Устройство для статической и динамической градуировки тензорезисторов

(я)5 6 0127/00 Е ИЗОБР ЕНИЯ ПИС ЕЛЬС мерение механич ериалов. М., 197 М ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕВЕДОМСТВО СССР(21) 4891513/21 (22) 17.12.90 (46) 07.08.93. Бюл, М 29 (71) Научно-исследовательский институт физических измерений (72) К.Е.Балашов, Г.С,Каримов, В.К,Колтаков, В.А,Крюков, М.М,Лупинский и Г.В.Попов (56) Проектирование датчиков для измерения механических величин. М.: Машиностроение, 1979, с,246-268.Авторское свидетельство СССР. М 585517, кл. С 10 С 7/02, 1977.Большакова И.АСиверс С.РПодстрегач И,Я., Гортынская И,Д. Исследования динамических характеристик германиевых тензорезисторов в импульсном режиме, Х Всесоюзная конференция "Методы и средства тензометрии и их применение в народном хозяйстве", Тензометрия, М., 1989, с,65,Кирносов В.И. Из е ских характеристик мат с.7, 182-184.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ СТАТИЧЕСКОЙ И ДИНАМИЧЕСКОЙ ГРАДУИРОВКИ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ(57) Изобретение относится к измерительной технике, Сущность: для обеспечения возможности создания статических и динамических деформаций с заданными параметрами упорами 9 настраивается беззазорное сопряжение рычагов механизма 4 захвата с пазами в средней части балки 2. Затем нижняя часть балки 2 растягивается или сжимается на заданную величину механизмом 7 растяжения-сжатия и фиксируется к корпусу 1 клиновыми зажимами 6. Задание величины деформации нижней части балки осуществляется настройкой величины зазора между механизмом 7 растяжения-сжатия и упором 9. Для создания динамической деформации средняя часть балки 2 освобождается механиэмом удержания - спуска. 1 ил.1832182 всю балку, При этом, если обе части балки одинаковы по жесткости, то их деформации изменяются до половины заданной, т.е. деформация предварительно деформированной части уменьшается в 2 раза, а второй ее части увеличивается до этой же величины, Если части балки выполнены разной жесткости, то их деформации отличаются обратно пропорционально их коэффициентам жесткости.Технико-экономическое преимущество предлагаемого устройства заключается в том, что на одном и том же устройстве обеспечивается воспроизведение как статических, так и динамических деформаций, что позволит сократить количество оборудования, необходимого для исследования метрологических характеристиктенэорезисторов, Кроме того, обеспечивается задание величины деформации без проведения предварительных и последующих аналитических расчетов, что повышает производительность градуировочных работ. Изобретение относится к измерительной технике.Цель изобретения - расширение области применения за счет обеспечения возможности создания как статических, так идинамических деформаций с заданными параметрами.На чертеже изображено предлагаемоеустройство для градуировки.Устройство состоит из корпуса 1, балки 102 с установленными на всей ее активнойповерхности тенэорезисторами 3, выполненной с утолщением в средней части, сопряженным с захватами 4, которыеохватывает втулка 5 механизма удержанияспуска, при этом балка соединена клиновыми зажимами 6 одним концом с корпусом 1,а другим с механизмом 7 растяжения-сжатия и измерителем 8 линейного перемещения, на корпусе установлены регулируемые 20упоры 9,При статической градуировке регулируемым упорами 9 устанавливается предельный зазор Я, балка 2 с установленными наней тенэорезисторами 3 при выведенных изсопряжения с ней захватов 4 механизмаудержания-спуска деформируется на заданную величину механизмом 7 растяжениясжатия, величина деформации задается иконтролируется измерителем 8 линейного 30перемещения, Деформация балки воспринимается тензорезисторами и регистрируется вторичной аппаратурой,При динамической градуировке тензорезисторов с помощью клиновых зажимов 6 35настраивается беззазорное сопряжениеопорных поверхностей в средней части балки 2 с опорными поверхностями захватов 4механизма удержания-спуска. Регулируемыми упорами 9 устанавливается предельный зазор Я. Механизмом 7растяжения-сжатия балка деформируетсяна заданную величину, при этом деформации подвержена только часть балки междузахватами 4 механизма удержания-спуска и 45механизмом 7 растяжения-сжатия, при освобождении балки распространяется на Формула изобретения Устройство для статической и динамической градуировки тензореэисторов, содержащее корпус, балку равного сечения для размещения на ее поверхности тензорезисторов, отл ич а ю щеес я тем,что, с целью расширения области применения и повышения производительности градуировки, оно дополнительно снабжено механизмом растяжения-сжатия, измерителем линейного перемещения нижнего конца балки и механизмом захвата, удержания и спуска, при этом балка выполнена в виде двух симметричных частей равного поперечного сечения квадратной формы и равной длины с утолщениями в середине балки и по ее концам, причем одним концом балка жестко соединена с корпусом, а вторым - с механизмом растяжения-сжатия и измерителем линейного перемещения нижнего конца балки, а механизм захвата, удержания и спуска сопряжен со средней частью балки,Составитель В,КрюковТехред М,Моргентал Корректор С.Пекарь Редактор Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 Заказ 2607 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5