Способ измерения средней полусферической освещенности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
М 177 ПАТЕНТ НА И ИЕ ВРЕТЕ ИСАН еднейа и приспособ полусферичспособ измереЮиещенно сто. ения длякой освА. Зеленкоаяе. сеид,е К,патен аявленному 22 декабр0815). ГАЗО сентябр а 15 лет от О выд 7 ч частЬ амгде еторассеивари чем снархняя полу-,т, что если оверхностьюну,косинуса,тренней по- всех точках , будет одиПусть имеется некотораясферической оболочки из свющего материала (фиг, Ц, пружи освещается только весфера бег. Теория показываерассеяние светавнутренней иоболочки происходит по закото освещенность на всей внуверхности сферы, а также восферической поверхности аедиакова, а именно:.Е= 11 Еь,где 1 ь - коэфициент пропорциональности, зависящий от свойстврассеивающей оболочки. Поэтому измерение средней полусферической освещенности ЮЬ может быть сведено к измерению освещенности Г, получающейся от освещения полусферы бег на частях дг или аб оболочки, или же в точках, расположенных по сферической поверхности аед, не принадлежащих оболочке." Самое измерение освещенности можно производить любым фотометром, визируя каждую часть нижней полусферу баедг непосредственно, или же визируя изображание этой части, получаемое при помощи призм, зеркал и т. п., в зависимости от конструкции фотометра и сообти Ж=пред.1ование распрострафере). г = О (интегрипо всей полуе Для установления величин, характеризунщих в том или ином отношении качество освещения в данной точке.освещаемого пространства, авторы предлагают . измерять среднюю освещенность на полусфере достаточно малого радиуса с центром в данной точке. Для этого предлагается приспособление в котором испытательная пластинка, освещенность, коей измеряется люксметром, помещена известным образом под полусферой из:рассеивающего материала, воспринимающего световой поток извне, тогда как в нижней части приспособления обеспечена световая непрогницаемость, Средняя полусферическая,освещейность найдется привведении : коэфициента рассеивающей оболочки,На чертеже фиг. 1 - схема, поясняющая предлагаемый способ, фиг. 2 - схема приспособления (вид сбоку).Еси Ю есть освещенность на эйменте И 8 полусферы радиуса т-, центр которой расположен в данной точке О, то величина средней полусферической освещенно 5 Е с 51930 года, Действие патен0 сентября 1930 года./. (пространства, характеризующийся тем,. что,измерение яркостй производят в однойиз. точек сферической поверхности, имеющей центрв данной точке, и световой ; поток, имеющийся в освещаемом пространстве, заставляют падать на наружную частьпропускающей света цилиндрической коробке ж, вычерненной внутри и имеющей окно щ. В плоскости, касательной в точке е к сфере беге, помещена белаяиспытатель-, ная пластинка гг.,Приспособление укре-пляется на выдвижной планке гг люксметрапри помощи зажимного винта е таК, что ( наблюд;гтель визирует непосредственноточк е пластинки. Еслиотсчет по люкс-у. метру, соответствующ(ий фотометриче-:скому равновесию, будет Ж люксов, то иско мая средняя полусферическая . освещен ностьдля точки, О пространства будет: ЮЬ =Ж 11, где Л определяется соответству-,юпимградуированием приспособления,Предмет патента.1. Способ измерения средней полусфеуической освещенности в данной точке 1 Ь/Фиг. 1,ражений удобства. На фиг. 2, показан пример пользования приспособлениеи для слу ( чая фотометрирования, л)оксметром Госуд; Оптического Института. "Приспособление состоит из полусферы из молочного .стекла, укрепленной в неэтой поверхности, равную полусфере, и, часть:этой поверхности, не меньшая полусферы, выполнена из сЪеторассивающегд матерйала, при чем полученную при этом измерении численную величину яркости- делят на находимый, путем предварительной;градуйровкц коэфйциент.2, Для осуществления охарактеризован- ного в и. 1 способа п испо обление отли-,1 Счающееся темг что оно состоит из полусферы бег из молочного стекла, укреплен.- ной ие непропускающей света цилиндрической коробке ц, вычерненной внутри и имеющей окйо гислужащее для измерения через него при помощи люксметра освещецностй белой испытательной пла-,-", стинки гг помещенной внутрикоробкй жв плоскости, касательной к точке е к сфере бега.
СмотретьЗаявка
60815, 22.12.1929
Гершун А. А, Зеленков В. А
МПК / Метки
МПК: G01N 21/47
Метки: освещенности, полусферической, средней
Опубликовано: 30.09.1930
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-17795-sposob-izmereniya-srednejj-polusfericheskojj-osveshhennosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения средней полусферической освещенности</a>
Способ определения удельной поверхности тонкомолотых порошков средней дисперсности
Номер патента: 773493
Опубликовано: 23.10.1980
Авторы: Книппенберг, Корнеев, Соломатов
МПК: G01N 33/38
Метки: дисперсности, поверхности, порошков, средней, тонкомолотых, удельной
...партий.Удельная поверхность каждой партии определяется на приборе ПСХ(ГОСТ 310-60). Полученнье результаты подвергаются статистической обработке с целью получения "истинных" значений удельной поверхности наполнителя,см/г:2 5 - 495, 5, - 770, 5 - 1020, Я 4 1460, 5- 1610.Объемную массу () определяют в г/смЭ уплотнением под нагрузкой 400 кгс/см с выдержкой до условнойтстабилизации деформаций, равной величине сжатия 0,01 мм за 30 мин.Плотность ( ) определяют по ГОСТ 810-бО в г/см . Методом математической статистики устанавливают "истинные" значения объемной массы и плотности наполнителей по каждой партии.Расчет пустотности наполнителей производится по формуле- МП = --- ьНЗкспьериментальные и расчетные данные приведены в табл. 3.На Фиг. 1...
