Способ определения диэлектрической проницаемости материалов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1781594
Автор: Крутов
Текст
(19) ( 22/00 5 6 ЕНТНОЕ ГОСУДАРСТВЕННО ВЕДОМСТВО ССС (ГОСПАТЕНТ СССР ЗОБРЕТЕЕТЕЛЬСТВУ И ТОРСКО ПИСАНИЕ И 1(56) Валитов Р.А. и др. Измерения на СВЧ, М,: Воениздат, МО СССР, 1958, с, 384.Бондаренко И.К, и др. Автоматизация измерений параметров СВЧ-трактов. - . М.; Сов. радио, 1969, с. 242.(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ МАТЕРИАЛОВ(57) Использование: изобретение относится . к технике. измерений на СВЧ. Сущность изоИзобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано при измерении параметров диэлектрических материалов,Целью изобретения является повышение точности определения диэлектрическойпроницаемости материалов.Способ определения диэлектрической проницаемости материалов заключается в том, что в короткозамкнутый йа конце отрезок волновода вплотную к короткозамыкателю помещают образец исследуемого материала, на расстоянии 1 от короткозамкнутого конца отрезка вол н овода вводят нео- . днородность, Короткозамкнутый отрезок волновода с образцом исследуемого материала и введенной неоднородностью возбуждают СВЧ сигналом качающейся частоты, причем перестройка частоты осу-ществляется по линейному закону. Коротко- замкнутый конец волновода и введенная 2.бретения: в короткозамкнутый на конце отрезок волноводэ вплотную к короткозамыкателю помещают образец исследуемого материала, а на некотором расстоянии от короткозамыкателя вводят неоднородность. Возбуждают отрезок волновода СВЧ- сигналом качающейся частоты, перестройка которой осуществляется по линейному закону, Выделяют суммарный отраженный сигнал, который оказывается промодулирован по амплитуде с частотой; равной разности частот сигналов, отраженных от неоднородностй и короткоэамкнутого конца, измеря:.ют частоту модуляции, по которой вычйсляют искомую диэлектрическую проницаемость. неоднородность являются источниками отражений, причем в силу того, что происходит перестройка частоты СВЧ сигнала, частоты сигналов, отраженных от введенной неоднородйости и от короткозамкнутого конца отрезка волновода, различны. Разность этих частот зависит от расстояния 1 скорости распространения СВЧ сигнала в исследуемом образце. Из-зэ разницы частоты сигналов, отраженных от введенной неоднородности и короткозамкнутого конца отрезка вол новода, суммарный отраженный сигнал оказывается промодулированным по амплитуде с частотой Й, равной разнице частот сигналов, отраженных от введенной неоднородности и короткозамкнутого кон- . ца отрезка волновода.Из суммарного отраженного сигнала выделяют сигнал с частотой 2 . измеряют частоту Й, вычисляют диэлектрическую%Составитель Е.КрутовТехред М.Моргентал Корректор зориз ктор.аа Заказ 4270 Тираж - Подписно ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и откры 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Пи ГКНТ СССР роизводственно-иэдательскйй комбинат "Патент", г, Ужгород, ул, Гагарина, 101 проницаемость я материала исследуемого образца по формулесТЙ2 щ-йъ ф где С - скорость света;Т - время перестройки сйгнала качающейся частоты;вд и щ -нижняя и верхняя частоты диапазона перестройки сигнала качающейся частоты.Переход к измерению частоты Й гармонической составляющей поэвОляет повы сить точность определения диэлектрической проницаемОсти материалов, Формула изобретения Способ определения диэлектрической проницаемости материалов, заключающийся в помещении образца в отрезок волновода, короткозамкнутый на конце, вплотную к короткозамкнутому концу, возбуждении его СВЧ-сигналом качающейся частоты, измерении отраженного сигнала и вычислении, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью 5 повышения точности, в образец материала на расстоянииот короткозамкнутого конца отрезка волновода вводят неоднородйость, в качестве измеряемого параметра отраженногосигналавыбираютчастоту Я гар монической составляющей отраженного сигнала, а диэлектрическую проницаемость е материала вычисляют по формуле.сТИ21 щь-вн " 15 где С - скорость света;Т - время перестройки сигнала качающейся частоты;ан и йЪ - нижняя и верхняя частотыдиапазона перестройки сигнала качающей ся частоты,
СмотретьЗаявка
4866671, 27.06.1990
НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ РАДИОСТРОЕНИЯ
КРУТОВ ЕВГЕНИЙ ПАВЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 22/00
Метки: диэлектрической, проницаемости
Опубликовано: 15.12.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1781594-sposob-opredeleniya-diehlektricheskojj-pronicaemosti-materialov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения диэлектрической проницаемости материалов</a>
Предыдущий патент: Способ определения алифатических сульфидов
Следующий патент: Способ бесконтактного измерения параметров цилиндрических проводящих изделий
Случайный патент: Бур