Способ моделирования светового старения материала
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(51)5 6 01 И 17/О ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ(54) СЛОС ВОГО СТА (57) Изобр материалования све Целью из АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛ ЬСТВ(72) А,В,Милинчук, Ю,И.Дорофеев, Е.А.Барбашев и В.Е,Скурат 06 МОДЕЛИРОВАНИЯ СВЕТОРЕНИЯ МАТЕРИАЛАетение относится к испытаниям , а именно к способам моделиротового старения материала. бретения является ускорение Изобретение относится к испытаниям материалов, а именно к способам моделирования светового старения материалов,Целью изобретения является ускорение процесса моделирования и повышение точности.Способ осуществляется следующим образом.Испытуемый материал облучают в вакууме светом узкополосного спектра, фотохимически активного к данному материалу, при этом используют спектр с энергией кванта, превышающей энергию связей материала, Узкополосный спектр обеспечивает максимальное поглощение его испытуемым материалам, т.е, максимальную скорость светового старения его. Высокая фотохимическая активность такого света обусловлена высокой энергией кванта, т.е. энергией выше энергии связей испытуемого материала на глубину, равную длине волны света, После облучения таким потоком в течение заданного времени опрепроцесса моделирования и повышение точности, Испытуемый материал облучают в вакууме светом узкополосного спектра, фотохимически активного к данному материалу (длинной волны менее 200 нм), при этом используют спектр с энергией кванта (более 10 эВ), превышающей энергию связей материала. За счет максимального поглощения такого света материалом происходит ускоренное его старение. После облучения в течение заданного времени фиксируют механические свойства материала, по изменению которых судят о его старении. 1 з,п.ф-лы. деляют механическую прочность, по изменению которой судят о старении материала.Пример конечной реализации способа, Испытанию подвергался фторпласт, который облучался в вакууме светом со спектром излучения с длиной волны менее 200 нм при толщине фторплг "та, равной 20 мкм, в течение до 150 ч. Прочность после этого облучения и относительное удлинение при разрыве дали результат, соответствующий натуральному старению материала в космосе. Время облучения выбирали пропорционально интенсивности излучения Солнца и моделирующего свет источника, при этом энергия кванта источника при выбранной интенсивности более 10 эВ, а энергия связей во фторпластесоставляет 5-10 эВ,Формула изобретения 1, Способ моделирования светового старения материала, по которому материал облучают светом в вакууме и фиксируют измерение его свойств, по которому судят о1760435 Составитель Г, РотницкийТехред М.Моргентал Корректор Н. Бучок Редактор А. Кулакова Заказ 3183 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород. ул. Гагарина, 101 его старении, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью ускорения процесса моделирования и повышенной точности, облучение производят узкополосным спектром, фотохимически активным к данному материалу. 2. Способ по п 1, отл и ч а ю щи й с ятем, что используют спектр с энергией кванта, превышающей энергию связей материала.5
СмотретьЗаявка
3203291, 30.06.1988
НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "МОЛНИЯ"
МИЛИНЧУК АНДРЕЙ ВИКТОРОВИЧ, ДОРОФЕЕВ ЮРИЙ ИВАНОВИЧ, БАРБАШЕВ ЕВГЕНИЙ АНДРЕЕВИЧ, СКУРАТ ВЛАДИМИР ЕВГЕНЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 17/00
Метки: моделирования, светового, старения
Опубликовано: 07.09.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1760435-sposob-modelirovaniya-svetovogo-stareniya-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ моделирования светового старения материала</a>
Прибор для наблюдения и регистрации неизменных и меняющихся во времени спектральных характеристик источников и приемников лучистой энергии, а также спектров поглощения и отражения
Номер патента: 79220
Опубликовано: 01.01.1949
Метки: времени, источников, лучистой, меняющихся, наблюдения, неизменных, отражения, поглощения, прибор, приемников, регистрации, спектральных, спектров, также, характеристик, энергии
...тока на выходе усилителя, Один из вариантов подобной системы изобра. жен на чертеже, тле 13 - шлейф осциллографа, 14 - источник света, 15 - конденсор, 1 б - зеркальный ба рабан, 17 - экран. При синхронном и синфазном вращении барабана 1 б и диска 7 изображение источника света 14 будет перемещаться вдоль экрана пропорционально длинам волн спектра, а по вертикали в пропорционально силе тока на выходе усилителя, При достаточно быстром вращении диска 7 и барабана 1 б на экране будет видна некоторая кривая, характер изменения которой по спектру будет обусловливаться характером распределения энергии в спектре источника света 1, дисперсией призмы б и спектральной чувствительностью приемника лучистой энергии.Для выравнивания эпой кривой...