Устройство для сбора клеток с поверхности слизистых оболочек
Номер патента: 1074536
Опубликовано: 23.02.1984
Авторы: Арзуманян, Барышев, Кузьмин, Лебедев, Першин, Скрябин
МПК: A61M 1/00
Метки: клеток, оболочек, поверхности, сбора, слизистых
...участка слизистой оболочки.Цель изобретения - сбор клетокс локального участка.Эта цель достигается тем, что вустройство для сбора клеток с поверхности слизистых оболочек, содержащеедвухкамерный насос с трубками длянагнетания и отсасывания жидкости,емкость для сбора смыва и рукоятку,дополнительно снабжено сферическимсъемным наконечником с распылителем,а емкость для сбора смыва шарнирносоединена с трубкой для нагнетанияжидкости с возможностью ее поворотав поперечном направлении.На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, вид спереди; нафиг. 2 - то же, вид сверху,Устройство состоит иэ насоса 1,наконечника 2, мателлических трубок3 и 4, Трубка 3 одним концом соединена с полостью 5 насоса 1, другойее конец эапаян, имеет отверстия...
Способ и приспособление для нанесения предохранительного слоя на внутреннюю поверхность стеклянной оболочки газосветных ламп
Номер патента: 49091
Опубликовано: 31.08.1936
Автор: Соломин
МПК: C03C 17/00, C03C 17/02
Метки: внутреннюю, газосветных, ламп, нанесения, оболочки, поверхность, предохранительного, слоя, стеклянной
...внутрь стеклянной оболочки вносят сплав борного ангидрида с окисью натрия или лития и возгоняют при помощи электрического тока, нагревающего сопротивление, или вольтовой дуги; сконденсировавшиеся на стенках трубки пары затем оплавляют путем нагрева изделия.Для осуществления этого способа предложено следующее приспособление, изображенное на схематическом чертеже, где фиг. 1 представляет вертикальный разрез приспособления и фиг, 2 - вариант его.Представленное на фиг. 1 приспособление предназначается для покры тия внутренних поверхностей цилиндрических предметов. К нагревателю 2 подводится ток через охлаждаемые водой электроды 3. В углублении, сде49091 иг,1РУ.У 4 Отв. редактор П. В. Никитин Тии.,Сов. печ." М 6084. Зак,2581 в 4, й...
Устройство для электрофоретического формирования оболочек на поверхности выплавляемых или выжигаемых моделей
Номер патента: 604881
Опубликовано: 30.04.1978
Авторы: Болотаева, Нейфак, Попов
МПК: C25D 21/00
Метки: выжигаемых, выплавляемых, моделей, оболочек, поверхности, формирования, электрофоретического
...катода З,в видеэлектрически изолированных между собой повысоте секций, соединенных с регуляторами4 напряжения источника 5 питанияизмерителя 6 сопротивления токопроводящего слоя намодели блока 7 управления.Устройство работает следующим образом,После нанесения токопроводящето слоя намодельные блоки и обсыпания их зернистымматериалом последние с помощью подвесного конвейера (на чертеже не показан) подаются последовательно во времени в измеритель 6 сопротивления токопроводящето слоя,представляющий собой стабилизатор 8 тока иконтакты 9. При соприкосновении контактов9 с модельным блоком в измерительной пепипоявляется ток и падение напряжения на сопротивлении 10 поступает на ключевой элемент 11 блока 7 управления, который устанавливает...
Способ определения средней биомассы и плотности обрастания вертикальной и горизонтальной поверхности в воде, образующей продольное обтекание
Номер патента: 1817852
Опубликовано: 23.05.1993
Автор: Раилкин
МПК: A01K 61/00, G01N 33/18
Метки: биомассы, вертикальной, воде, горизонтальной, образующей, обрастания, обтекание, плотности, поверхности, продольное, средней
...измерения 15 риэонтальной поверхности границы указан- средней биомассы и плотности обрастания. ной области располагают на таком же На одной поверхности может быть выделе- расстоянии от ее заднего края,но от 3-5 до 20-30 таких площадок, равно- В пределах выделенной области выбимерно или случайно распределенных в раютнесколькопробныхплощадок равного пределах указанной области. 20 размера или одну трансекту (в соответствииСреднюю плотность и биомассу абра- с изложенными выше рекомендациями), стания поверхности определяют на транс- симметрично расположенные относительно екте в двух случаях; когда биомасса средней линии этой области. Пробныепло(плотность) обрастания невелика или когда . щадки располагаются в случайном порядке ширина...
Предыдущий патент: Способ избирательного управления силой звука при воспроизведении звуковых картин
Следующий патент: Спектроскоп
Случайный патент: Способ получения алкоксиметиленамидов 0, 0-диалкилтиои 0, 0 диалкилдитиофосфорилуксусной кислоты