Способ изготовления пьезорезистора
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1753255
Автор: Кацнельсон
Текст
(я)5 6 01 В 7/1 Т 9 юл, М ный но-конс учно-исследовательукторский угольный СРонтактного льсон видет 0 01 В льство /18, 19 Датчики 85, с,24(54) СПОСОБ ИЗГЗИСТОРА олнены из эластич еметаллического) м свой резины. Через омерность нагруж дается чувствит относительно боль ла упругих накладо расположения и яния молекул в тако ного изоатериала,такие наения часельному шой жеск вследстмало подм материпрототипе выляционного (ннапримерлисткладки нерветично переэлементу из-зткости материвие плотноговижного состоале,является повыше- тора за счет улучнагружения при изобретения ва пьезорези номерност ие качест щения рав змерения Цель достигаетс ия пьез ют путем оев синт рива ют. дложенно езистора енки на из готов осуществл оболочку скоторой свПо пре му способу изготовл ежду слоями синтет порных плоскостя я пьезо и пл ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРАВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) Авторское сМ 327374 кл.Кацнельсонсопротивления,Изобретение относится к технике измерений неэлектрических величин электрическими методами.Преимущественная область применения - техника измерений, контроля, управления, сигнализации и регулирования неэлектрических величин, функционально зависящих от давления или деформации,Известен способ изготовления пьеэореэисторов, заключающийся в том, что чувствительный элемент с металлическими обкладками, выводными проводами и оболочкой упруго изолируют от опорных плоскостей двумя резиновыми накладками.Упругие накладки у прототипа, предназначенные для замедления релаксации напряжений в чувствительном элементе при измерении деформации, позволяют также улучшить равномерность нагружения чувствительного элемента, однако не обеспечивают полной равномерности. Это обусловлено тем, что упругие накладки в(57) Изобретение относится к технике измерений неэлектрических величин электрическими методами, Цель изобретения - повышение качества пьезорезистора эа счет улучшения равномерности нагружения при измерениях, Способ изготовления пьезорезистора заключается в том, что чувствительный элемент с металлическими обкладками, выводными проводами и оболочкой упругого изолируют от опорных плоскостей, при этом изоляцию осуществляют путем намотки с зазором на оболочку слоев синтетической пленки, края которой сваривают,я тем, что по способу орезистора изоляцию намотки с зазором на етической пленки, края1753255 Составитель А,КацнельсонРедактор Т,ЮрчиковаТехред М,Моргентал Корректор Е.Папп Заказ 2758 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул,Гагарина, 101 пьезорезистора образуют герметичные щелевые воздушные полости (подушечки). При нагружении такого пьезорезистора неравномерно распределенной нагрузкой в герметичных полостях создается определенное напряженное состояние воздуха. Из-за подвижности молекул воздушной упругой среды напряженное состояние в полостях передается чувствительному элементу уже в равномерно распределенйом виде. Это означает, что обьем воздуха в герметичных щелевых полостях, воспринимая неравномерно распределенную нагрузку, трансформирует ее в равномерно распределенную нагрузку на чувствитеьлный элемент, тем самым повышая качество измерений. При этом возможно совмещение оболочки со слоями синтетической пленки.Формула изобретения 5 Способ изготовления пьезорезистора,заключающийся в том, что чувствительный элемент с металлическими обкладками, выводными проводами и оболочкой упруго изолируют от опорных плоскостей, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышениякачества пьезорезистора за счет улучшения равномерности нагружения при измерениях. изоляцию осуществляют путем намотки с зазором на оболочку слоев синтетический 15 пленки, края которой сваривают.
СмотретьЗаявка
4721920, 04.05.1989
ПОДМОСКОВНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ПРОЕКТНО КОНСТРУКТОРСКИЙ УГОЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ
КАЦНЕЛЬСОН АРОН ШМЕРКОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/18
Метки: пьезорезистора
Опубликовано: 07.08.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1753255-sposob-izgotovleniya-pezorezistora.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления пьезорезистора</a>
Способ измерения толщины тонких пленок, нанесенных на подложку
Номер патента: 1280311
Опубликовано: 30.12.1986
Автор: Альперович
МПК: G01B 11/06
Метки: нанесенных, пленок, подложку, толщины, тонких
...Результатвзаимодействия лучей, отраженных отформула из обр ет енияверхней и нижней поверхностей пленки 4 О1, регистрируется устройством 6. При;измерении изменяют длину волны интерферирующих лучей и фиксируют зна,чения длин волн, соответствующиедвум соседним максимумам или минимуВыполнение пластинки клиновидной 35 дает возможность исключиь ияниена результат измерений засветки, вызываемой отражением от верхней поверхности. Способ измерения толщины тонкихпленок, нанесенных на подложку, за"ключающийся в том, что освещаютконтролируемую пленку пучком инфра 45 красного излучения, наблюдают интер" Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины пленок,прозрачных в инфракрасной...