Способ измерения спектров линейных потерь энергии ионизирующих излучений
Номер патента: 270106
Опубликовано: 01.01.1970
Метки: излучений, ионизирующих, линейных, потерь, спектров, энергии
...газа, а тем самым и различными эффективностями для частиц с одинаковой первичной ионизацией, можно получить спектр первичных ионизаций, а из него в спек скоростей частиц, образующихся в тканеэквивалентных стенках счетчика. Для этого необходимо измерить в интересующем поле излуче. ния скорости счета каждого из упомянутых счетчиков, а затем, используя известные математические методы восстановления спектра (например, метод ортонормированных разложений), применяемых в спектрометрии нейтронов с помощью активационных детекторов, получить искомый спектр первичных ионизаций или скоростей заряженных частиц. Используя известную зависимость ЛПЭ заряженных частиц от их скорости для ткани, можно перейти к интересующему нас спектру ЛПЭ данного поля...
Устройство для моделирования связей производства
Номер патента: 375654
Опубликовано: 01.01.1973
Автор: Авторы
МПК: G06G 7/48
Метки: моделирования, производства, связей
...наименований,из бумаги таблички, на которых ответствующее наименование и прик стержням т и гибким шнурам 7 ентой.рование связей производства осуся следующим образом.а определяют элементы системы, щие в решении конкретной проблеают обозначения цветным фишкам, зрабатывают систему обозначений , которые прикрепляют на поле усозначений. После этого в отверстия те вставляют стержни с фишками размера у основания, соответствуюматриваемому элементу системы.с фишкзми расставляют постепене с определением (экспертами) их зей таким образом, чтобы было роследить после монтажа коммутаей. Выявленные связи коммутирумощью гибких шнуров, цвет их соцветом фишек, из которых они,выгибких шнурах прикрепляют бутаблички с надписями, нзлагающивязи, например:...
Устройство для моделирования распределения потоков энергии в экологических и биологических системах
Номер патента: 945874
Опубликовано: 23.07.1982
МПК: G06G 7/60
Метки: биологических, моделирования, потоков, распределения, системах, экологических, энергии
...первом входесилового Ьлока 3 появляется сигналЕ, определяющий величину первоговыходного потока энергии Е, поступающего на первый выход 5 устройства,В общем случае (при достаточно большом ЕЕ) сигнал Епропорционален управляющему сигналу первого приоритета г,: е ае -Й; яаг(е,-к О 9где 11(.1- первый интеграл от единичной Функции Хэвисайда,В том случае, если величинаК.Г(ГЦбольше величины входного потока энергии Е первый выход устройства Есовпадает с Е ,а второй и третийего выходы будут, следовательно, нулевыми,Аналогично Функционирует подсистема 2 устройства, Из величины первого "остатка"Я потока входной энергии в ее первом Ьлоке 17 вычитаниявычитается величина К 2 Г (г), ( гдеЯ.фг - управляющий сигнал второго приоритета - поступает на...
Способ неразрушающего определения величины и стабильности энергии электрического поля, накопленной диэлектриком при облучении его ионизирующем излучением
Номер патента: 600908
Опубликовано: 15.02.1980
МПК: G01R 33/00
Метки: величины, диэлектриком, излучением, ионизирующем, накопленной, неразрушающего, облучении, поля, стабильности, электрического, энергии
...материала диэлектрикадля повышения его проводимости,В там случае, когда некоторая цдоля излучения. проникает через образец или рассеивается им, величинуобщей поглощенной энергии определяюткак сумму энергий,. поглощенных в об"разце и в дополнительном абсорбере,окружающем образец,На чертеже изображена одна извозможных схем измерения.Процесс измерения состоит в следующем.Измеряют (илй теоретическим рассчитывают по известным параметрампучка и образца) величину тепловыделения Цдля случая, когда поле создается. Для этого, например, измеряют тепловыделение в начальный момент Я времени при перенесенной плотности заряда с не более 10 -10 Кл/см клк же измеряют тепловыделение на проводящем аналоге образца, полученном, например, легированием...
Предыдущий патент: Устройство для испытания металлов
Следующий патент: Способ определения 2, 4, 5-трихлорфеноксиуксусной кислоты
Случайный патент: Способ возделывания озимых злаковых и бобовых культур на зеленый корм