174732

Номер патента: 1073584

Опубликовано: 15.02.1984

Автор: Сальников

МПК: G01J 3/42

Метки: вакуумного, жидкостей, излучения, области, поглощения, регистрации, спектров, ультрафиолетового

...оптических характеристик- показателя поглощения н показателя преломления жидких образцов в области вакуумного ультрафиолетового излучения и может быть использовано вабсорбционной спектроскопии например при измерении оптических характеристик жидких сцинтилляторов вбиологии,Известны устройства для регистрации спектров поглощения жидкостей в области вакуумного ультрафиолетового излучения содержащие вакуумный монохроматор, регистрирующую систему и кювету Я .Измерение сильных полос поглощения осуществляется по методу слоевнеравномерной толщины, создаваемыхв кювете с образцом введением каплиисследуемой жидкости, зажимаемой между двумя сферическими пластинами с радиусом .кривизны не менее 50 м. Такая система позволяет получить по" степенное...

Номер патента: 1215349

Опубликовано: 10.06.2000

Авторы: Абраменко, Знаменский, Маркин, Одинцов, Ушомирский

МПК: C09B 23/08

Метки: 2-диоксаборин-4пентаметинциани, 2-дифтор-5, 6-(бензотиено2, активной, бис(2, генераторов, генерирующих, е)-1, излучение, качестве, квантовых, красной, области, оптических, соль, спектра, среды, триэтиламмониевая

Триэтиламмониевая соль бис/2,2-дифтор-5,6-(бензотиено/2,3-е/)-1,3,2-диоксаборин-4/пентаметинцианина формулыв качестве активной среды оптических квантовых генераторов, генерирующих излучение в красной области спектра.

Номер патента: 1278611

Опубликовано: 23.12.1986

Авторы: Бондаренко, Верховцева, Доронин

МПК: G01J 3/10

Метки: вакуумной, газов, излучения, инертных, области, спектров, ультрафиолетовой

...спектраинертного газа на которомтребуется увеличение интенПо истечении из сопла гаэ струи возбуждается электронным пучком с энергией 1 кзВ и плотностью тока " 0,2 А/смНа фиг. 2 в качестве примера для резонансных линий излучения сверхзвуковой струи аргона 1 104,8 и 106,7 нм (кривые 15 и 16), а такжемаксимума интенсивностипервого континуума" 1107,5 нм (кривая 17) представлены зависимости интенсивности 1, нормированной на плотность газа на входе в сопло 1 оот температурыогаза Т, при давлении Р =0,.98 Па,оа также средние размеры кластеров, присутствующих в струе при Ра =0,98 Па и разных температурах Т (кривая 18), Зти данные получены из 10 двумерных расчетов струйного течения газа с гомогенной конденсацией, выполненных по программе,...

Номер патента: 2004566

Опубликовано: 15.12.1993

Авторы: Попов, Суятин, Хайдуков

МПК: C09K 11/61, C09K 11/85

Метки: излучением, ик-области, люминофор, неорганический, спектра

...лампой МКГН, используя монохроматсры МДРи МДРс регистрацией с помощью ФЭУи ФЭУсо светофильтром КСили КС. Полученная информация регистрировалась и обрабатывала:ь с помощью микроЭВМ "Электроника ДЗ".В спектрах люминесценции неодима в кристаллах двойных фторидов калия-иттрия при у = О, х = 0,1 наблюдаются две интенсивные группы линий с максимумами 980 и 1046 нм, соответствующие Езус - 1 оп и44Гза -41(2 переходам. В кристаллах, активированных одновременно ионами неодима и иттербля, люминесценция ионов неодима тушится, наблюдаются интенсивное свечение иттербия с максимумом 968 нм,переход Ру 2- Е",(ц(фиг.1,спектр 2). Спектры возбуждения люминесценцли неодима и иттербия совпадают, что свидетельствует о передаче от ионов неодима к...

Номер патента: 1052953

Опубликовано: 07.11.1983

Авторы: Астахов, Борискин, Брюханов, Гуляев, Еременко, Лялько, Манегин, Тупик

МПК: G01N 21/70

Метки: анализа, деформации, излучения, металлов, разрушении, регистрации, спектров, сплавов

...относится к устройствам сПектрального анализа, а конкрет-,.нее к устройствам регистрации спекров электромагнитного излучения (ЭМИвозникающих вследствие деФормацииразрушения и релаксации остаточныхмеханических напряжений при механи 1ческих испытаниях металлов исплавов, и Может быть использованов металловедении при Физических исисследованиях свойств металлов и сплвов, изучение параметров деформациии разрушения, при изучении люминесценции поверхностных состояний металлов,: Известно устройство для спектрального анализа ЭМИ, содержащее спектрограф и фоторегистрирующую системуи позноляет регистрировать суммарныйспектр длительного и интенсивногопроцесса ЭМИ, не разделяя во временивсе стади излучения 1).Наиболее близким к...