схема описываемого устройства с видом по стрелке А.Устройство состоит из закрепляемой на исследуемой поверхности 1 штанги 2 с регулировочной гайкой 3, неподвижной опоры 4 и корпуса 5. В корпусе размещены рычажный механизм, содержащий угловой рычаг б и связанные с ним поводок 7, полый рычаг 8 с пружиной 9 и резец 10, укрепленный в цанговом зажиме 11.Образец 12 установлен в держателе И и имеет метки 14 в виде углублений, заполненных твердеющей массой из порошков различных химических элементов.Вследствие деформаций исследуемой поверхности рычажный механизм перемещает резец по поверхности образца, В процессе изменения деформаций происходит истирание поверхности образца на разных его участках, В продуктах истирания появляются присадки 10 различных химических элементов. Количествотого илн иного элемента, определяемое известными методами, например спектральным или радиоактивационным анализом, пропорционально числу циклов деформаций.15 Тензометрическое устройство для регистра ции дискретных величин низкочастотных де.формаций, содержащее преобразователь деформаций и рычажный механизм для передачи деформаций с исследуемой поверхность на преобразователь деформаций, отличающе еся тем, что, с целью повышения надежностиустройства, преобразователь деформаций вы.полнен в виде связанного с рычажным механизмом резца и образца, имеющего метки в виде углублений, заполненных твердеющей 30 массой из порошков различных химическихЗаказ 38874 Ткрахк 1450 Формат бум, 60)(90% Обьем 0,13 изд, л. ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открьпий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д. 4 Типографии, пр. Сапунова, 2 элементов, по которому перемещается резец, истирая поверхность образца, и по продуктам истирания образца известными методами, например спектральным или радиоактивационным анализом, определяют число циклов деформаций.

Смотреть

Заявка

1024372

МПК / Метки

МПК: G01B 5/30

Метки: 188735

Опубликовано: 01.01.1966

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-188735-188735.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">188735</a>

Похожие патенты