Способ измерения толщины тонких пленок
Номер патента: 1668858
Опубликовано: 07.08.1991
Авторы: Батище, Кузьмук, Мостовников, Татур
МПК: G01B 11/06
Метки: пленок, толщины, тонких
...толщину пленки контролируемого объекта. 2 ил,ботающего в непрерывном режиме, например, Не-Ме лазер с длиной волны 632,8 нм, Отраженное излучение измерительного пучка с помощью линзы 1:регистрируется детектором Д, выходной сигнал которого пропорционален интенсивности отраженного излучения (фиг.2). Под действием импульсного излучения зондирующего пучка слой пленки проплавляется на некоторую глубину. При охлаждении расплавленный слой рекристаллизуется. По структуре рекристаллиэованный слой аналогичен слою до воздействия излучения зондирующего пучка за счет быстрого эпитаксиального роста от непроплавленного слоя пленки. По мере увеличения энергии зондирующего пучка глубина проплавления пленки всэрастает, и при некотором значении энергии,...
Способ измерения толщины тонких пленок, нанесенных на подложку
Номер патента: 1670385
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Рыков, Харионовский
МПК: G01B 11/06
Метки: нанесенных, пленок, подложку, толщины, тонких
...значенияющих соседнимэксционной картины втре,Из формулы (1) следует, что в спектрах прозрачности при длинах волнЯох = , пч = 2, 4, 6 (2) наблюдаются максимумы, а при длинах волн4 п 1 л =4 пб%=1,3,5гпнаблюдаются минимумы.Если показатель преломления пЯ) зависит от длины волны, то из интерференционных полос нельзя определить толщину пленки, однако, часто можно считать пЯ ) = сопзс, тогда на основании длин волн Ат, и А - 1, соответствующих соседним экстремумам в спектре прозрачности, может быть определено произведение пб из равенства 4 пб в Ьл = (гп - 1 Яг - 1, откуда Способ осуществляют следующим образом. На тонкую стеклянную подложку размерами 10"0,5"0,2 мм с одной стороны в качестве непрочного слоя наносят тонкую алюминиевую...
Устройство для измерения коэффициента фотоэлектрической связи между чувствительными элементами многоэлементного фотоприемника
Номер патента: 1589223
Опубликовано: 30.08.1990
Авторы: Долганин, Тулубенский
МПК: G01J 1/04, G01R 31/26
Метки: коэффициента, между, многоэлементного, связи, фотоприемника, фотоэлектрической, чувствительными, элементами
...элементов и расстоянием между центрамищелей (Фиг.2) в соответствии с соотношением Изменяя размер д, можно регулировать период интерференционной картины, что позволяет измерять коэффициент ФЭС у МФП 5 с различным периодом расположения элементов,Закон распределения облученности интерференционной картины в пределах чувствительных площадок МФП 5 близокк синусоидальному (с амплитудой, изменяющейся не более чем на 2 Х, и постоянной составляющей, практическисовпадающей по величине с амплитудой), если ширина щели Ь ( О, 12й/Х,где И - число измеряемых элементовМФП. В этом случае величина коэффициента засветки Кв пределах Н 1 0чувствительных элементов практически постоянна и близка к минимальновозможной для данной топологии чувствительных...
Способ измерения магнитного потока пленки
Номер патента: 360626
Опубликовано: 01.01.1972
Автор: Антонов
МПК: G01R 33/00
Метки: магнитного, пленки, потока
...25способ; на фиг. 2 - электрическая схема устройства для снятия петли гистерезиса пленки.Устройство, реализующее предлагаемыйспособ, содержит источник 1 постоянного магнитного поляв котором размещена измерительная индукционная катушка 2. В цепь изИванов актор Харьк. фил. пред, кПат мерительной индукционной катушки включенизмерительный прибор 8. Испытуемый образец 4, закрепленный в держателе 5, помещенв катушке 2.Способ измерения магнитного потока пленки заключается в следующем.Измерительную индукционную катушку 2помещают в постоянное магнитное поле, создаваемое источником 1, В измерительной катушке размещают испытуемый образец 4, 10Последний удаляют из катушки с помощьюдержателя 5 на расстоянии, где коэффициентпотокосцепления...
Предыдущий патент: Способ определения эксцентриситета ротора электрического генератора
Следующий патент: Емкостное устройство для измерения угловых перемещений
Случайный патент: Регулируемый режущий осевой инструмент